本(ben)測試(shi)系統(tong)由(you)主控(kong)器(qi)、高壓(ya)放大(da)器(qi)、變(bian)溫(wen)綜(zong)合(he)測試(shi)平臺(tai)（配(pei)鐵(tie)電(dian)測試(shi)盒）或(huo)高低(di)溫(wen)探(tan)針臺(tai)（配(pei)高(gao)壓(ya)探(tan)針）、計算機(ji)及(ji)系統(tong)軟(ruan)件(jian)部分組成(cheng)。主控(kong)器(qi)集成(cheng)了(le)可編(bian)程(cheng)波(bo)形(xing)發生(sheng)器(qi)、內置(zhi)驅動(dong)電(dian)壓(ya)、電(dian)荷積(ji)分器(qi)、可編(bian)程(cheng)放大器(qi)、模數(shu)轉換器(qi)、通訊(xun)總線等(deng)功能(neng)，主控(kong)器(qi)提(ti)供(gong)擴展外置(zhi)高壓(ya)放大(da)器(qi)接口(kou)，可擴展±5 kV或(huo)±10 kV的高(gao)壓(ya)放大(da)器(qi)。系統(tong)軟(ruan)件(jian)包括可視化數據(ju)采集和管(guan)理(li)功能(neng)，測試(shi)時，無(wu)需(xu)改(gai)變(bian)測試(shi)樣品(pin)的連(lian)接(jie)，即可實現(xian)滯(zhi)回(hui)，脈(mai)沖(chong)，漏電(dian)，IV等性(xing)

FE-5000W型(xing)電(dian)致(zhi)應變(bian)鐵(tie)電(dian)測試(shi)儀是壹款高量程(cheng)款的鐵(tie)電(dian)性能(neng)材(cai)料測試(shi)裝(zhuang)置，這款設備(bei)可以(yi)適(shi)用於(yu)鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)、鐵(tie)電(dian)體材(cai)料（既(ji)可(ke)塊(kuai)體(ti)材(cai)料）的(de)電(dian)性能(neng)測量(liang)，可測量(liang)鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)電(dian)滯回(hui)線、可(ke)測出(chu)具有非(fei)對稱(cheng)電(dian)滯回(hui)線鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)值(zhi)。可以(yi)進行(xing)電(dian)致(zhi)應變(bian)測試(shi)，可以(yi)蝴(hu)蝶(die)曲線功能(neng)，設備(bei)還(hai)可(ke)以(yi)擴展高溫(wen)電(dian)阻(zu)，高(gao)溫(wen)介(jie)電(dian)，電(dian)容-電(dian)壓(ya)曲線，TSC/TSDC等(deng)功能(neng)。本(ben)儀器(qi)是從事壓(ya)電(dian)材(cai)料及(ji)壓(ya)電(dian)元件生(sheng)產(chan)、應(ying)用(yong)與研究部門(men)的(de)重要設備(bei)之壹，已(yi)經在(zai)各大(da)高校和科

TDFE-3000A型(xing)薄膜鐵(tie)電(dian)測試(shi)儀是壹款高量程(cheng)款的鐵(tie)電(dian)性能(neng)材(cai)料測試(shi)裝(zhuang)置，這款設備(bei)可以(yi)適(shi)用於(yu)鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)、鐵(tie)電(dian)體材(cai)料（既(ji)可(ke)塊(kuai)體(ti)材(cai)料）的(de)電(dian)性能(neng)測量(liang)，可測量(liang)鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)電(dian)滯回(hui)線、可(ke)測出(chu)具有非(fei)對稱(cheng)電(dian)滯回(hui)線鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)值(zhi)。可以(yi)進行(xing)電(dian)致(zhi)應變(bian)測試(shi)，可以(yi)蝴(hu)蝶(die)曲線功能(neng)，設備(bei)還(hai)可(ke)以(yi)擴展高溫(wen)電(dian)阻(zu)，高(gao)溫(wen)介(jie)電(dian)，電(dian)容-電(dian)壓(ya)曲線，TSC/TSDC等(deng)功能(neng)。動(dong)態電(dian)滯回(hui)線測量(liang)-DHM、泄漏電(dian)流(liu)測量(liang)-LM、CV測量(liang)-CVM、疲勞(lao)測量(liang)-FM、保持

JKHT-400系列高(gao)壓(ya)脈(mai)沖(chong)放大(da)器(qi)目前(qian)已(yi)經是生(sheng)物、醫(yi)療、電(dian)子、物理(li)、化學(xue)等行(xing)業(ye)的測試(shi)工具。此(ci)外，放大器(qi)在新(xin)型(xing)的半(ban)導體(ti)材(cai)料，薄(bo)膜材(cai)料，聚合(he)物材(cai)料，生(sheng)物器(qi)件的(de)研制(zhi)方面也有廣(guang)泛的(de)應(ying)用。 JKHT-400高(gao)壓(ya)脈(mai)沖(chong)放大(da)器(qi)是壹種(zhong)用於(yu)放大高壓(ya)信號(hao)的電(dian)子設備(bei)，具有(you)高壓(ya)輸出(chu)，低(di)噪聲，高精度，高穩定性，高可(ke)靠性(xing)，低(di)功耗(hao)，低(di)成(cheng)本(ben)等的(de)優點。

GWTD-5000型(xing)高溫(wen)鐵(tie)電(dian)測試(shi)儀是壹款擴展靈活的(de)高溫(wen)鐵(tie)電(dian)測試(shi)儀，也是壹款可替代德國(guo)aixACCT公司(si)生(sheng)產(chan)的(de)TF Analyzer 2000鐵(tie)電(dian)分析儀的(de)國(guo)產鐵(tie)電(dian)材(cai)料性(xing)能測試(shi)設備(bei)，可廣(guang)泛地(di)應用於(yu)如各種(zhong)鐵(tie)電(dian)/壓(ya)電(dian)/熱釋電(dian)薄膜(mo)、厚(hou)膜、體(ti)材(cai)料和電(dian)子陶(tao)瓷(ci)、鐵(tie)電(dian)傳感(gan)器(qi)/執行(xing)器(qi)/存(cun)儲器(qi)等領(ling)域的(de)研究。

TDWFE-6000型(xing)鐵(tie)電(dian)溫(wen)譜測儀是壹款高量程(cheng)款的鐵(tie)電(dian)性能(neng)材(cai)料測試(shi)裝(zhuang)置，這款設備(bei)可以(yi)適(shi)用於(yu)鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)、鐵(tie)電(dian)體材(cai)料（既(ji)可(ke)塊(kuai)體(ti)材(cai)料）的(de)電(dian)性能(neng)測量(liang)，可測量(liang)鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)電(dian)滯回(hui)線、可(ke)測出(chu)具有非(fei)對稱(cheng)電(dian)滯回(hui)線鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)值(zhi)。可以(yi)進行(xing)電(dian)致(zhi)應變(bian)測試(shi)，可以(yi)蝴(hu)蝶(die)曲線功能(neng)，設備(bei)還(hai)可(ke)以(yi)擴展高溫(wen)電(dian)阻(zu)，高(gao)溫(wen)介(jie)電(dian)，電(dian)容-電(dian)壓(ya)曲線，TSC/TSDC等(deng)功能(neng)。本(ben)儀器(qi)是從事壓(ya)電(dian)材(cai)料及(ji)壓(ya)電(dian)元件生(sheng)產(chan)、應(ying)用(yong)與研究部門(men)的(de)重要設備(bei)之壹，已(yi)經在(zai)各大(da)高