描(miao)述(shu)：TDFE-3000A型(xing)薄膜鐵電測試(shi)儀是壹(yi)款(kuan)高量程(cheng)款(kuan)的鐵電性能(neng)材(cai)料(liao)測試(shi)裝(zhuang)置，這款(kuan)設備可(ke)以適用(yong)於(yu)鐵電薄膜、鐵電體(ti)材(cai)料(liao)（既(ji)可(ke)塊(kuai)體(ti)材(cai)料(liao)）的電性能(neng)測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、可測出(chu)具有(you)非(fei)對(dui)稱(cheng)電滯回線鐵電薄膜值(zhi)。可以(yi)進行(xing)電致應(ying)變(bian)測試(shi)，可以蝴(hu)蝶(die)曲(qu)線功能(neng)，設備還(hai)可(ke)以擴展(zhan)高溫(wen)電阻(zu)，高(gao)溫(wen)介(jie)電，電容-電壓曲(qu)線，TSC/TSDC等功能(neng)。動態電滯回線測量-DHM、泄(xie)漏(lou)電流測量-LM、CV測量-CVM、疲勞測量-FM、保持(chi)

TDFE-3000A型(xing)薄膜鐵電測試(shi)儀

關鍵(jian)詞(ci)：薄膜鐵電，動態電滯回線, 電容-電壓曲(qu)線

TDFE-3000A型(xing)薄膜鐵電測試(shi)儀是壹(yi)款(kuan)高量程(cheng)款(kuan)的鐵電性能(neng)材(cai)料(liao)測試(shi)裝(zhuang)置，這款(kuan)設備可(ke)以適用(yong)於(yu)鐵電薄膜、鐵電體(ti)材(cai)料(liao)（既(ji)可(ke)塊(kuai)體(ti)材(cai)料(liao)）的電性能(neng)測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、可測出(chu)具有(you)非(fei)對(dui)稱(cheng)電滯回線鐵電薄膜值(zhi)。可以(yi)進行(xing)電致應(ying)變(bian)測試(shi)，可以蝴(hu)蝶(die)曲(qu)線功能(neng)，設備還(hai)可(ke)以擴展(zhan)高溫(wen)電阻(zu)，高(gao)溫(wen)介(jie)電，電容-電壓曲(qu)線，TSC/TSDC等功能(neng)。動態電滯回線測量-DHM、泄(xie)漏(lou)電流測量-LM、CV測量-CVM、疲勞測量-FM、保持(chi)力測量-RM、印記(ji)測量-IM、脈(mai)沖(chong)測量-PM、靜(jing)態電滯回線測量-SHM、擊穿(chuan)電壓測量-BDM等，對(dui)於評估鐵電材(cai)料(liao)的性能(neng)以及(ji)優(you)化(hua)器件(jian)設計具(ju)有(you)重(zhong)要(yao)意(yi)義。本(ben)儀器(qi)是從事(shi)壓電材(cai)料(liao)及(ji)壓(ya)電元件(jian)生(sheng)產(chan)、應(ying)用(yong)與(yu)研(yan)究(jiu)部(bu)門(men)的重(zhong)要(yao)設備之(zhi)壹(yi)，已(yi)經在各(ge)大(da)高(gao)校和(he)科(ke)研院(yuan)所(suo)廣(guang)泛(fan)使用。   

二、主(zhu)要技術指(zhi)標：

輸出(chu)範(fan)圍(wei)：±100V或±200V，可擴展(zhan)至10kV；

可定(ding)制內置放大器(qi)最(zui)大(da)電壓：最大頻率：1MHz；最大(da)電流：1A;

16位任(ren)意(yi)波形(xing)發(fa)生器(qi)輸出(chu)；

內置±100V和±200兩(liang)種(zhong)放大器(qi)；

準(zhun)確性0.5%或更(geng)高(gao)；

最小(xiao)脈(mai)沖(chong)寬度(PUND)：500ns；

最小(xiao)上升時(shi)間(jian)：200ns；

最大(da)脈(mai)沖(chong)寬度低(di)至1μs，最(zui)高可(ke)達(da)15us；

最大(da)區域分辨率(lv)：52.6mC；

最大(da)遲電滯回線頻率：270KHz；

模擬(ni)輸入通(tong)道:高(gao)達40MS/s，士10V(16位)；

最大(da)測試(shi)電容範圍(wei):1nF(與(yu)測試(shi)頻率有(you)關)；

輸出(chu)阻(zu)抗:10Ω。