SCTS-2000系型雙電測(ce)四(si)探(tan)針(zhen)測(ce)試儀(yi)是運(yun)用直線或(huo)方形(xing)四(si)探(tan)針(zhen)雙位測(ce)-改進(jin)形(xing)範(fan)德堡測(ce)量方(fang)法(fa)測(ce)試電阻(zu)率(lv)/方(fang)阻(zu)的多用途綜合(he)測(ce)量儀(yi)器(qi)。該(gai)儀(yi)器(qi)設計符(fu)合(he)單晶矽(gui)物理(li)測(ce)試方(fang)法(fa)國家標(biao)準(zhun)並參(can)考美(mei)國 A.S.T.M 標準(zhun)。利(li)用電流探(tan)針(zhen)、電壓探(tan)針(zhen)的變(bian)換，進(jin)行兩(liang)次電測(ce)量，對(dui)數(shu)據(ju)進(jin)行雙電測(ce)分析(xi)，自(zi)動(dong)消除(chu)樣(yang)品幾(ji)何(he)尺(chi)寸(cun)、邊界效應(ying)以及探(tan)針(zhen)不(bu)等距和機械(xie)遊(you)移等因素對測(ce)量結(jie)果(guo)的影(ying)響，它(ta)與單電測(ce)直線或(huo)方形(xing)四(si)探(tan)針(zhen)相(xiang)比(bi)，大(da)大(da)提高正確(que)度，特

GDPT-900A型(xing)高低(di)溫(wen)壓電材料測(ce)試儀(yi)+ZJ-4型(xing)D33測(ce)試儀(yi)（靜(jing)壓電系數(shu)d33測(ce)量儀(yi)）是為測(ce)量壓電材料的d33常(chang)數(shu)而設(she)計(ji)的專(zhuan)用儀(yi)器(qi)，可(ke)以測(ce)量任(ren)意(yi)形(xing)狀的壓電陶(tao)瓷材料，也(ye)可(ke)以薄(bo)膜PVDF材料，在之(zhi)前的基(ji)礎上(shang)添(tian)加了薄(bo)膜拉(la)伸(shen)裝置(zhi)，可(ke)以更(geng)加(jia)直觀的了解(jie)薄(bo)膜在(zai)拉(la)伸(shen)條件下(xia)的D33數(shu)值。對(dui)試樣(yang)大(da)小(xiao)及形(xing)狀無(wu)特殊要(yao)求，圓片、圓環(huan)、圓管、方塊、長條(tiao)、柱形(xing)及半(ban)球殼等均(jun)可(ke)測(ce)量，增(zeng)加(jia)了對(dui)被(bei)測(ce)元(yuan)件(jian)的放(fang)電保(bao)護

PZT-HA800型壓電高壓放(fang)大(da)器(qi)是壹(yi)種數(shu)顯型(xing)高壓放(fang)大(da)器(qi)，電壓放(fang)大(da)倍數(shu)，電流，電壓等參(can)數(shu)直觀顯示。 儀(yi)器(qi)設計增加多重保(bao)護設(she)置(zhi)，使用更人性化(hua)，性能更(geng)優(you)。 壓電材料是壹(yi)種能夠將(jiang)機械(xie)能和(he)電能互相(xiang)轉換的陶(tao)瓷材料。壓電陶(tao)瓷除(chu)具(ju)有壓電性外(wai)，還具(ju)有介(jie)電性、彈性等, 已(yi)被廣(guang)泛應用於醫(yi)學成像(xiang)、聲傳感器(qi)、聲換能器(qi)、超聲馬達等。壓電陶(tao)瓷利(li)用其材料在機(ji)械(xie)應(ying)力(li)的作用下，引起內部(bu)正負電荷中心相(xiang)對(dui)位移而(er)發生極化(hua)，導(dao)致(zhi)材料兩(liang)端