壓(ya)電(dian)材(cai)料(liao)測試(shi)儀（準靜態d33/d31（+d15）測(ce)量(liang)儀）是為測量(liang)壓(ya)電(dian)材(cai)料(liao)的d33常數(shu)而設計(ji)的儀器，它可用來測量(liang)具有大壓(ya)電(dian)常數的(de)壓(ya)電(dian)陶(tao)瓷(ci)，小壓(ya)電(dian)常數的(de)壓(ya)電(dian)單晶(jing)及(ji)壓(ya)電(dian)高分子材(cai)料(liao)。此外，也(ye)可測(ce)量(liang)任(ren)意取(qu)向(xiang)壓(ya)電(dian)單晶(jing)以(yi)及(ji)某些壓(ya)電(dian)器件的(de)等(deng)效壓(ya)電(dian)d33/d15常數，儀器測量範圍(wei)寬，分辨(bian)率細(xi)，可(ke)靠性高，操作簡單。

粉末材(cai)料(liao)電(dian)阻率測試(shi)儀是運用四端子法或四探(tan)針法(fa)測試(shi)粉末電(dian)阻率的測量儀器，該儀器采用通用的電(dian)流、電(dian)壓(ya)四(si)端(duan)子測量(liang)法(fa)（儀器電(dian)流源和(he)電(dian)壓(ya)表(biao)兩(liang)個(ge)單元(yuan)分別(bie)從(cong)獨立(li)回(hui)路(lu)連至電(dian)極同時(shi)和(he)樣品接觸(chu)），可以(yi)消(xiao)除電(dian)極與連接導(dao)線導(dao)通電(dian)阻產(chan)生(sheng)的(de)誤差(cha)，克(ke)服(fu)了(le)傳統(tong)的二端(duan)法(fa)測量粉末電(dian)阻率儀器的弊病，可(ke)以真實(shi)地、準確(que)地(di)測(ce)量出粉末樣品的電(dian)阻率，因此重(zhong)復(fu)性也(ye)好。

ZJ-3壓(ya)電(dian)材(cai)料(liao)測試(shi)儀（靜壓(ya)電(dian)系數d33測(ce)量(liang)儀）是為測量(liang)壓(ya)電(dian)材(cai)料(liao)的d33常數(shu)而設計(ji)的儀器，它可用來測量(liang)具有大壓(ya)電(dian)常數的(de)壓(ya)電(dian)陶(tao)瓷(ci)，小壓(ya)電(dian)常數的(de)壓(ya)電(dian)單晶(jing)及(ji)壓(ya)電(dian)高分子材(cai)料(liao)。

高溫介電(dian)溫譜(pu)測(ce)試(shi)儀主要應用於高溫下(xia)材(cai)料(liao)的介電(dian)性能(neng)測試(shi)與分析(xi)，包(bao)括(kuo)介電(dian)常數、介電(dian)損耗(hao)、電(dian)容等參(can)數(shu)，同時(shi)測(ce)試(shi)出測試(shi)材(cai)料(liao)的其他(ta)阻抗(kang)參(can)數(shu)，廣泛(fan)應用於陶(tao)瓷(ci)材(cai)料(liao)、半(ban)導(dao)體器件及(ji)功(gong)能(neng)薄(bo)膜(mo)材(cai)料(liao)等研究 。

JKZC-JD01高頻(pin)絕緣(yuan)材(cai)料(liao)介電(dian)常數介質損(sun)耗(hao)測(ce)試(shi)系統(tong)由(you)測試(shi)裝置（夾(jia)具）、型(xing)高頻(pin)主機(ji)、數據(ju)采集和tanδ自動測量控件(jian)及(ji)校(xiao)準電(dian)感器組(zu)成(cheng)。依據(ju)國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美(mei)標ASTM D150以及國際電(dian)工委(wei)員會(hui)IEC60250的規(gui)定設計制作(zuo)。系(xi)統(tong)提(ti)供(gong)了(le)絕(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao)的高頻(pin)介質損(sun)耗(hao)角(jiao)正切(qie)值(zhi)(tanδ)和(he)介電(dian)常數(ε)自動測量的解(jie)決(jue)方(fang)案(an)。本儀器中(zhong)測(ce)試(shi)裝置是由(you)平板(ban)電(dian)容器組成(cheng)，平

HTIM-1001型(xing)高溫絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻測試(shi)儀根據(ju)歐姆定律，被測(ce)電(dian)阻Rx等於施(shi)加電(dian)壓(ya)V除(chu)以(yi)通過的(de)電(dian)流I。傳統(tong)的高阻計的工作原(yuan)理(li)是測量電(dian)壓(ya)V固(gu)定，通過測(ce)量(liang)流過取(qu)樣電(dian)阻的電(dian)流I來得(de)到(dao)電(dian)阻值。從(cong)歐(ou)姆定律可以看(kan)出，由(you)於電(dian)流I是與電(dian)阻成(cheng)反比(bi)，而(er)不(bu)是成(cheng)正比(bi)，所(suo)以電(dian)阻的顯示(shi)值是非線性的(de)，即電(dian)阻無窮大時(shi)，電(dian)流為零，即表(biao)頭(tou)的(de)零位處是∞，其附近(jin)的(de)刻(ke)度(du)非常(chang)密，分辨(bian)率很(hen)低(di)。整(zheng)個(ge)刻(ke)度(du)是非線性的(de)。又由(you)於測量不(bu)同的(de)電(dian)阻時(shi)，其(qi)電(dian)壓(ya)V也(ye)