描(miao)述：本(ben)測(ce)試系(xi)統由(you)主(zhu)控器(qi)、高壓(ya)放(fang)大器(qi)、變溫綜合(he)測(ce)試平臺(tai)（配(pei)鐵(tie)電(dian)測(ce)試盒(he)）或(huo)高(gao)低溫探(tan)針(zhen)臺(tai)（配(pei)高(gao)壓探(tan)針(zhen)）、計(ji)算(suan)機(ji)及(ji)系(xi)統軟件部分(fen)組成。主控器(qi)集(ji)成了可編(bian)程(cheng)波形發生(sheng)器(qi)、內(nei)置(zhi)驅動電壓(ya)、電(dian)荷(he)積分(fen)器(qi)、可編(bian)程(cheng)放(fang)大器(qi)、模(mo)數轉(zhuan)換(huan)器(qi)、通訊總線(xian)等(deng)功(gong)能(neng)，主(zhu)控器(qi)提(ti)供擴展外(wai)置高(gao)壓放(fang)大器(qi)接(jie)口，可擴(kuo)展(zhan)±5 kV或(huo)±10 kV的(de)高壓(ya)放(fang)大器(qi)。系(xi)統軟件包(bao)括可視(shi)化數據(ju)采(cai)集(ji)和管理功(gong)能(neng)，測(ce)試時(shi)，無需改變(bian)測(ce)試樣(yang)品(pin)的(de)連接(jie)，即(ji)可實(shi)現滯回，脈沖，漏電(dian)，IV等(deng)性(xing)

FE-5000型(xing)鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)測(ce)試儀(yi)

   FE-5000W型(xing)電(dian)致應(ying)變鐵(tie)電(dian)測(ce)試儀(yi)是(shi)壹(yi)款高量程(cheng)款的(de)鐵(tie)電(dian)性能材(cai)料測(ce)試裝(zhuang)置，這(zhe)款設(she)備(bei)可以(yi)適(shi)用於鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)、鐵(tie)電(dian)體材(cai)料（既(ji)可塊(kuai)體材(cai)料）的(de)電性(xing)能測(ce)量，可測(ce)量鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)電(dian)滯回線(xian)、可測(ce)出具(ju)有(you)非對(dui)稱電滯回線(xian)鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)值(zhi)。可以(yi)進(jin)行(xing)電(dian)致應(ying)變測(ce)試，可以(yi)蝴(hu)蝶曲(qu)線(xian)功(gong)能(neng)，設(she)備(bei)還(hai)可以(yi)擴(kuo)展高(gao)溫電阻，高溫介電，電(dian)容-電(dian)壓(ya)曲(qu)線(xian)，TSC/TSDC等(deng)功(gong)能(neng)。本(ben)儀(yi)器(qi)是從(cong)事壓電材(cai)料及(ji)壓(ya)電(dian)元件生產、應(ying)用與研究部門的(de)重要(yao)設(she)備(bei)之(zhi)壹(yi)，已(yi)經在(zai)各大高校和科研院所(suo)廣泛使用。

二(er)、主要技(ji)術指標(biao)：

1、輸(shu)出信號(hao)電(dian)壓(ya)：：±5000V（可擴(kuo)展(zhan)至(zhi)10 kV）,可擴(kuo)展(zhan)電致應(ying)蝴(hu)蝶曲(qu)線(xian)功(gong)能(neng)

2、溫度；室溫-200℃，控溫精度：±1℃

3、控(kong)制(zhi)施加頻率0.01到(dao)250KHz（陶(tao)瓷(ci)、單晶，薄膜(mo)）PC端(duan)軟件控制(zhi)自定(ding)義(yi)設(she)置(zhi)；

4、控(kong)制(zhi)輸(shu)出電流0到(dao)±50mA連續可調，PC端軟件控制(zhi)自定(ding)義(yi)設(she)置(zhi)。

5、動(dong)態(tai)電滯回線(xian)測(ce)試頻率範(fan)圍(wei) 0.01Hz-5kHz

7、最(zui)小(xiao)脈寬保(bao)持時(shi)間為(wei)20us;最小(xiao)上升沿(yan)時(shi)間為(wei)10us;

8、疲(pi)勞(lao)測(ce)試頻率500kHz（振(zhen)幅(fu)10 Vpp，負(fu)載(zai)電容1 nF）；使用高壓放(fang)大器(qi)後(hou)疲(pi)勞(lao)頻率最(zui)高(gao)5kHz;

9、測(ce)試速度(du)：測(ce)量時(shi)間《5秒(miao)/樣(yang)品(pin)•溫度點(dian)   

