鐵(tie)電(dian)材(cai)料包含(han)壹(yi)個(ge)或(huo)多(duo)個(ge)極(ji)軸(zhou)，沿著(zhe)這些極軸(zhou)可(ke)以(yi)產(chan)生低於材(cai)料居(ju)裏(li)溫(wen)度(du)的自(zi)發(fa)極化。施加(jia)足夠(gou)強的電(dian)場可(ke)以(yi)迫(po)使極(ji)化方向(xiang)改變。鐵電(dian)體中陽(yang)離(li)子(zi)和陰(yin)離(li)子(zi)的(de)排(pai)列在(zai)每(mei)個(ge)單(dan)元(yuan)內產(chan)生偶(ou)極矩(ju)，並(bing)且可(ke)以(yi)通過材(cai)料的表(biao)面電(dian)流測量(liang)產(chan)生的極化。鐵電(dian)體的壹(yi)個(ge)顯著(zhu)特(te)征是極(ji)化與電(dian)場曲線(xian)中的(de)滯後(hou)行(xing)為。如(ru)圖1所示(shi)，即使在(zai)電(dian)場關(guan)閉(bi)後(hou)也(ye)存(cun)在(zai)凈(jing)自(zi)發(fa)極化。高於居(ju)裏(li)溫(wen)度(du)被(bei)稱(cheng)為順(shun)電(dian)相，其(qi)中材(cai)料具(ju)有更(geng)高的對(dui)稱(cheng)性，並(bing)且表(biao)現(xian)得(de)像普(pu)通電(dian)介質(zhi)壹(yi)樣，沒(mei)有滯後(hou)。

FE-5000A擴(kuo)展(zhan)型鐵電(dian)性能測試(shi)儀是(shi)壹(yi)款(kuan)高量(liang)程(cheng)款(kuan)的(de)鐵(tie)電(dian)性能材(cai)料測試裝置(zhi)，這款設備(bei)可以(yi)適(shi)用(yong)於鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)、鐵電(dian)體材(cai)料（既可塊體材(cai)料）的電(dian)性能測量(liang)，可(ke)測(ce)量(liang)鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)電(dian)滯回(hui)線、可(ke)測出具(ju)有非對(dui)稱(cheng)電(dian)滯回(hui)線鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)值。設(she)備(bei)可以(yi)擴(kuo)展(zhan)高溫電(dian)阻，高溫介(jie)電(dian)，電(dian)容(rong)-電(dian)壓曲線(xian)，TSC/TSDC等功能。 二(er)、主(zhu)要(yao)技術指標： 1.輸出信(xin)號電(dian)壓：：±5000V（可(ke)擴展(zhan)）。 2、控(kong)制(zhi)施(shi)加(jia)頻率0.2到(dao)1000Hz（陶(tao)瓷、單晶，

FE-2000A型鐵電(dian)測試(shi)儀是(shi)壹(yi)款(kuan)可以(yi)兼(jian)容(rong)多(duo)種功能的鐵(tie)電(dian)綜合(he)測試(shi)系統，即用(yong)於鐵(tie)電(dian)體的鐵(tie)電(dian)性能測量(liang)、可(ke)用(yong)於鐵(tie)電(dian)體的科(ke)學研究(jiu)及(ji)近代物理(li)實(shi)驗(yan)中的(de)固(gu)體物理(li)實(shi)驗(yan)以(yi)及(ji)工業化生產(chan)鐵電(dian)存(cun)儲(chu)器(qi)的(de)鐵(tie)電(dian)性能檢測(ce)中。本(ben)測試(shi)系統主要(yao)包括(kuo)可編(bian)程(cheng)信(xin)號源、微電(dian)流放大(da)器(qi)、積(ji)分(fen)器(qi)、放大(da)倍數(shu)可編(bian)程(cheng)放大(da)器(qi)、模/數(shu)轉換(huan)器(qi)數(shu)/模轉換(huan)器(qi)、微(wei)機(ji)接口(kou)部分、微機(ji)和應(ying)用(yong)軟件(jian)等部分組成(cheng)。 FE -2000鐵電(dian)材(cai)料參數(shu)測試(shi)儀主(zhu)要(yao)由正弦(xian)波(bo)、三(san)角(jiao)波(bo)、間(jian)歇(xie)

FE-2000A型鐵電(dian)測試(shi)儀是(shi)壹(yi)款(kuan)可以(yi)兼(jian)容(rong)多(duo)種功能的鐵(tie)電(dian)綜合(he)測試(shi)系統，即用(yong)於鐵(tie)電(dian)體的鐵(tie)電(dian)性能測量(liang)、可(ke)用(yong)於鐵(tie)電(dian)體的科(ke)學研究(jiu)及(ji)近代物理(li)實(shi)驗(yan)中的(de)固(gu)體物理(li)實(shi)驗(yan)以(yi)及(ji)工業化生產(chan)鐵電(dian)存(cun)儲(chu)器(qi)的(de)鐵(tie)電(dian)性能檢測(ce)中。本(ben)測試(shi)系統主要(yao)包括(kuo)可編(bian)程(cheng)信(xin)號源、微電(dian)流放大(da)器(qi)、積(ji)分(fen)器(qi)、放大(da)倍數(shu)可編(bian)程(cheng)放大(da)器(qi)、模/數(shu)轉換(huan)器(qi)數(shu)/模轉換(huan)器(qi)、微(wei)機(ji)接口(kou)部分、微機(ji)和應(ying)用(yong)軟件(jian)等部分組成(cheng)。 Huace FE -2000鐵電(dian)材(cai)料參數(shu)測試(shi)儀主(zhu)要(yao)由正弦(xian)波(bo)、三(san)

FTTD-5000B型變溫鐵(tie)電(dian)測試(shi)儀是(shi)壹(yi)款(kuan)擴展(zhan)靈活的變溫鐵(tie)電(dian)測試(shi)系統，也(ye)是壹(yi)款(kuan)可替(ti)代德國(guo)aixACCT公司生產(chan)的TF Analyzer 2000鐵(tie)電(dian)分析(xi)儀的(de)國產(chan)鐵電(dian)材(cai)料性能測試(shi)設(she)備(bei)，可廣泛地(di)應(ying)用(yong)於如(ru)各(ge)種(zhong)鐵(tie)電(dian)/壓電(dian)/熱(re)釋電(dian)薄膜(mo)、厚(hou)膜、體材(cai)料和電(dian)子(zi)陶(tao)瓷、鐵電(dian)傳(chuan)感器(qi)/執(zhi)行(xing)器(qi)/存(cun)儲(chu)器(qi)等領域的研究(jiu)。

壹(yi)、產(chan)品介紹： FE-5000C擴展(zhan)型鐵電(dian)性能測試(shi)儀是(shi)壹(yi)款(kuan)高量(liang)程(cheng)款(kuan)的(de)鐵(tie)電(dian)性能材(cai)料測試裝置(zhi)，這款設備(bei)可以(yi)適(shi)用(yong)於鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)、鐵電(dian)體材(cai)料（既可塊體材(cai)料）的電(dian)性能測量(liang)，可(ke)測(ce)量(liang)鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)電(dian)滯回(hui)線、可(ke)測出具(ju)有非對(dui)稱(cheng)電(dian)滯回(hui)線鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)值。設(she)備(bei)可以(yi)擴(kuo)展(zhan)高溫電(dian)阻，高溫介(jie)電(dian)，電(dian)容(rong)-電(dian)壓曲線(xian)，TSC/TSDC等功能。