HTIM-1001型(xing)高溫(wen)絕緣(yuan)電阻(zu)測(ce)試儀根(gen)據(ju)歐姆定律(lv)，被(bei)測(ce)電阻(zu)Rx等(deng)於施(shi)加(jia)電壓(ya)V除以通過(guo)的電(dian)流I。傳統(tong)的高(gao)阻(zu)計的工(gong)作(zuo)原(yuan)理(li)是測(ce)量(liang)電(dian)壓(ya)V固(gu)定(ding)，通(tong)過(guo)測(ce)量(liang)流過取(qu)樣電(dian)阻(zu)的電(dian)流I來(lai)得(de)到電阻值。從(cong)歐姆定律(lv)可(ke)以看出(chu)，由(you)於電(dian)流I是與(yu)電(dian)阻(zu)成反(fan)比(bi)，而(er)不(bu)是成(cheng)正(zheng)比(bi)，所(suo)以電阻(zu)的顯(xian)示值(zhi)是(shi)非線性(xing)的，即電阻無(wu)窮(qiong)大時(shi)，電(dian)流為(wei)零(ling)，即表頭的零(ling)位處是∞，其附近(jin)的刻度非常密(mi)，分(fen)辨(bian)率很低。整個刻度是(shi)非線性(xing)的。又(you)由(you)於測(ce)量(liang)不(bu)同(tong)的電(dian)阻(zu)時，其電(dian)壓(ya)V也

HTIM-1600超(chao)高溫(wen)絕緣(yuan)電阻(zu)測(ce)試儀采(cai)用(yong)使用(yong)方法(fa)多樣化(hua)，最大(da)2000V，最(zui)快(kuai)6.4ms的采(cai)集(ji)系(xi)統(tong)，實現(xian)了(le)是以往產品(pin)300倍的抗幹擾(rao)功能(neng)最(zui)快6.4ms的高(gao)速(su)測(ce)量(liang)，作(zuo)為(wei)皮(pi)安表使(shi)用(yong)進行(xing)低電容(rong)檢查(zha)，最高(gao)2×10^19 Ω顯(xian)示，最(zui)小0.1fA分(fen)辨(bian)率標配(pei)EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自(zi)行設(she)計的懸浮式(shi)電路，能(neng)不(bu)受測(ce)量(liang)環(huan)境影(ying)響進行(xing)穩定(ding)測(ce)量(liang)，並且運(yun)用(yong)在產線(xian)中(zhong)實現(xian)高速(su)測(ce)量(liang)。可(ke)實現(xian)絕緣(yuan)材料

HTRC-800型高(gao)溫導(dao)電材(cai)料電阻率測(ce)試系(xi)統(tong)是壹款用(yong)於測(ce)量(liang)材(cai)料電阻，電導(dao)率的專(zhuan)用(yong)設備(bei)，采用(yong)由(you)四(si)端(duan)測(ce)量(liang)方(fang)法(fa)測(ce)試電阻(zu)率系(xi)統(tong)與(yu)高(gao)溫(wen)試驗箱(xiang)為(wei)壹體的專(zhuan)用(yong)的高(gao)溫(wen)測(ce)試系(xi)統(tong)，滿足(zu)半導(dao)體及(ji)導(dao)體材(cai)料因溫度(du)變化(hua)對電(dian)阻(zu)值(zhi)變化(hua)的 測(ce)量(liang)要(yao)求(qiu)，通(tong)以在高(gao)溫 、真(zhen)空、氣(qi)氛(fen)的條(tiao)件(jian)下(xia)測(ce)量(liang)導(dao)電材(cai)料電阻和電(dian)阻(zu)率，可以分(fen)析被(bei)測(ce)樣的電(dian)阻(zu)和電(dian)阻率隨溫(wen)度(du)、 時間(jian)變化(hua)的曲(qu) 線． 目(mu)前主要針對圓(yuan)片、方塊、長條(tiao)等(deng)樣品(pin)進(jin)行測(ce)試，可以廣泛(fan)用(yong)於碳(tan)

