TEGS-800型(xing)熱(re)電轉換(huan)效(xiao)率(lv)測(ce)試儀(yi)是(shi)壹種用於熱(re)電器件(jian)（TEGs）溫度相關(guan)轉換(huan)效(xiao)率(lv)評估的測(ce)量(liang)系統(tong)。該模(mo)塊(kuai)位於熱(re)板(ban)和(he)冷(leng)板(ban)之(zhi)間，其中熱(re)板(ban)連(lian)接(jie)到(dao)可調節加熱(re)器(qi)，冷板(ban)連(lian)接(jie)到(dao)恒溫控制的液冷(leng)散熱(re)器(qi)。通過集成(cheng)的電機(ji)自動(dong)調節接觸壓(ya)力(li)（根(gen)據溫度調整壓(ya)力(li)穩(wen)定(ding)性(xing)）。

LSR-3型(xing)賽(sai)貝(bei)克系數測(ce)試儀(yi)可(ke)以(yi)同(tong)時測(ce)量(liang)塞(sai)貝克系數和(he)電阻(zu)（電阻(zu)率(lv)） 可以(yi)測(ce)量(liang)圓柱(zhu)形(xing)或(huo)棱(leng)柱(zhu)形(xing)的樣品，長度6——23毫(hao)米 利(li)用測(ce)量(liang)適(shi)配器(qi)可以(yi)測(ce)量(liang)線(xian)狀和(he)薄片(pian)狀樣品 通過三種可更換(huan)的爐 熱(re)力(li)發電是(shi)壹種通過熱(re)電效(xiao)應(ying)材(cai)料(liao)產(chan)生電力的方法，由J.T.Seebeck德國物(wu)理學家(jia)在1821年(nian)發(fa)現(xian)的。面對(dui)當(dang)前的全球(qiu)由(you)二氧(yang)化碳(tan)排(pai)放以(yi)及(ji)化學(xue)材(cai)料(liao)消(xiao)耗(hao)而(er)導致的溫室效(xiao)應(ying)，熱(re)電轉變器件(jian)引起(qi)了(le)註意(yi)，因為(wei)可(ke)以(yi)有(you)效(xiao)利(li)用(yong)余

BKZEM-3電阻(zu)率(lv)/溫差電動勢測(ce)試系統(tong) 關(guan)鍵詞：塞(sai)貝克系數，半導體，熱(re)電材(cai)料(liao) BKZEM-3電阻(zu)率(lv)/溫差電動勢測(ce)試系統(tong)可用(yong)於(yu)對(dui)於(yu)半導體，陶(tao)瓷(ci)材(cai)料(liao)，金(jin)屬(shu)材(cai)料(liao)等(deng)多種材(cai)料(liao)的熱(re)電性(xing)能(neng)分析。 熱(re)力(li)發電是(shi)壹種通過熱(re)電效(xiao)應(ying)材(cai)料(liao)產(chan)生電力的方法，由J.T.Seebeck德國物(wu)理學家(jia)在1821年(nian)發(fa)現(xian)的。面對(dui)當(dang)前的全球(qiu)由(you)二氧(yang)化碳(tan)排(pai)放以(yi)及(ji)化學(xue)材(cai)料(liao)消(xiao)耗(hao)而(er)導致的溫室效(xiao)應(ying)，熱(re)電轉變器件(jian)引起(qi)了(le)註意(yi)，因為(wei)可(ke)以(yi)有(you)效(xiao)利(li)用(yong)余

熱(re)電材(cai)料(liao)性(xing)能(neng)測(ce)試儀(yi)由(you)高(gao)精度，高靈(ling)敏(min)度溫度可控(kong)的電阻(zu)爐和控制(zhi)溫度用的微型(xing)加熱(re)源(yuan)構成。通過PID程序(xu)控溫，采用四(si)點法的方式(shi)測(ce)定(ding)半導體材(cai)料(liao)及熱(re)電材(cai)料(liao)的Seebeck系數及(ji)電導率(lv)、電阻(zu)率(lv)。試樣與引(yin)線(xian)的接觸(chu)是(shi)否(fou)正(zheng)常V-1裝置可以(yi)自動(dong)檢(jian)出。