壹種用(yong)於(yu)測(ce)試(shi)鐵(tie)電(dian)材料性能(neng)的(de)儀器(qi)高(gao)溫(wen)鐵電(dian)測試儀

高溫(wen)鐵電(dian)測試儀是壹種用(yong)於(yu)測(ce)試(shi)鐵(tie)電(dian)材料性能(neng)的(de)儀器(qi)

GWTD-5000型(xing)高(gao)溫(wen)鐵電(dian)測試儀

關鍵(jian)詞(ci)：疲(pi)勞(lao)測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)，動態電(dian)滯(zhi)回線(xian)，高低(di)溫(wen)探(tan)針臺

GWTD-5000型高(gao)溫(wen)鐵電(dian)測試儀是壹款擴(kuo)展靈活的(de)高(gao)溫(wen)鐵電(dian)測試儀，也是(shi)壹(yi)款(kuan)可替代德國aixACCT公(gong)司生產(chan)的TF Analyzer 2000鐵電(dian)分析(xi)儀的國產(chan)鐵電(dian)材料性能(neng)測(ce)試(shi)設(she)備，可廣泛(fan)地(di)應用(yong)於(yu)如(ru)各(ge)種鐵(tie)電(dian)/壓電(dian)/熱釋電(dian)薄(bo)膜(mo)、厚(hou)膜(mo)、體(ti)材料(liao)和電(dian)子陶(tao)瓷、鐵(tie)電(dian)傳感器(qi)/執(zhi)行(xing)器(qi)/存儲器(qi)等(deng)領(ling)域的研(yan)究(jiu)。

鐵電(dian)參(can)數測(ce)試(shi)主(zhu)要性(xing)能(neng)指標：

a. 外接(jie)5 kV高壓放大(da)器(qi)（可(ke)擴(kuo)展至10 kV）（國產(chan)、進口均(jun)適用）；

b. 動態電(dian)滯(zhi)回線(xian)測試(shi)頻(pin)率(lv)範(fan)圍0.01 Hz ～5kHz/10kHz/50kHz/100kHz/500kHz；

c. 最(zui)大(da)電(dian)荷解(jie)析(xi)度：10 mC（可擴展）；

d. 疲(pi)勞(lao)測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)300 kHz（振幅(fu)10 Vpp，負(fu)載(zai)電(dian)容1 nF）；

e. 漏電(dian)流測量(liang)範(fan)圍 1 pA ～ 20 mA（可擴展），分辨率(lv)0.1 pA；

f. 配(pei)有(you)高(gao)壓擊(ji)穿(chuan)保(bao)護(hu)模(mo)塊；

g.溫(wen)度範(fan)圍：RT～200℃。

本(ben)測(ce)試系(xi)統(tong)由主(zhu)控器(qi)、高(gao)壓放大(da)器(qi)、變(bian)溫(wen)綜合測(ce)試平(ping)臺（配(pei)鐵(tie)電(dian)測試盒）或(huo)高低(di)溫(wen)探(tan)針臺（配(pei)高(gao)壓探(tan)針）、計算(suan)機(ji)及(ji)系(xi)統(tong)軟件(jian)部(bu)分(fen)組成(cheng)。主(zhu)控器(qi)集(ji)成(cheng)了可編程波(bo)形發生器(qi)、內(nei)置(zhi)驅(qu)動電(dian)壓、電(dian)荷積(ji)分(fen)器(qi)、可(ke)編程放(fang)大(da)器(qi)、模(mo)數轉(zhuan)換(huan)器(qi)、通(tong)訊(xun)總線(xian)等功(gong)能(neng)，主(zhu)控器(qi)提(ti)供(gong)擴(kuo)展外置(zhi)高(gao)壓放大(da)器(qi)接(jie)口(kou)，可(ke)擴(kuo)展±5 kV或(huo)±10 kV的高壓放大(da)器(qi)。系(xi)統(tong)軟件(jian)包括(kuo)可(ke)視(shi)化數據(ju)采集(ji)和管理功能(neng)，測(ce)試(shi)時(shi)，無需(xu)改變(bian)測(ce)試樣(yang)品的連接，即(ji)可(ke)實現高溫(wen)環境(jing)下的(de)滯(zhi)回，脈沖，漏電(dian)，IV等性能(neng)測(ce)試(shi)。

本(ben)測(ce)試系(xi)統(tong)鐵電(dian)性能(neng)測(ce)試(shi)采(cai)用改進(jin)的(de)Sawyer- Tower測量(liang)方法(fa)，與(yu)傳(chuan)統的(de)Sawyer- Tower模(mo)式(shi)相(xiang)比，此(ci)電(dian)路取消了外接(jie)電(dian)容，可減小寄生元(yuan)件(jian)的(de)影(ying)響(xiang)。此(ci)電(dian)路的測試精度僅取決於(yu)積(ji)分(fen)器(qi)積(ji)分(fen)電(dian)容的精(jing)度，減少了對測(ce)試的(de)影響環(huan)節(jie)，容易定標和校準，並且能(neng)實現較(jiao)高的(de)測(ce)量(liang)準確(que)度(du)。

高溫(wen)鐵電(dian)測試儀測試功能(neng)：

動態電(dian)滯(zhi)回線(xian)DHM

靜態電(dian)滯(zhi)回線(xian)SHM

I-V特性(xing)

脈沖PUND

疲(pi)勞(lao)Fatigue

電(dian)擊(ji)穿(chuan)強度BDM

漏電(dian)流LM

電(dian)流-偏壓

保(bao)持力(li)RM

印跡(ji)印痕IM

變溫(wen)測試THM。