10、樣(yang)品(pin)規格：塊(kuai)體材(cai)料尺(chi)寸(cun)：直徑(jing)2-100mm，厚(hou)度0.1-10mm

11、主(zhu)要(yao)功能： 動(dong)態(tai)電滯回線(xian)DHM，靜態(tai)電滯回線(xian)SHM，I-V特(te)性(xing)，脈沖PUND，疲(pi)勞(lao)Fatigue，電擊(ji)穿(chuan)強度BDM，漏(lou)電流(liu)LM，電(dian)流(liu)-偏(pian)壓，保(bao)持力RM，

10. 電(dian)荷(he)解析度(du)不(bu)小於10 mC;

漏(lou)電(dian)流測(ce)量範(fan)圍(wei):1pA~ 20 mA，分(fen)辨率不(bu)低於0.1pA;

12、控(kong)制(zhi)方(fang)式(shi)：計(ji)算(suan)機(ji)實(shi)時控制(zhi)、實(shi)時顯示(shi)、實(shi)時數據(ju)計(ji)算(suan)、分(fen)析與存儲

13、軟件采(cai)集(ji)：自動采(cai)集(ji)軟件，分(fen)析可以(yi)兼(jian)容其他(ta)相(xiang)關(guan)主(zhu)流軟件。

14、測(ce)試精(jing)度：±0.05%

15、內(nei)置(zhi)電壓：±20V

鐵(tie)電(dian)參數測(ce)試主(zhu)要性能指標(biao)：

a. 外(wai)接(jie)5 kV高(gao)壓放(fang)大器(qi)；

b. 動態(tai)電滯回線(xian)測(ce)試頻率範(fan)圍(wei)0.01 Hz ～ 1 kHz；

c. 最大電荷(he)解(jie)析度(du)：10 mC；

d. 疲(pi)勞(lao)測(ce)試頻率300 kHz（振(zhen)幅(fu)10 Vpp，負(fu)載(zai)電容1 nF）；

e. 漏(lou)電流(liu)測(ce)量範(fan)圍(wei) 1 pA ～ 20 mA，分(fen)辨率0.1 pA；

f. 配(pei)有(you)高(gao)壓擊穿(chuan)保護(hu)模(mo)塊(kuai)。

本(ben)測(ce)試系(xi)統由(you)主(zhu)控器(qi)、高壓(ya)放(fang)大器(qi)、變溫綜合(he)測(ce)試平臺(tai)（配(pei)鐵(tie)電(dian)測(ce)試盒(he)）或(huo)高(gao)低溫探(tan)針(zhen)臺(tai)（配(pei)高(gao)壓探(tan)針(zhen)）、計(ji)算(suan)機(ji)及(ji)系(xi)統軟件部分(fen)組成。主控器(qi)集(ji)成了可編(bian)程(cheng)波形發生(sheng)器(qi)、內(nei)置(zhi)驅動電壓(ya)、電(dian)荷(he)積分(fen)器(qi)、可編(bian)程(cheng)放(fang)大器(qi)、模(mo)數轉(zhuan)換(huan)器(qi)、通訊總線(xian)等(deng)功(gong)能(neng)，主(zhu)控器(qi)提(ti)供擴展外(wai)置高(gao)壓放(fang)大器(qi)接(jie)口，可擴(kuo)展(zhan)±5 kV或(huo)±10 kV的(de)高壓(ya)放(fang)大器(qi)。系(xi)統軟件包(bao)括可視(shi)化數據(ju)采(cai)集(ji)和管理功(gong)能(neng)，測(ce)試時(shi)，無需改變(bian)測(ce)試樣(yang)品(pin)的(de)連接(jie)，即(ji)可實(shi)現滯回，脈沖，漏電(dian)，IV等(deng)性(xing)能(neng)測(ce)試。

本(ben)鐵(tie)電(dian)參數測(ce)試儀(yi)/PUND測(ce)試采(cai)用(yong)改進的(de)Sawyer- Tower測(ce)量方(fang)法，與傳(chuan)統的(de)Sawyer- Tower模(mo)式(shi)相(xiang)比(bi)，此電路(lu)取消(xiao)了外(wai)接(jie)電(dian)容，可減小寄生元件的(de)影響(xiang)。此電路(lu)的(de)測(ce)試精(jing)度僅(jin)取決(jue)於積分(fen)器(qi)積分(fen)電容(rong)的(de)精度(du)，減少了對(dui)測(ce)試的(de)影響(xiang)環(huan)節，容易定(ding)標(biao)和校準，並(bing)且能實(shi)現較(jiao)高的(de)測(ce)量準確(que)度。

該(gai)系(xi)統測(ce)試功(gong)能：

動態電滯回線(xian)DHM

I-V特(te)性(xing)

脈沖PUND

疲(pi)勞(lao)Fatigue

漏電(dian)流(liu)LM

電(dian)流-偏壓(ya)。