CGJDN-1200型超(chao)高溫(wen)介(jie)電溫(wen)譜(pu)儀是壹(yi)款(kuan)提(ti)供超(chao)高溫(wen)環(huan)境(jing)的(de)高溫(wen)介(jie)電溫(wen)譜(pu)儀，該儀器(qi)采用紅外鍍(du)金(jin)聚焦爐(lu)或(huo)電加熱(re)技(ji)術(shu), 雙屏(ping)蔽高(gao)頻(pin)測試線纜、抗電網諧(xie)波模(mo)塊(kuai)，確保高(gao)頻(pin)弱(ruo)信號測量穩定性(xing). 支(zhi)持(chi)4個(ge)樣(yang)品同(tong)步(bu)測量，提(ti)升(sheng)效(xiao)率(lv), 可(ke)疊(die)加(jia)0–5000V直(zhi)流高(gao)壓(ya)，研究(jiu)材(cai)料(liao)在(zai)外電(dian)場(chang)下(xia)的性(xing)能變(bian)化(hua),是目前(qian)高校和研究(jiu)所研(yan)究(jiu)材(cai)料(liao)的(de)重(zhong)要設備(bei)。

GWJDN-0.1HZ型(xing)四(si)通(tong)道(dao)超(chao)低頻(pin)高(gao)溫介(jie)電測量系(xi)統應(ying)用於高溫環(huan)境(jing)下(xia)材料(liao)、器(qi)件的(de)導(dao)電、介(jie)電特性(xing)測量與(yu)分析(xi)，通(tong)過配(pei)置(zhi)不同(tong)的(de)測試設備(bei)，完成(cheng)不同(tong)參(can)數(shu)的測試。是(shi)壹(yi)款(kuan)超(chao)低頻(pin)高(gao)低溫(wen)四(si)通(tong)道(dao)介(jie)電測試系(xi)統(tong)，科(ke)研級別(bie)是(shi)國家(jia)科(ke)研院所(suo)和高等學府選(xuan)用設備(bei)。

高(gao)低溫介電(dian)測試系(xi)統(tong)用於高低溫(wen)環(huan)境(jing)下(xia)材料(liao)、器(qi)件的(de)介(jie)電性(xing)能測試與(yu)分析(xi)，可(ke)測試以下(xia)參(can)數(shu)隨溫(wen)度(du)(T)、頻率(lv)(f)、電(dian)平(ping)(V)、偏(pian)壓(ya)(Vi)的變(bian)化(hua)規律(lv)：電容(rong)(C)、電(dian)感(gan)(L)、電阻(R)、電(dian)抗(X)、阻抗(Z)、相(xiang)位角(Ø)、電導(dao)(B)、導(dao)納(na)(Y)、損耗(D)、品質(zhi)因數(shu)(Q)等參(can)數(shu)，同時計算獲(huo)得反(fan)應材料(liao)介(jie)電(dian)性(xing)能的(de)復介電(dian)常(chang)數(shu)和介電(dian)損耗參(can)數(shu)。系統操作簡(jian)單、方(fang)便(bian)，可(ke)靈(ling)活(huo)定(ding)制(zhi)測試項(xiang)目。測試材(cai)料(liao)的(de)介(jie)電頻譜(pu)、

高低(di)溫(wen)介電測量儀(yi)主(zhu)要應(ying)用於高低溫(wen)下(xia)材料(liao)的(de)介(jie)電性(xing)能測試與(yu)分析(xi)，包(bao)括介電(dian)常(chang)數(shu)、介電損耗、電容(rong)等參(can)數(shu)，同時測試出(chu)測試材(cai)料(liao)的(de)其(qi)他阻抗參(can)數(shu)，廣泛應用於陶瓷材(cai)料(liao)、半(ban)導(dao)體(ti)器(qi)件及(ji)功(gong)能薄(bo)膜材(cai)料(liao)等研究 。