TDJC-5000型電滯回(hui)線及(ji)高(gao)電壓介電擊(ji)穿強(qiang)度(du)測(ce)試系統(tong)

關(guan)鍵(jian)詞(ci):電滯回(hui)線 ,擊穿， 

壹、產(chan)品介(jie)紹(shao)：

   TDJC-5000型電滯回(hui)線及(ji)高(gao)電壓介電擊(ji)穿強(qiang)度(du)測(ce)試系統(tong)是壹款(kuan)高量(liang)程(cheng)款(kuan)的(de)鐵(tie)電性(xing)能材(cai)料測(ce)試裝(zhuang)置(zhi)，這(zhe)款(kuan)設(she)備可以(yi)適(shi)用於(yu)鐵(tie)電薄(bo)膜、鐵(tie)電體(ti)材(cai)料（既可塊體材(cai)料）的(de)電性(xing)能測(ce)量(liang)，可測量鐵(tie)電薄(bo)膜電滯回(hui)線、可測出具有(you)非(fei)對(dui)稱(cheng)電滯回(hui)線鐵(tie)電薄(bo)膜值。同時可以(yi)進(jin)行擊(ji)穿(chuan)測試(shi)，可以(yi)進(jin)行電致(zhi)應(ying)變測試(shi)，可以(yi)蝴(hu)蝶(die)曲(qu)線(xian)功(gong)能(neng)，設備還可以(yi)擴(kuo)展高溫電阻，高(gao)溫介電，電容(rong)-電壓曲(qu)線(xian)，TSC/TSDC等(deng)功(gong)能(neng)。本儀器是從(cong)事壓電材(cai)料及(ji)壓電元(yuan)件(jian)生(sheng)產(chan)、應(ying)用與研(yan)究(jiu)部門(men)的(de)重(zhong)要(yao)設(she)備之(zhi)壹，已(yi)經(jing)在各(ge)大(da)高校和科(ke)研(yan)院(yuan)所(suo)廣(guang)泛使用(yong)。

二、主要(yao)技術(shu)指標(biao)：

1、電壓：：±10KV

2、溫度；室溫-200℃，控溫精(jing)度(du)：±1℃

3、控制施加(jia)頻率0.01到1KHz（陶(tao)瓷、單(dan)晶(jing)，薄膜(mo)）PC端(duan)軟(ruan)件(jian)控(kong)制(zhi)自(zi)定義設置(zhi)；

4、控制輸(shu)出電流(liu)0到±50mA連(lian)續(xu)可調，PC端(duan)軟(ruan)件(jian)控(kong)制(zhi)自(zi)定義設置(zhi)。

5、動態電滯回(hui)線測(ce)試(shi)頻率範(fan)圍(wei) 0.01Hz-1kHz

7、最(zui)小脈寬保持(chi)時間(jian)為(wei)20us;最(zui)小上(shang)升(sheng)沿(yan)時間(jian)為(wei)10us;

8、疲勞測試(shi)頻率500kHz（振幅10 Vpp，負載(zai)電容(rong)1 nF）；使(shi)用高壓放(fang)大(da)器後(hou)疲(pi)勞(lao)頻率最(zui)高5kHz; 

9、測試速(su)度：測量時間(jian)《5秒/樣品•溫度點 

10、樣品規格：塊(kuai)體(ti)材(cai)料尺(chi)寸：直(zhi)徑2-100mm，厚度(du)0.1-10mm

11、主要(yao)功(gong)能： 動態電滯回(hui)線DHM，靜態電滯回(hui)線SHM，I-V特性，脈沖PUND，疲勞Fatigue，電擊(ji)穿強(qiang)度(du)BDM，漏電流(liu)LM，電流(liu)-偏壓，保持(chi)力RM，

10. 電荷(he)解(jie)析度不(bu)小於(yu)10 mC;漏電流(liu)測量(liang)範(fan)圍(wei):1pA~ 20 mA，分(fen)辨(bian)率不(bu)低於(yu)0.1pA;

12、控制方式(shi)：計(ji)算機實(shi)時控(kong)制(zhi)、實(shi)時顯(xian)示(shi)、實(shi)時數(shu)據(ju)計(ji)算、分析與存儲

13、軟件(jian)采(cai)集(ji)：自(zi)動采集(ji)軟(ruan)件(jian)，分(fen)析可以(yi)兼(jian)容(rong)其(qi)他相關(guan)主流(liu)軟件(jian)。

14、測試精(jing)度(du)：±0.05%

15、內(nei)置(zhi)電壓：±20V

          FC-5000和美(mei)國(guo)TF-2000測試數(shu)據(ju)對(dui)比(bi)圖

FC-5000和美(mei)國(guo)TF-2000測試數(shu)據(ju)對(dui)比(bi)圖