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BWGP-2000型變(bian)溫光譜測試系(xi)統(tong)（高低溫光譜系(xi)統(tong)） BWGP-2000變(bian)溫光譜測試系(xi)統(tong)可(ke)以測試樣品在低溫和(he)高溫下光(guang)譜發(fa)射(she)的(de)變(bian)化情況(kuang)，該(gai)儀器配置(zhi)不同系(xi)能得(de)光(guang)譜可(ke)以用(yong)於(yu)透射、反(fan)射、吸(xi)收(shou)光譜是樣品譜與(yu)參(can)比譜的(de)比值(zhi)，會降低原(yuan)始(shi)光(guang)譜的(de)信(xin)噪比，因(yin)此需(xu)要光譜儀(yi)具(ju)有(you)較(jiao)高的(de)信(xin)噪比；同(tong)時為(wei)了獲取(qu)更多(duo)信(xin)息，需(xu)要光譜儀(yi)具(ju)有(you)寬(kuan)泛的(de)光譜範(fan)圍(wei)。而(er)熒(ying)光(guang)強(qiang)度較(jiao)弱(ruo)，屬(shu)於(yu)弱(ruo)光(guang)信(xin)號，為了(le)探測熒(ying)光(guang)光譜，壹(yi)般(ban)需(xu)要高靈敏度(du)的(de)光譜
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