ZJ-3型導電凝(ning)膠(jiao)D33系(xi)數儀是(shi)壹款專(zhuan)用於各(ge)種材料(liao)壓(ya)電系(xi)數測試(shi)，包(bao)括陶瓷(ci)材料(liao)，PVDF薄膜材料(liao)，導(dao)電凝(ning)膠(jiao)，醫學(xue)先(xian)進(jin)材料(liao)等，配(pei)置(zhi)了(le)專(zhuan)用夾具(ju)，可(ke)以測(ce)量(liang)動(dong)態條件下(xia)的導(dao)電凝(ning)膠(jiao)D33系(xi)數儀，也可(ke)以測(ce)量(liang)在壓(ya)力條件下(xia)的電阻數值(zhi)，是(shi)研究生(sheng)物(wu)醫學(xue)材料(liao)的重(zhong)要(yao)設(she)備(bei) 。

JKZC-YDZK03B型壓電介電阻抗分(fen)析儀(yi)是(shi)壹款可(ke)以跟(gen)PC鏈(lian)接(jie)測試(shi)功(gong)能(neng)的壓(ya)電介電阻抗分(fen)析儀(yi)，內(nei)置(zhi)±12 V，±24V直(zhi)流電壓，可(ke)以量(liang)測(ce)壓電/超聲器(qi)件(jian)之(zhi)導納(na)圓(yuan)繪圖，電容/半(ban)導體(ti)材料(liao)/變(bian)容二(er)級(ji)管(guan)量(liang)測DC偏(pian)壓(ya)特(te)性(xing)(C-V 曲(qu)線(xian))，高分(fen)子材料(liao)/介質材料(liao)/電化學(xue)阻抗測(ce)量介電常數(shu)εr，采(cai)用自動(dong)平衡技術(shu)，測試(shi)數(shu)據(ju)可(ke)靠(kao)，滿足(zu)目(mu)前(qian)試驗(yan)測試要(yao)求(qiu)，解決了(le)目(mu)前(qian)測試(shi)壓電D33系(xi)數，又要(yao)測(ce)試壓(ya)電阻抗的系(xi)列問題，為材料(liao)研究測

ZJ-4BN型壓電壓電薄膜D31測試(shi)儀（靜(jing)壓電系(xi)數d33測量(liang)儀）是(shi)為測量(liang)壓電材料(liao)的d33,D15塊(kuai)體，D15圓(yuan)管(guan)，D31薄膜系(xi)數常數(shu)而設(she)計的專(zhuan)用儀器(qi)，它(ta)可(ke)用來測(ce)量(liang)具(ju)有大壓(ya)電常數(shu)的壓(ya)電陶瓷(ci)，小(xiao)壓(ya)電常數(shu)的壓(ya)電單晶及(ji)壓(ya)電高分(fen)子材料(liao)。特(te)別(bie)是(shi)薄膜D31系(xi)數采(cai)用拉伸(shen)懸(xuan)梁(liang)臂(bi)法(fa)進(jin)行壓電常數(shu)測試(shi)，是(shi)壹種(zhong)新的測(ce)試(shi)方(fang)法(fa)，對於研究壓電材料(liao)和(he)壓(ya)電PVDF薄膜有著重(zhong)要(yao)意義(yi)，在材料(liao)生(sheng)產和(he)薄膜研究中有這要(yao)意義(yi)。 二(er)、主要(yao)應用領

YDZ-01壓電材料(liao)電阻率測(ce)試儀（常(chang)溫(wen)）儀器適用於工(gong)礦(kuang)企(qi)業(ye)、科(ke)研院(yuan)壓電材料(liao)及(ji)絕緣材料(liao)電阻測量(liang)。也可(ke)用於微(wei)弱(ruo)電流測量如(ru)光電效應和(he)器(qi)件(jian)暗(an)電流測量。該儀器采(cai)用環(huan)形三電極(ji)，適用於壹(yi)般(ban)片(pian)狀、薄膜狀樣(yang)品，可(ke)以測(ce)試(shi)壓電陶瓷(ci)材料(liao)和(he)薄膜材料(liao)的電阻和(he)電阻率，是(shi)研究材料(liao)的基(ji)礎設(she)備(bei)。