PRTS-4A全自(zi)動掃(sao)描(miao)四(si)探(tan)針測(ce)試系(xi)統(tong)通過(guo)采用(yong)四(si)探(tan)針雙位組合測(ce)量(liang)技術，將範德堡(bao)測(ce)量(liang)方(fang)法(fa)推(tui)廣應(ying)用(yong)到直線(xian)四(si)探(tan)針上(shang)。利(li)用(yong)電流探針和電(dian)壓(ya)探針的組(zu)合變換，進(jin)行(xing)兩次電測(ce)量(liang)，其最(zui)後計算(suan)結(jie)果能(neng)自(zi)動消(xiao)除由(you)樣品(pin)幾何尺寸、邊(bian)界效(xiao)應(ying)以及(ji)探(tan)針不(bu)等(deng)距(ju)和(he)機(ji)械(xie)遊(you)移(yi)等(deng)因素所(suo)引起的，對(dui)測(ce)量(liang)結(jie)果的不(bu)利(li)影(ying)響。因而(er)在(zai)測(ce)試過程(cheng)中，在(zai)滿足(zu)基(ji)本條(tiao)件(jian)下(xia)可(ke)以不(bu)考慮(lv)探(tan)針間(jian)距(ju)、樣品(pin)尺寸及(ji)探(tan)針在樣品(pin)表(biao)面(mian)上(shang)的位置等(deng)因素。這種(zhong)動(dong)態(tai)地(di)對(dui)以上(shang)不(bu)利(li)因素的自(zi)動修(xiu)正(zheng)，

JKZC-YDZK50M型(xing)1000℃高溫(wen)精(jing)密(mi)阻(zu)抗分(fen)析儀是(shi)壹款兼(jian)容高(gao)溫(wen)功能(neng)的精(jing)密(mi)阻抗分(fen)析儀，是(shi)壹款能(neng)夠(gou)應(ying)用(yong)於*材(cai)料測(ce)試的多功能(neng)復(fu)合型精(jing)密阻抗分(fen)析儀，該(gai)阻(zu)抗分(fen)析儀可(ke)以兼容(rong)多種(zhong)高(gao)溫(wen)夾具，可以測(ce)試粉末(mo)，液(ye)體(ti)，塊體等(deng)多種(zhong)不(bu)同(tong)類型(xing)的樣品(pin)。常(chang)溫下(xia)測(ce)試數據(ju)豐(feng)富，高(gao)溫(wen)下(xia)測(ce)試數據(ju)穩(wen)定(ding)，無漂移(yi)。是(shi)壹款兼(jian)顧中(zhong)頻率的精(jing)密(mi)阻抗分(fen)析儀。在(zai)陶瓷(ci)及(ji)*材(cai)料生產中(zhong)和(he)科研(yan)院校廣(guang)泛(fan)使(shi)用(yong)。

JKZC-HRE01型(xing)絕緣(yuan)材料體電阻和(he)表(biao)面(mian)電阻超(chao)高(gao)阻測(ce)試儀是(shi)壹款即可測(ce)試絕緣(yuan)材料超高阻，又(you)可以測(ce)試微電(dian)流的精(jing)密(mi)測(ce)量(liang)裝置，用(yong)了(le)大規模(mo)集(ji)成電(dian)路,使(shi)儀(yi)器(qi)體積(ji)小、重(zhong)量(liang)輕、準確度高(gao)。能(neng)夠(gou)直接(jie)顯(xian)示電(dian)阻(zu)的高(gao)阻(zu)計和(he)電流值，量(liang)限(xian)從(cong)0.01×104Ω ～1×1018 Ω，電(dian)流測(ce)量(liang)範圍(wei)為(wei)2×10-4 ～1×10-16Ａ。機(ji)內(nei)測(ce)試電壓(ya)為(wei)10/50/100/250/500/1000V任(ren)意可(ke)調(tiao)。本儀器(qi)具有(you)精度(du)高、顯(xian)示迅(xun)速(su)、性(xing)