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          • FE-5001型鐵(tie)電參數(shu)測試(shi)儀/PUND測試(shi)
            FE-5001型鐵(tie)電參數(shu)測試(shi)儀/PUND測試(shi)

            FE-5001型鐵(tie)電參數(shu)測試(shi)儀/PUND測試(shi)是壹款(kuan)功能(neng)豐富(fu)的(de)鐵(tie)電參數(shu)測試(shi)儀/PUND測試(shi),可(ke)廣(guang)泛地(di)應(ying)用(yong)於如(ru)各種鐵(tie)電/壓電/熱釋(shi)電薄(bo)膜(mo)、厚膜(mo)、體(ti)材(cai)料(liao)和(he)電子陶瓷、鐵(tie)電傳感(gan)器/執行器/存儲(chu)器等領域的(de)研究。

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          • DZFE-5000W型電致應(ying)變鐵(tie)電測試(shi)儀
            DZFE-5000W型電致應(ying)變鐵(tie)電測試(shi)儀

            DZFE-5000W型電致應(ying)變鐵(tie)電測試(shi)儀是壹款(kuan)高量(liang)程款的(de)鐵(tie)電性(xing)能(neng)材料(liao)測試(shi)裝(zhuang)置,這(zhe)款(kuan)設(she)備可(ke)以(yi)適(shi)用(yong)於鐵(tie)電薄(bo)膜(mo)、鐵(tie)電體材(cai)料(liao)(既可(ke)塊(kuai)體材(cai)料(liao))的(de)電性(xing)能(neng)測量(liang),可(ke)測量(liang)鐵(tie)電薄(bo)膜(mo)電滯回線、可(ke)測出具有(you)非(fei)對稱(cheng)電滯回線鐵(tie)電薄(bo)膜(mo)值,可(ke)以(yi)進行電致應(ying)變測試(shi),可(ke)以(yi)蝴(hu)蝶(die)曲(qu)線功能(neng)。設(she)備還(hai)可(ke)以(yi)擴(kuo)展高溫(wen)電阻(zu),高(gao)溫(wen)介電,電容-電壓曲(qu)線,TSC/TSDC等功能(neng)。

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          • FE-5000電滯回線功能(neng)I剩余(yu)極(ji)化(hua)PrI鐵(tie)電測試(shi)儀2024
            FE-5000電滯回線功能(neng)I剩余(yu)極(ji)化(hua)PrI鐵(tie)電測試(shi)儀2024

            FE-5000型寬量(liang)程鐵(tie)電性(xing)能(neng)測試(shi)儀是壹款(kuan)高量(liang)程款的(de)鐵(tie)電性(xing)能(neng)材料(liao)測試(shi)裝(zhuang)置,這(zhe)款(kuan)設(she)備可(ke)以(yi)適(shi)用(yong)於鐵(tie)電薄(bo)膜(mo)、鐵(tie)電體材(cai)料(liao)(既可(ke)塊(kuai)體材(cai)料(liao))的(de)電性(xing)能(neng)測量(liang),可(ke)測量(liang)鐵(tie)電薄(bo)膜(mo)電滯回線、可(ke)測出具有(you)非(fei)對稱(cheng)電滯回線鐵(tie)電薄(bo)膜(mo)值。而且(qie)可(ke)以(yi)測量(liang)電致應(ying)變參數(shu)。 二、主(zhu)要技術(shu)指(zhi)標: 1.輸出信號電壓::0±3000V,±5000V,±10000V多(duo)種可(ke)選(xuan)。 2.輸出信號頻率:0.2到(dao)100Hz(陶瓷、單(dan)晶),1到(dao)1kHz(薄(bo)

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          • 內(nei)置±40V電壓通(tong)用(yong)型FE-2000薄(bo)膜(mo)鐵(tie)電測試(shi)儀
            內(nei)置±40V電壓通(tong)用(yong)型FE-2000薄(bo)膜(mo)鐵(tie)電測試(shi)儀

