描述(shu)：FE-5000型鐵(tie)電(dian)測(ce)試(shi)儀是壹(yi)款(kuan)高(gao)量程款(kuan)的(de)鐵(tie)電(dian)性(xing)能(neng)材(cai)料(liao)測(ce)試(shi)裝置，這款(kuan)設(she)備可(ke)以適(shi)用於(yu)鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜、鐵(tie)電(dian)體材(cai)料(liao)（既(ji)可(ke)塊體材(cai)料(liao)）的(de)電(dian)性(xing)能(neng)測(ce)量，可(ke)測(ce)量鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜電(dian)滯回線(xian)、可(ke)測(ce)出(chu)具有(you)非(fei)對稱電(dian)滯回線(xian)鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜值。可(ke)以進行(xing)電(dian)致應(ying)變(bian)測(ce)試(shi)，可(ke)以蝴蝶曲(qu)線(xian)功能(neng)，設備還可(ke)以擴展高溫(wen)電(dian)阻，高溫(wen)介電(dian)，電(dian)容(rong)-電(dian)壓(ya)曲(qu)線(xian)，TSC/TSDC等功能。本(ben)儀器(qi)是(shi)從事壓(ya)電(dian)材(cai)料(liao)及(ji)壓(ya)電(dian)元件(jian)生(sheng)產(chan)、應(ying)用與研(yan)究(jiu)部門(men)的(de)重(zhong)要設(she)備之(zhi)壹(yi)，已(yi)經在(zai)各(ge)大(da)高校和科研(yan)院(yuan)所廣泛(fan)

為(wei)了確保(bao)數(shu)據(ju)的(de)準確性(xing)，

承諾：我(wo)們支持貨(huo)到(dao)付(fu)款(kuan)

支持免費送樣測(ce)試(shi)

FE-5000型鐵(tie)電(dian)測(ce)試(shi)儀

關鍵詞(ci):電(dian)滯回線(xian) ,鐵(tie)電(dian)測(ce)試(shi)儀，電(dian)壓(ya)，頻(pin)率(lv) ，電(dian)致應(ying)變(bian)，蝴蝶曲(qu)線(xian)

壹(yi)、產(chan)品(pin)介紹(shao)：

   FE-5000型鐵(tie)電(dian)測(ce)試(shi)儀是(shi)壹(yi)款(kuan)高(gao)量程款(kuan)的(de)鐵(tie)電(dian)性(xing)能(neng)材(cai)料(liao)測(ce)試(shi)裝置，這款(kuan)設(she)備可(ke)以適(shi)用於(yu)鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜、鐵(tie)電(dian)體材(cai)料(liao)（既(ji)可(ke)塊體材(cai)料(liao)）的(de)電(dian)性(xing)能(neng)測(ce)量，可(ke)測(ce)量鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜電(dian)滯回線(xian)、可(ke)測(ce)出(chu)具有(you)非(fei)對稱電(dian)滯回線(xian)鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜值。可(ke)以進行(xing)電(dian)致應(ying)變(bian)測(ce)試(shi)，可(ke)以蝴蝶曲(qu)線(xian)功能(neng)，設備還可(ke)以擴展高溫(wen)電(dian)阻，高溫(wen)介電(dian)，電(dian)容(rong)-電(dian)壓(ya)曲(qu)線(xian)，TSC/TSDC等功能。本(ben)儀器(qi)是(shi)從事壓(ya)電(dian)材(cai)料(liao)及(ji)壓(ya)電(dian)元件(jian)生(sheng)產(chan)、應(ying)用與研(yan)究(jiu)部門(men)的(de)重(zhong)要設(she)備之(zhi)壹(yi)，已(yi)經在(zai)各(ge)大(da)高校和科研(yan)院(yuan)所廣泛(fan)使(shi)用。

二、主(zhu)要技術指標：

1、輸(shu)出(chu)信(xin)號電(dian)壓(ya)：：±10 kV可(ke)擴展電(dian)致應(ying)蝴蝶曲(qu)線(xian)功能(neng)

