高溫介(jie)電溫譜(pu)測試儀主要應(ying)用於(yu)高溫下(xia)材料的(de)介(jie)電性能測試與分析(xi)，包(bao)括(kuo)介(jie)電常數(shu)、介(jie)電損耗(hao)、電容等(deng)參(can)數(shu)，同(tong)時(shi)測試出測試材料的(de)其(qi)他阻抗參(can)數(shu)，廣(guang)泛應(ying)用於(yu)陶瓷材料、半(ban)導(dao)體(ti)器(qi)件及(ji)功(gong)能(neng)薄膜材料等(deng)研(yan)究 。

GWGY-1000W型高溫高壓介(jie)電常數(shu)測試儀是壹款區(qu)別目(mu)前(qian)市場(chang)上高溫介(jie)電測試儀，也是研究材料介(jie)電性能的(de)新領域(yu)，采用全(quan)新技術(shu)，打(da)破(po)了之前(qian)的只能在(zai)變(bian)溫下(xia)的(de)頻率(lv)下(xia)測試，該設備能(neng)夠在對(dui)樣(yang)品進行高溫測試的同(tong)時，給樣(yang)品加高壓，最高可達5000V直流(liu)高壓，更加直觀的看到樣(yang)品在外(wai)加高壓的條件下(xia)，內(nei)部(bu)相(xiang)關的性質變(bian)化，很多關於薄膜和(he)壓電陶瓷樣(yang)品，是在外(wai)加高壓條件下，性能會(hui)出現比(bi)較大(da)的

主要功(gong)能(neng)： 材料介(jie)電常數(shu)測試儀 半(ban)導(dao)體(ti)材料的(de)介(jie)電常數(shu)、導(dao)電率(lv)和(he)C-V特性液(ye)晶(jing)材料:液(ye)晶(jing)單(dan)元的介(jie)電常數(shu)、彈(dan)性常數(shu)等(deng)C-V特(te)性 性能特(te)點(dian): 溫度(du)：RT-1000℃ 測試頻率(lv): 20Hz- 21MHz, 分(fen)辨率(lv):最(zui)高0.1mHz 基本精(jing)度(du): 0.05% 測試速度:最(zui)快(kuai)5. 6ms/次 測試原理:自動平衡電橋 高穩定性和(he)壹致性:高達15個(ge)測試量(liang)程(cheng)配置(zhi) 高分(fen)辨: 7英(ying)寸, 800X600

隨著固(gu)體(ti)粉(fen)末在(zai)化工(gong)、航天、醫藥(yao)、食(shi)品、塑料制(zhi)品等(deng)行業(ye)越來(lai)越廣(guang)泛的應(ying)用，必然需要更多、更精確(que)的以工(gong)藝過程(cheng)控(kong)制(zhi)、產品混(hun)合均(jun)勻(yun)度測試、物(wu)料含(han)量(liang)檢測等(deng)為(wei)目(mu)的(de)的儀(yi)器(qi)，以期(qi)優化(hua)產品的過程(cheng)控(kong)制(zhi)、提(ti)高產(chan)品質量(liang)，FWJD-600型(xing)粉末高溫介(jie)電溫譜(pu)儀(yi)是壹款新(xin)型(xing)的高溫介(jie)電溫譜(pu)測試系(xi)統(tong)，

GWJDN-800型四通道高低(di)溫介(jie)電測量(liang)系(xi)統(tong)應(ying)用於(yu)高溫環(huan)境(jing)下材料、器(qi)件的(de)導電、介(jie)電特性測量(liang)與分析(xi)，通過配(pei)置(zhi)不同(tong)的(de)測試設備(bei)，完成(cheng)不(bu)同參(can)數(shu)的(de)測試。是壹代高溫介(jie)電測試系(xi)統(tong)，性能*，*科(ke)研(yan)級(ji)別的(de)精(jing)密(mi)測試裝(zhuang)置(zhi)，是國家(jia)科(ke)研(yan)院(yuan)所(suo)和(he)高等(deng)學府的設備(bei)。

HTRC-600型高溫導(dao)電材料電阻率(lv)測試系(xi)統(tong)是壹款專(zhuan)門(men)用於測量(liang)材料電阻，電導率(lv)的(de)設備，采用由四端(duan)測量(liang)方法(fa)測試電阻率(lv)系(xi)統(tong)與高溫試驗箱(xiang)為(wei)壹體(ti)的(de)的高溫測試系(xi)統(tong)，滿足(zu)半(ban)導(dao)體(ti)及(ji)導體(ti)材料因(yin)溫度(du)變(bian)化對(dui)電阻值變(bian)化的(de) 測量(liang)要(yao)求，通以在(zai)高溫 、真空(kong)、氣(qi)氛的條件(jian)下測量(liang)導(dao)電材料電阻和(he)電阻率(lv)，可以分析被測樣(yang)的(de)電阻和(he)電阻率(lv)隨溫度(du)、 時(shi)間變(bian)化的(de)曲(qu) 線(xian)． 目(mu)前(qian)主要針(zhen)對(dui)圓(yuan)片(pian)、方塊、長(chang)條等(deng)樣(yang)品進行測試，可以廣(guang)泛用於碳(tan)系(xi)導(dao)電