描(miao)述：TF-1000型(xing) 鐵電分(fen)析(xi)儀鐵電分(fen)析(xi)儀，來(lai)自德國的(de)技(ji)術，包(bao)括眾(zhong)多(duo)型(xing)號及(ji)選配件(jian)，模(mo)塊(kuai)化設(she)計(ji)的(de)aixACCT 鐵電分(fen)析(xi)儀具(ju)有優(you)異(yi)的(de)擴(kuo)展性。該系(xi)統可廣泛(fan)地應(ying)用於(yu)如各種(zhong)鐵電/壓(ya)電(dian)/熱釋電薄(bo)膜、厚(hou)膜、體材(cai)料(liao)和電(dian)子陶(tao)瓷(ci)、鐵電傳感(gan)器/執(zhi)行器/存儲(chu)器等(deng)領(ling)域的(de)研(yan)究。

鐵電分(fen)析(xi)儀 TF Analyzer 1000

TF-1000型(xing) 鐵電分(fen)析(xi)儀鐵電分(fen)析(xi)儀，來(lai)自德國的(de)技(ji)術，包(bao)括眾(zhong)多(duo)型(xing)號及(ji)選配件(jian)，模(mo)塊(kuai)化設(she)計(ji)的(de)aixACCT 鐵電分(fen)析(xi)儀具(ju)有優(you)異(yi)的(de)擴(kuo)展性。該系(xi)統可廣泛(fan)地應(ying)用於(yu)如各種(zhong)鐵電/壓(ya)電(dian)/熱釋電薄(bo)膜、厚(hou)膜、體材(cai)料(liao)和電(dian)子陶(tao)瓷(ci)、鐵電傳感(gan)器/執(zhi)行器/存儲(chu)器等(deng)領(ling)域的(de)研(yan)究。

1、TF ANALYZER 1000緊(jin)湊(cou)型(xing)鐵電壓(ya)電(dian)分析儀

TF ANALYZER 1000是(shi)壹(yi)款緊(jin)湊(cou)型(xing)鐵電壓(ya)電(dian)分析儀，具(ju)備鐵電、壓(ya)電(dian)材料(liao)所有(you)基(ji)本(ben)特(te)性(xing)測試功(gong)能，可(ke)與(yu)激光幹涉(she)儀和SPM掃描(miao)探針顯(xian)微鏡(jing)等(deng)微(wei)位移傳感(gan)器聯用，適用於(yu)薄(bo)膜、厚(hou)膜和塊(kuai)狀(zhuang)陶(tao)瓷(ci)及(ji)鐵電器件(jian)等(deng)分(fen)析測試。

主要(yao)技(ji)術(shu)指(zhi)標：

電(dian)壓(ya)範(fan)圍(wei)：±12V標(biao)配 （可擴展到(dao) +/- 10kV）

測試頻(pin)率：0.01Hz～1000Hz

最(zui)大(da)疲勞(lao)測試頻(pin)率：50kHz

最(zui)小(xiao)脈(mai)沖寬度(du)：20μs

輸(shu)出電(dian)阻(zu)：50Ω

最(zui)大(da)電容(rong)：100nF

輸(shu)出電(dian)流(liu)：+/-50mA

電(dian)流(liu)放大(da)器：電流(liu)大(da)小(xiao)範圍(wei)：1nA~1A

功(gong)能可(ke)測試功(gong)能：

測試軟件(jian)aixPlorer基(ji)於(yu)Windows 7操作系(xi)統，操作極(ji)為便(bian)捷

測試功(gong)能：

  - 動(dong)態電滯回(hui)線 (Hysteresis)：測試頻(pin)率0.01Hz~1000Hz

  - 疲(pi)勞(lao) (Fatigue)：50KHz

  - 保(bao)持(chi)力 (Retention)

  - 印跡 (Imprint) 

  - 漏(lou)電流(liu)測試 (Leakage Current)

  - C(V) 曲(qu)線測試

  - 壓(ya)電(dian)性能測試 (蝴(hu)蝶(die)曲線、d33曲線)

  - 變(bian)溫性能測試 (Thermo Measurement)