描述(shu)：TDWFE-6000型(xing)鐵(tie)電(dian)溫譜(pu)測(ce)儀是(shi)壹款高量(liang)程款的(de)鐵(tie)電(dian)性能(neng)材(cai)料測試(shi)裝(zhuang)置，這款設(she)備(bei)可以(yi)適用於(yu)鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜(mo)、鐵電(dian)體材(cai)料（既可塊(kuai)體(ti)材(cai)料）的(de)電(dian)性能(neng)測(ce)量(liang)，可測(ce)量(liang)鐵電(dian)薄(bo)膜(mo)電(dian)滯(zhi)回(hui)線、可測(ce)出(chu)具(ju)有非對稱(cheng)電(dian)滯(zhi)回(hui)線鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜(mo)值。可以(yi)進(jin)行(xing)電(dian)致應變(bian)測試(shi)，可以(yi)蝴(hu)蝶(die)曲線功(gong)能(neng)，設(she)備(bei)還可以(yi)擴(kuo)展(zhan)高溫電(dian)阻，高溫介(jie)電(dian)，電(dian)容-電(dian)壓曲線，TSC/TSDC等(deng)功(gong)能。本儀器(qi)是(shi)從事(shi)壓電(dian)材(cai)料及(ji)壓(ya)電(dian)元件(jian)生(sheng)產(chan)、應用與研究(jiu)部(bu)門(men)的(de)重(zhong)要設備(bei)之壹，已(yi)經在(zai)各(ge)大高

TDWFE-6000型(xing)鐵(tie)電(dian)溫譜(pu)測(ce)儀

關(guan)鍵詞:電(dian)滯(zhi)回(hui)線 ,鐵(tie)電(dian)測試(shi)儀，電(dian)壓，頻(pin)率(lv) ，電(dian)致應變(bian)，蝴蝶曲線

壹、產品介紹(shao)：

    TDWFE-6000型(xing)鐵(tie)電(dian)溫譜(pu)測(ce)儀是(shi)壹款高量(liang)程款的(de)鐵(tie)電(dian)性能(neng)材(cai)料測試(shi)裝(zhuang)置，這款設(she)備(bei)可以(yi)適用於(yu)鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜(mo)、鐵電(dian)體材(cai)料（既可塊(kuai)體(ti)材(cai)料）的(de)電(dian)性能(neng)測(ce)量(liang)，可測(ce)量(liang)鐵電(dian)薄(bo)膜(mo)電(dian)滯(zhi)回(hui)線、可測(ce)出(chu)具(ju)有非對稱(cheng)電(dian)滯(zhi)回(hui)線鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜(mo)值。可以(yi)進(jin)行(xing)電(dian)致應變(bian)測試(shi)，可以(yi)蝴(hu)蝶(die)曲線功(gong)能(neng)，設(she)備(bei)還可以(yi)擴(kuo)展(zhan)高溫電(dian)阻，高溫介(jie)電(dian)，電(dian)容-電(dian)壓曲線，TSC/TSDC等(deng)功(gong)能。本(ben)儀器(qi)是(shi)從事(shi)壓電(dian)材(cai)料及(ji)壓(ya)電(dian)元件(jian)生(sheng)產(chan)、應用與研究(jiu)部(bu)門(men)的(de)重(zhong)要設備(bei)之壹，已(yi)經在(zai)各(ge)大高校(xiao)和科(ke)研院(yuan)所廣(guang)泛(fan)使用。

二(er)、主要技術(shu)指標(biao)：

1、輸(shu)出信號(hao)電(dian)壓：：±10KV

2、溫(wen)度(du)；室(shi)溫-200℃，控(kong)溫精度(du)：±1℃

3、控(kong)制施(shi)加(jia)頻(pin)率(lv)0.01到250KHz（陶(tao)瓷、單晶(jing)，薄(bo)膜(mo)）PC端(duan)軟(ruan)件(jian)控(kong)制自定(ding)義(yi)設置(zhi)；