2、溫(wen)度；室(shi)溫(wen)-200℃，控溫(wen)精度：±1℃

3、控(kong)制(zhi)施(shi)加(jia)頻率(lv)0.01到1KHz（陶瓷、單(dan)晶，薄(bo)膜）PC端軟(ruan)件(jian)控(kong)制(zhi)自(zi)定義(yi)設(she)置；

4、控(kong)制(zhi)輸(shu)出(chu)電(dian)流0到±50mA連(lian)續(xu)可(ke)調(tiao)，PC端(duan)軟(ruan)件(jian)控(kong)制(zhi)自(zi)定義(yi)設(she)置。

5、動態(tai)電(dian)滯回線(xian)測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)範(fan)圍(wei) 0.01Hz-5kHz

7、最小脈(mai)寬(kuan)保(bao)持時(shi)間(jian)為(wei)20us;最小上升(sheng)沿(yan)時(shi)間(jian)為(wei)10us;

8、疲(pi)勞測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)500kHz（振幅10 Vpp，負載(zai)電(dian)容(rong)1 nF）；使(shi)用高壓(ya)放(fang)大(da)器(qi)後疲(pi)勞頻率(lv)5kHz;

9、測(ce)試(shi)速度：測(ce)量時(shi)間(jian)《5秒(miao)/樣品(pin)•溫(wen)度點(dian)    

10、樣品(pin)規格：塊(kuai)體材(cai)料(liao)尺寸(cun)：直徑(jing)2-100mm，厚(hou)度0.1-10mm

11、主(zhu)要功(gong)能(neng)： 動態(tai)電(dian)滯回線(xian)DHM，靜(jing)態(tai)電(dian)滯回線(xian)SHM，I-V特性(xing)，脈(mai)沖(chong)PUND，疲(pi)勞Fatigue，電(dian)擊穿強(qiang)度BDM，漏(lou)電(dian)流LM，電(dian)流-偏壓(ya)，保(bao)持(chi)力RM，

10. 電(dian)荷解析(xi)度不(bu)小於(yu)10 mC;

漏(lou)電(dian)流測(ce)量範(fan)圍(wei):1pA~ 20 mA，分(fen)辨(bian)率(lv)不(bu)低於(yu)0.1pA;

12、控(kong)制(zhi)方(fang)式：計算機實時(shi)控(kong)制(zhi)、實(shi)時(shi)顯(xian)示(shi)、實時(shi)數(shu)據(ju)計算、分(fen)析(xi)與存(cun)儲(chu)

13、軟(ruan)件(jian)采集(ji)：自(zi)動采集(ji)軟(ruan)件(jian)，分(fen)析(xi)可(ke)以兼容(rong)其(qi)他相(xiang)關主(zhu)流軟(ruan)件(jian)。

14、測(ce)試(shi)精(jing)度：±0.05%

15、內(nei)置電(dian)壓(ya)：±20V

可(ke)增(zeng)模(mo)塊：

印跡(ji)印痕(hen)IM

變(bian)溫(wen)測(ce)試(shi)THM

POM 模(mo)塊(kuai)實(shi)現(xian)極(ji)化(hua)測(ce)量功能

CVM模(mo)塊(kuai)實(shi)現(xian)小信(xin)號電(dian)容(rong)測(ce)試(shi)，獲(huo)得C-V曲(qu)線(xian)

PZM模(mo)塊(kuai)實(shi)現(xian)壓(ya)電(dian)特性(xing)測(ce)試(shi)

DPM模(mo)塊(kuai)測(ce)試(shi)介(jie)電(dian)性(xing)能(neng)

RTM模(mo)塊(kuai)測(ce)試(shi)電(dian)阻/電(dian)阻率(lv)性(xing)能(neng)

CCDM模(mo)塊(kuai)實(shi)現(xian)電(dian)容(rong)充放(fang)電(dian)測(ce)試(shi)。

                實(shi)測(ce)數據(ju)圖（電(dian)滯回線(xian)，漏電(dian)流等）

        FC-5000和美(mei)國TF-2000測(ce)試(shi)數(shu)據(ju)對比圖

FC-5000和美(mei)國TF-2000測(ce)試(shi)數(shu)據(ju)對比圖