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2023-07-24
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DCD-100型儲能(neng)電介質充(chong)放電測試系統 關鍵詞(ci):儲(chu)能(neng),電介質,充(chong)放電 目(mu)前常規(gui)的方(fang)法是(shi)通過電滯(zhi)回線(xian)計(ji)算高(gao)壓下(xia)電介質的能(neng)量密度,測試時,樣品(pin)的(de)電荷是(shi)放回到高(gao)壓源上,而不(bu)是(shi)釋放到負(fu)載(zai)上(shang),通(tong)過電滯(zhi)回線(xian)測(ce)得(de)的儲能(neng)密度壹般會(hui)大於樣品(pin)實(shi)際(ji)釋放的能(neng)量密度,無法正確評估電介質材料的正(zheng)常(chang)放(fang)電性能(neng)。DCD-100儲能(neng)型電介質充(chong)放電測試系統專為(wei)研究儲(chu)能(neng)電介質材料快(kuai)速充(chong)放電性能(neng)而設(she)計(ji),適(shi)用陶瓷(ci)、薄(bo)膜(mo)材料,可(ke)進行(xing)