FE-5000型鐵(tie)電測(ce)試(shi)儀是(shi)壹款(kuan)高量程款的(de)鐵電性(xing)能(neng)材(cai)料(liao)測試裝置，這款設(she)備(bei)可(ke)以適用(yong)於鐵(tie)電薄膜(mo)、鐵(tie)電體(ti)材(cai)料(liao)（既(ji)可(ke)塊(kuai)體材(cai)料(liao)）的(de)電性(xing)能(neng)測(ce)量，可測量鐵電薄膜(mo)電滯回(hui)線(xian)、可測出具(ju)有非對(dui)稱(cheng)電滯回(hui)線(xian)鐵電薄膜(mo)值(zhi)。可以進行電致(zhi)應(ying)變(bian)測(ce)試，可以蝴(hu)蝶曲線功(gong)能(neng)，設(she)備(bei)還可以擴展高溫電阻(zu)，高溫介電，電容-電壓(ya)曲線，TSC/TSDC等(deng)功(gong)能(neng)。本(ben)儀器(qi)是(shi)從(cong)事(shi)壓(ya)電材(cai)料(liao)及(ji)壓(ya)電元件(jian)生(sheng)產、應(ying)用(yong)與(yu)研(yan)究部門(men)的(de)重(zhong)要(yao)設(she)備(bei)之(zhi)壹，已經(jing)在(zai)各(ge)大(da)高校(xiao)和科(ke)研(yan)院所(suo)廣(guang)泛

TF-1000型 鐵(tie)電分(fen)析儀鐵電分(fen)析儀，來自德國(guo)的(de)技術，包(bao)括(kuo)眾多(duo)型號(hao)及(ji)選(xuan)配件(jian)，模塊化設(she)計的(de)aixACCT 鐵電分(fen)析儀具(ju)有優異的(de)擴展性(xing)。該(gai)系(xi)統(tong)可(ke)廣(guang)泛(fan)地(di)應(ying)用(yong)於如(ru)各(ge)種鐵電/壓(ya)電/熱(re)釋(shi)電薄膜(mo)、厚(hou)膜(mo)、體(ti)材(cai)料(liao)和電子陶(tao)瓷(ci)、鐵電傳(chuan)感(gan)器(qi)/執(zhi)行器(qi)/存(cun)儲器(qi)等(deng)領域(yu)的(de)研(yan)究。

HFO-100型鉿(ha)基(ji)鐵(tie)電薄膜(mo)測(ce)試儀是(shi)壹款(kuan)高量程款的(de)鐵電性(xing)能(neng)材(cai)料(liao)測試裝置，這款設(she)備(bei)可(ke)以適用(yong)於鐵(tie)電薄膜(mo)、鐵(tie)電體(ti)材(cai)料(liao)（既(ji)可(ke)塊(kuai)體材(cai)料(liao)）的(de)電性(xing)能(neng)測(ce)量，可測量鐵電薄膜(mo)電滯回(hui)線(xian)、可測出具(ju)有非對(dui)稱(cheng)電滯回(hui)線(xian)鐵電薄膜(mo)值(zhi)。

TDFE-5000A型是(shi)壹款(kuan)擴展靈(ling)活的(de)變溫鐵電測(ce)試(shi)系統(tong)，也(ye)是(shi)壹款(kuan)可替代德國(guo)aixACCT公(gong)司(si)生(sheng)產的(de)TF Analyzer 2000鐵電分(fen)析儀的(de)國(guo)產(chan)鐵(tie)電材(cai)料(liao)性(xing)能(neng)測(ce)試(shi)設(she)備(bei)，可(ke)廣(guang)泛地(di)應(ying)用(yong)於如(ru)各(ge)種鐵電/壓(ya)電/熱(re)釋(shi)電薄膜(mo)、厚(hou)膜(mo)、體(ti)材(cai)料(liao)和電子陶(tao)瓷(ci)、鐵電傳(chuan)感(gan)器(qi)/執(zhi)行器(qi)/存(cun)儲器(qi)等(deng)領域(yu)的(de)研(yan)究。

Radiant Multiferroic II鐵電材(cai)料(liao)測試儀無需改變測(ce)試(shi)樣(yang)品的(de)連(lian)接(jie)，即可(ke)實現(xian)滯回(hui)，脈(mai)沖(chong)，漏電，IV和(he)IC的(de)測試。配備(bei)額外的(de)模塊，可實現(xian)熱釋(shi)電性(xing)能(neng)、磁(ci)電特(te)性(xing)、晶體管特性(xing)、低溫性(xing)能(neng)、塊(kuai)體(ti)陶(tao)瓷(ci)和/或(huo)薄膜(mo)壓(ya)電性(xing)能(neng)的(de)測試。 Multiferroic II提(ti)供(gong)了(le)多(duo)種內(nei)部放大器(qi)，±100V/200V/500v內(nei)置驅動電壓(ya)的(de)可供(gong)選(xuan)擇。可(ke)外置擴展10KV的(de)高壓(ya)接(jie)口和(he)壹個放大器(qi)。系(xi)統(tong)包(bao)括(kuo)可視(shi)化(hua)數(shu)據采

TDJC-5000型電滯回(hui)線(xian)及(ji)高電壓(ya)介(jie)電擊(ji)穿強(qiang)度(du)測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)是(shi)壹款(kuan)高量程款的(de)鐵電性(xing)能(neng)材(cai)料(liao)測試裝置，這款設(she)備(bei)可(ke)以適用(yong)於鐵(tie)電薄膜(mo)、鐵(tie)電體(ti)材(cai)料(liao)（既(ji)可(ke)塊(kuai)體材(cai)料(liao)）的(de)電性(xing)能(neng)測(ce)量，可測量鐵電薄膜(mo)電滯回(hui)線(xian)、可測出具(ju)有非對(dui)稱(cheng)電滯回(hui)線(xian)鐵電薄膜(mo)值(zhi)。同時(shi)可(ke)以進行擊(ji)穿測試(shi)，可以進行電致(zhi)應(ying)變(bian)測(ce)試，可以蝴(hu)蝶曲線功(gong)能(neng)，設(she)備(bei)還可以擴展高溫電阻(zu)，高溫介電，電容-電壓(ya)曲線，TSC/TSDC等(deng)功(gong)能(neng)。本(ben)儀器(qi)是(shi)從(cong)事(shi)壓(ya)電材(cai)料(liao)及(ji)壓(ya)電元件(jian)生(sheng)產、