描(miao)述(shu)：GWTD-5000型高溫(wen)鐵電測試儀(yi)是(shi)壹款(kuan)擴(kuo)展(zhan)靈(ling)活的(de)高溫(wen)鐵電測試儀(yi)，也(ye)是(shi)壹款(kuan)可替代(dai)德國(guo)aixACCT公(gong)司(si)生產的(de)TF Analyzer 2000鐵電分(fen)析(xi)儀的(de)國(guo)產鐵電材料(liao)性(xing)能測試設(she)備，可廣泛(fan)地應用於(yu)如(ru)各(ge)種(zhong)鐵電/壓電/熱釋電薄(bo)膜、厚(hou)膜、體材料(liao)和(he)電子陶瓷、鐵電傳感器(qi)/執行器(qi)/存(cun)儲器(qi)等(deng)領(ling)域(yu)的(de)研(yan)究(jiu)。

GWTD-5000型高溫(wen)鐵電測試儀(yi)

關(guan)鍵(jian)詞：疲(pi)勞(lao)測試(shi)頻率(lv)，動(dong)態電滯回線(xian)，高低溫探針(zhen)臺

GWTD-5000型高溫(wen)鐵電測試儀(yi)是(shi)壹款(kuan)擴(kuo)展(zhan)靈(ling)活的(de)高溫(wen)鐵電測試儀(yi)，也(ye)是(shi)壹款(kuan)可替代(dai)德國(guo)aixACCT公(gong)司(si)生產的(de)TF Analyzer 2000鐵電分(fen)析(xi)儀的(de)國(guo)產鐵電材料(liao)性(xing)能測試設(she)備，可廣泛(fan)地應用於(yu)如(ru)各(ge)種(zhong)鐵電/壓電/熱釋電薄(bo)膜、厚(hou)膜、體材料(liao)和(he)電子陶瓷、鐵電傳感器(qi)/執行器(qi)/存(cun)儲器(qi)等(deng)領(ling)域(yu)的(de)研(yan)究(jiu)。

鐵電參(can)數(shu)測(ce)試(shi)主要(yao)性能指(zhi)標：

a. 外(wai)接(jie)5 kV高壓放大器(qi)（可擴(kuo)展(zhan)至10 kV）（國(guo)產、進口均(jun)適用）；

b. 動(dong)態電滯回線(xian)測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)範(fan)圍0.01 Hz ～5kHz/10kHz/50kHz/100kHz/500kHz；

c. 最(zui)大電荷(he)解(jie)析(xi)度(du)：10 mC（可擴(kuo)展(zhan)）；

d. 疲(pi)勞(lao)測試(shi)頻率(lv)300 kHz（振(zhen)幅(fu)10 Vpp，負(fu)載電(dian)容(rong)1 nF）；

e. 漏(lou)電(dian)流(liu)測量(liang)範(fan)圍 1 pA ～ 20 mA（可擴(kuo)展(zhan)），分(fen)辨(bian)率(lv)0.1 pA；

f. 配有高壓擊(ji)穿(chuan)保(bao)護(hu)模塊(kuai)；

g.溫(wen)度(du)範(fan)圍：RT～200℃。

本(ben)測(ce)試系(xi)統(tong)由(you)主控(kong)器(qi)、高壓放大器(qi)、變溫綜合測(ce)試(shi)平(ping)臺（配鐵電測試盒(he)）或(huo)高低溫探針(zhen)臺（配高壓探針(zhen)）、計(ji)算機及系(xi)統(tong)軟件部(bu)分(fen)組成(cheng)。主控(kong)器(qi)集(ji)成(cheng)了(le)可編程波形(xing)發生器(qi)、內置(zhi)驅動電(dian)壓、電荷(he)積(ji)分(fen)器(qi)、可編程放大器(qi)、模(mo)數轉換(huan)器(qi)、通訊總(zong)線(xian)等(deng)功(gong)能，主控(kong)器(qi)提(ti)供擴(kuo)展(zhan)外(wai)置(zhi)高壓放大器(qi)接(jie)口，可擴(kuo)展(zhan)±5 kV或(huo)±10 kV的高壓放大器(qi)。系(xi)統(tong)軟件包(bao)括可視化(hua)數據(ju)采集(ji)和管(guan)理(li)功(gong)能，測試時，無需(xu)改變測試樣品(pin)的(de)連(lian)接(jie)，即可實現高溫(wen)環境下的滯回，脈(mai)沖(chong)，漏電，IV等(deng)性(xing)能測試。

本(ben)測(ce)試系(xi)統(tong)鐵電性能測試采用改進的Sawyer- Tower測(ce)量(liang)方(fang)法(fa)，與(yu)傳(chuan)統的Sawyer- Tower模式(shi)相(xiang)比，此電路取消(xiao)了外(wai)接(jie)電容(rong)，可減小(xiao)寄(ji)生元件(jian)的影(ying)響。此電路的測(ce)試(shi)精(jing)度(du)僅(jin)取決(jue)於(yu)積(ji)分(fen)器(qi)積(ji)分(fen)電容的(de)精(jing)度(du)，減少了對測(ce)試的影(ying)響環節(jie)，容易(yi)定(ding)標和校準(zhun)，並且(qie)能實現較高的(de)測量(liang)準(zhun)確(que)度(du)。

高溫(wen)鐵電測試儀(yi)測(ce)試(shi)功(gong)能：

動(dong)態電滯回線(xian)DHM

靜態電滯回線(xian)SHM

I-V特(te)性

脈(mai)沖(chong)PUND

疲(pi)勞(lao)Fatigue

電(dian)擊(ji)穿(chuan)強度(du)BDM

漏(lou)電(dian)流(liu)LM

電(dian)流(liu)-偏壓

保(bao)持(chi)力(li)RM

印(yin)跡印(yin)痕IM

變溫測試THM。