4、控(kong)制輸(shu)出(chu)電(dian)流0到±50mA連(lian)續(xu)可調(tiao)，PC端(duan)軟(ruan)件(jian)控(kong)制自定(ding)義(yi)設置(zhi)。

5、動(dong)態電(dian)滯(zhi)回(hui)線測(ce)試(shi)頻(pin)率範(fan)圍(wei) 0.01Hz-5kHz

7、最(zui)小(xiao)脈(mai)寬保持時(shi)間(jian)為(wei)20us;最小(xiao)上(shang)升(sheng)沿時(shi)間(jian)為(wei)10us;

8、疲(pi)勞(lao)測試(shi)頻(pin)率500kHz（振(zhen)幅(fu)10 Vpp，負載電(dian)容1 nF）；使用高壓放(fang)大器(qi)後(hou)疲(pi)勞(lao)頻率最高5kHz; 

9、測(ce)試(shi)速(su)度(du)：測(ce)量(liang)時間(jian)《5秒/樣品•溫(wen)度(du)點(dian)

10、樣品規(gui)格：塊(kuai)體(ti)材(cai)料尺寸(cun)：直徑(jing)2-100mm，厚度(du)0.1-10mm

11、主(zhu)要功能： 動(dong)態電(dian)滯(zhi)回(hui)線DHM，靜態(tai)電(dian)滯(zhi)回(hui)線SHM，I-V特(te)性，脈(mai)沖PUND，疲(pi)勞(lao)Fatigue，電(dian)擊(ji)穿(chuan)強(qiang)度(du)BDM，漏電(dian)流LM，電(dian)流-偏(pian)壓(ya)，保持力(li)RM，

10. 電(dian)荷(he)解析(xi)度(du)不(bu)小(xiao)於(yu)10 mC;

漏電(dian)流測(ce)量(liang)範(fan)圍(wei):1pA~ 20 mA，分辨率(lv)不(bu)低於0.1pA;

12、薄(bo)膜(mo)測試(shi)功(gong)能：配置薄(bo)膜(mo)測試(shi)變(bian)溫探針(zhen)臺壹套，電(dian)子顯(xian)微鏡(jing)壹套，高壓放(fang)大器(qi)±100V 壹臺，溫(wen)度(du)範(fan)圍(wei)：室(shi)溫~400度(du)。

13、 樣品厚度(du)：30nm~1mm，測(ce)試(shi)頻(pin)率0.01Hz~100kHz@0~±100V

連(lian)續(xu)可調(tiao)，及(ji)相(xiang)應的(de)電(dian)壓電(dian)路系(xi)統(tong)；

14、控(kong)制方(fang)式：計算機(ji)實(shi)時(shi)控(kong)制、實(shi)時(shi)顯(xian)示(shi)、實(shi)時(shi)數(shu)據計(ji)算、分析與存儲

15、軟(ruan)件(jian)采(cai)集：自動(dong)采(cai)集軟(ruan)件(jian)，分析可以(yi)兼(jian)容(rong)其(qi)他(ta)相(xiang)關(guan)主(zhu)流軟(ruan)件(jian)。

16、測(ce)試(shi)精(jing)度(du)：±0.05%

17、內置(zhi)電(dian)壓：±20V

18、 可擴(kuo)展(zhan)激(ji)光幹涉儀，進行(xing)電(dian)致應變(bian)測試(shi) 位移(yi)精(jing)度(du)50nm；

19、激(ji)光非接觸式測量(liang)；

20、實(shi)現(xian)應變(bian)曲線顯(xian)示(shi)與記錄(lu)；

21、 電(dian)壓範(fan)圍(wei)0到±5 kV；

22、最(zui)大量(liang)程2mm；

          FC-5000和美國(guo)TF-2000測(ce)試(shi)數(shu)據對(dui)比(bi)圖(tu)

FC-5000和美國(guo)TF-2000測(ce)試(shi)數(shu)據對(dui)比(bi)圖(tu)