            TZTFE-2000薄(bo)膜(mo)鐵(tie)電測試(shi)儀是壹款(kuan)應(ying)用(yong)於薄(bo)膜(mo)材(cai)料(liao)的(de)鐵(tie)電性(xing)能(neng)測試(shi)的(de)設(she)備,該(gai)設(she)備具有(you)動(dong)態電滯回線(DHM)、I-V特性(xing)、脈沖(chong)(PUND)、靜態電滯回線(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流-偏(pian)壓(ya)、保(bao)持(chi)力(li)(RM)、印跡(ji)(IM)的(de)測試(shi)功能(neng).,可(ke)廣(guang)泛地(di)應(ying)用(yong)於如(ru)各種鐵(tie)電/壓電/熱釋(shi)電薄(bo)膜(mo)、厚膜(mo)、體(ti)材(cai)料(liao)和(he)電子陶瓷、鐵(tie)電傳感(gan)器/執行器/存儲(chu)器等領域的(de)研究。

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          • NTRK-5000型國(guo)內(nei)新研制(zhi)±高(gao)壓放(fang)大器Radiant 鐵(tie)電測試(shi)儀
            NTRK-5000型國(guo)內(nei)新研制(zhi)±高(gao)壓放(fang)大器Radiant 鐵(tie)電測試(shi)儀

            NTRK-5000型鐵(tie)電測試(shi)儀高(gao)壓(ya)脈(mai)沖(chong)放(fang)大器是壹款(kuan)可(ke)以(yi)兼(jian)容美國(guo)Radiant鐵(tie)電測試(shi)儀,德國(guo)鐵(tie)電測試(shi)儀,解決了(le)國(guo)內(nei)高校(xiao)使(shi)用(yong)美國(guo)Radiant鐵(tie)電測試(shi)儀主(zhu)機(ji),但(dan)是外(wai)接(jie)的(de)高壓(ya)放大器電壓能(neng)量不(bu)夠的(de)問題(ti),這(zhe)樣能(neng)夠為(wei)高(gao)校(xiao)的(de)材料(liao)研(yan)究提供(gong)測試(shi)的(de)外(wai)部(bu)環(huan)境(jing),在(zai)不斷(duan)創新和優化(hua)中(zhong)設(she)置了(le)這(zhe)款(kuan)高(gao)壓(ya)放(fang)大器。NTRK-5000型高壓(ya)放(fang)大器目(mu)前(qian)已(yi)經(jing)是生物、醫療、電子、物(wu)理、化(hua)學(xue)等行業的(de)測試(shi)工(gong)具。此外(wai),放(fang)大器在(zai)新型的(de)半導(dao)體(ti)

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          • 近(jin)代(dai)物理(li)學(xue)科(ke)教學(xue)TDZT-04C型鐵(tie)電測試(shi)儀
            近(jin)代(dai)物(wu)理學(xue)科(ke)教學(xue)TDZT-04C型鐵(tie)電測試(shi)儀

            TDZT-04C鐵(tie)電性(xing)能(neng)綜(zong)合測試(shi)系(xi)統(tong)是壹代(dai)鐵(tie)電材料(liao)參數(shu)測試(shi)儀適(shi)用(yong)於鐵(tie)電薄(bo)膜(mo)、鐵(tie)電體材(cai)料(liao)(既可(ke)塊(kuai)體材(cai)料(liao))的(de)電性(xing)能(neng)測量(liang),可(ke)測量(liang)鐵(tie)電薄(bo)膜(mo)電滯回線、I—V特性(xing)及開關(guan)特性(xing),可(ke)地(di)測出具有(you)非(fei)對稱(cheng)電滯回線鐵(tie)電薄(bo)膜(mo)的(de)Pr值。可(ke)測鐵(tie)電體材(cai)料(liao)的(de)電滯回線及I—V特性(xing)。 壹、產(chan)品(pin)介紹:

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