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材料電(dian)學(xue)性能測(ce)試(shi)儀(yi)
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2024-03-08
+2023-10-21
+2023-03-15
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壓(ya)電材料測(ce)試(shi)儀(yi)(準靜(jing)態d33/d31(+d15)測(ce)量(liang)儀(yi))是(shi)為測(ce)量(liang)壓(ya)電材料的(de)d33常數而設(she)計的(de)儀(yi)器(qi),它(ta)可(ke)用(yong)來(lai)測(ce)量(liang)具有(you)大壓(ya)電常數的(de)壓(ya)電陶瓷(ci),小(xiao)壓(ya)電常數的(de)壓(ya)電單(dan)晶(jing)及(ji)壓(ya)電高分子(zi)材料。此(ci)外,也可(ke)測(ce)量(liang)任(ren)意(yi)取向壓(ya)電單(dan)晶(jing)以及(ji)某些壓(ya)電器件的(de)等(deng)效壓(ya)電d33/d15常數,儀(yi)器(qi)測(ce)量(liang)範(fan)圍寬(kuan),分辨(bian)率細(xi),可(ke)靠性高,操作簡(jian)單(dan)。
ZJ-3壓(ya)電材料測(ce)試(shi)儀(yi)(靜(jing)壓(ya)電系數d33測(ce)量(liang)儀(yi))是(shi)為測(ce)量(liang)壓(ya)電材料的(de)d33常數而設(she)計的(de)儀(yi)器(qi),它(ta)可(ke)用(yong)來(lai)測(ce)量(liang)具有(you)大壓(ya)電常數的(de)壓(ya)電陶瓷(ci),小(xiao)壓(ya)電常數的(de)壓(ya)電單(dan)晶(jing)及(ji)壓(ya)電高分子(zi)材料。
ZJ-5型(xing)積(ji)層壓(ya)電測(ce)試(shi)儀(yi)(積(ji)層靜(jing)壓(ya)電系數d33測(ce)量(liang)儀(yi))是(shi)為測(ce)量(liang)積(ji)層壓(ya)電材料的(de)d33常數而設(she)計的(de)儀(yi)器(qi),它(ta)可(ke)用(yong)來(lai)測(ce)量(liang)具有(you)積層大壓(ya)電常數的(de)壓(ya)電陶瓷(ci),小(xiao)壓(ya)電常數的(de)壓(ya)電單(dan)晶(jing)及(ji)壓(ya)電高分子(zi)材料。ZJ-5型(xing)積(ji)層靜(jing)壓(ya)電系數d33測(ce)量(liang)儀(yi)測(ce)量(liang)範(fan)圍寬(kuan),分辨(bian)率細(xi),可(ke)靠性高,操作簡(jian)單(dan),對試(shi)樣大小(xiao)及(ji)形狀(zhuang)無(wu)特(te)殊(shu)要求,圓(yuan)片(pian)、圓環、圓(yuan)管、方(fang)塊(kuai)、長條、柱(zhu)形及(ji)半球(qiu)殼(ke)等(deng)均可(ke)測(ce)量(liang)。
ZJ-3型(xing)Piezo型(xing)壓(ya)電常數測(ce)試(shi)儀(yi)(靜(jing)壓(ya)電系數d33測(ce)量(liang)儀(yi))是(shi)為測(ce)量(liang)壓(ya)電材料的(de)d33常數而設(she)計的(de)專(zhuan)用(yong)儀(yi)器(qi),它(ta)可(ke)用(yong)來(lai)測(ce)量(liang)具有(you)大壓(ya)電常數的(de)壓(ya)電陶瓷(ci),小(xiao)壓(ya)電常數的(de)壓(ya)電單(dan)晶(jing)及(ji)壓(ya)電高分子(zi)材料。此(ci)外,也可(ke)測(ce)量(liang)任(ren)意(yi)取向壓(ya)電單(dan)晶(jing)以及(ji)某些壓(ya)電器件的(de)等(deng)效壓(ya)電d’33常數,儀(yi)器(qi)測(ce)量(liang)範(fan)圍寬(kuan),分辨(bian)率細(xi),可(ke)靠性高,操作簡(jian)單(dan),對試(shi)樣大小(xiao)及(ji)形狀(zhuang)無(wu)特(te)殊(shu)要求,圓(yuan)片(pian)、圓環、圓(yuan)管、方(fang)塊(kuai)、長條、柱(zhu)形及(ji)半球(qiu)殼(ke)等(deng)均可(ke)測(ce)量(liang),測(ce)量(liang)結(jie)果和極(ji)性在(zai)三(san)
ZJ-3A/B/J型(xing)壓(ya)電測(ce)試(shi)儀(yi)(靜(jing)壓(ya)電系數d33測(ce)量(liang)儀(yi))是(shi)為測(ce)量(liang)壓(ya)電材料的(de)d33常數而設(she)計的(de)專(zhuan)用(yong)儀(yi)器(qi),它(ta)可(ke)用(yong)來(lai)測(ce)量(liang)具有(you)大壓(ya)電常數的(de)壓(ya)電陶瓷(ci),小(xiao)壓(ya)電常數的(de)壓(ya)電單(dan)晶(jing)及(ji)壓(ya)電高分子(zi)材料。此(ci)外,也可(ke)測(ce)量(liang)任(ren)意(yi)取向壓(ya)電單(dan)晶(jing)以及(ji)某些壓(ya)電器件的(de)等(deng)效壓(ya)電d’33常數,儀(yi)器(qi)測(ce)量(liang)範(fan)圍寬(kuan),分辨(bian)率細(xi),可(ke)靠性高,操作簡(jian)單(dan),對試(shi)樣大小(xiao)及(ji)形狀(zhuang)無(wu)特(te)殊(shu)要求,圓(yuan)片(pian)、圓環、圓(yuan)管、方(fang)塊(kuai)、長條、柱(zhu)形及(ji)半球(qiu)殼(ke)等(deng)均可(ke)測(ce)量(liang),測(ce)量(liang)結(jie)果和極(ji)性在(zai)三(san)位(wei)半(ban)數
堆棧(zhan)式壓(ya)電陶瓷(ci)由多(duo)個(ge)薄(bo)片(pian)狀的(de)壓(ya)電陶瓷(ci)元件(jian)通過電極交替(ti)堆疊而成。這(zhe)些壓(ya)電陶瓷(ci)片(pian)通常具有(you)較小(xiao)的(de)厚(hou)度(du),壹般(ban)在(zai)幾十(shi)微(wei)米(mi)到幾百微(wei)米(mi)之間(jian),而直(zhi)徑(jing)或(huo)邊長則可(ke)以根(gen)據具體應(ying)用(yong)需求在(zai)幾毫米(mi)到幾十(shi)毫米(mi)範(fan)圍內變(bian)化。