描述：FE-2000A型(xing)鐵(tie)電測(ce)試儀(yi)是(shi)壹款可(ke)以(yi)兼容多(duo)種功能的鐵(tie)電綜(zong)合(he)測試(shi)系(xi)統，即用於(yu)鐵(tie)電體(ti)的鐵(tie)電性(xing)能測(ce)量、可(ke)用(yong)於(yu)鐵(tie)電體(ti)的科學研(yan)究(jiu)及(ji)近代(dai)物(wu)理(li)實(shi)驗中(zhong)的固體(ti)物(wu)理(li)實(shi)驗以及(ji)工業(ye)化(hua)生(sheng)產(chan)鐵(tie)電存(cun)儲器(qi)的鐵(tie)電性(xing)能檢(jian)測中(zhong)。本(ben)測(ce)試系(xi)統主要包(bao)括(kuo)可(ke)編(bian)程信號源、微(wei)電流(liu)放大器(qi)、積分(fen)器(qi)、放大倍數(shu)可(ke)編(bian)程放大器(qi)、模/數(shu)轉換(huan)器(qi)數/模(mo)轉換(huan)器(qi)、微(wei)機(ji)接(jie)口部分、微(wei)機(ji)和(he)應(ying)用(yong)軟件(jian)等部(bu)分(fen)組成。

Huace FE -2000鐵(tie)電材(cai)料參(can)數測試儀(yi)主要由(you)正(zheng)弦(xian)波(bo)、三(san)

FE-2000A型(xing)鐵(tie)電測(ce)試儀(yi)

關(guan)鍵詞(ci)：

PYM 熱(re)釋電測(ce)量

DTS 介(jie)電溫(wen)譜測量

RT 電阻(zu)測(ce)量

PZM 壓(ya)電測(ce)量

CHM 態(tai)電滯(zhi)回(hui)線測(ce)量

IM 印(yin)跡測(ce)量 

RM 保(bao)持力(li)測量

      FE-2000A型(xing)鐵(tie)電測(ce)試儀(yi)是(shi)壹款可(ke)以(yi)兼容多(duo)種功能的鐵(tie)電綜(zong)合(he)測試(shi)系(xi)統，即用於(yu)鐵(tie)電體(ti)的鐵(tie)電性(xing)能測(ce)量、可(ke)用(yong)於(yu)鐵(tie)電體(ti)的科學研(yan)究(jiu)及(ji)近代(dai)物(wu)理(li)實(shi)驗中(zhong)的固體(ti)物(wu)理(li)實(shi)驗以及(ji)工業(ye)化(hua)生(sheng)產(chan)鐵(tie)電存(cun)儲器(qi)的鐵(tie)電性(xing)能檢(jian)測中(zhong)。本(ben)測(ce)試系(xi)統主要包(bao)括(kuo)可(ke)編(bian)程信號源、微(wei)電流(liu)放大器(qi)、積分(fen)器(qi)、放大倍數(shu)可(ke)編(bian)程放大器(qi)、模/數(shu)轉換(huan)器(qi)數/模(mo)轉換(huan)器(qi)、微(wei)機(ji)接(jie)口部分、微(wei)機(ji)和(he)應(ying)用(yong)軟件(jian)等部(bu)分(fen)組成。

Huace FE -2000鐵(tie)電材(cai)料參(can)數測試儀(yi)主要由(you)正(zheng)弦(xian)波(bo)、三(san)角波(bo)、間歇(xie)三(san)角波(bo)、梯(ti)形波(bo)發生(sheng)器(qi)及(ji)正(zheng)、負(fu)矩形(xing)脈沖和雙極性(xing)雙脈沖發生(sheng)器(qi)外加(jia)鐵(tie)電材(cai)料電滯(zhi)回(hui)線、I-V特(te)性及(ji)開關(guan)特(te)性測(ce)量電路(lu)構成。適用(yong)於(yu)鐵(tie)電薄(bo)膜、鐵(tie)電體(ti)材(cai)料的電性(xing)能測(ce)量,可(ke)測(ce)量鐵(tie)電薄(bo)膜電滯(zhi)回(hui)線、IーV特(te)性及(ji)開關(guan)特(te)性,可(ke)地(di)測出具有非對稱電滯(zhi)回(hui)線鐵(tie)電薄(bo)膜的Pr值。可(ke)測(ce)鐵(tie)電體(ti)材(cai)料的電滯(zhi)回(hui)線及(ji)IV特(te)性。同(tong)時也(ye)可(ke)作(zuo)為(wei)ー臺通(tong)用信號發生(sheng)器(qi)、高壓(ya)信(xin)號發生(sheng)器(qi)使用(yong)。

壹、測試(shi)系(xi)統：

本(ben)測(ce)試系(xi)統采用虛(xu)地(di)模(mo)式(shi)測量電路(lu),與(yu)傳統(tong)的Sawyer- Tower模式(shi)相比,此(ci)電路(lu)取(qu)消(xiao)了外(wai)接(jie)電容(rong),可(ke)減(jian)小寄生(sheng)元(yuan)件(jian)的影響。此(ci)電路(lu)的測試(shi)精(jing)度僅(jin)取決於(yu)積分(fen)器(qi)積分(fen)電容(rong)的精度。減(jian)少了對測試(shi)的影響環節,比較(jiao)容易(yi)定標和校準(zhun),並(bing)且能實(shi)現較(jiao)高(gao)的測量準(zhun)確(que)度。它不僅(jin)能畫(hua)出鐵(tie)電薄(bo)膜的電滯(zhi)回(hui)線,還(hai)可(ke)以(yi)定量得(de)到(dao)鐵(tie)電薄(bo)膜材(cai)料的飽和(he)極化(hua)Ps、剩余(yu)極化(hua)Pr、矯(jiao)頑(wan)場(chang)Ec、漏電流(liu)lk等參(can)數(shu),以及(ji)對鐵(tie)電薄(bo)膜材(cai)料的鐵(tie)電疲勞性能、鐵(tie)電保(bao)持性(xing)能的測試(shi)。能夠(gou)較(jiao)準(zhun)確(que)地(di)測量鐵(tie)電薄(bo)膜的鐵(tie)電性(xing)能。儀(yi)器(qi)采用(yong)壹體(ti)化(hua)設計,實(shi)現測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)全(quan)數(shu)字(zi)化(hua),操(cao)作簡(jian)單方便。

二(er)、主要及(ji)可(ke)擴(kuo)展功能：

DHM 動(dong)態(tai)電滯(zhi)回(hui)線測(ce)量

CVM CV測(ce)量

LM 漏電流(liu)測量

FM 疲勞測試PM

脈沖測量

PYM 熱(re)釋電測(ce)量女(nv)

DTS 介(jie)電溫(wen)譜測量女(nv)

RT 電阻(zu)測(ce)量女(nv)

PZM 壓(ya)電測(ce)量

CHM 態(tai)電滯(zhi)回(hui)線測(ce)量

IM 印(yin)跡測(ce)量

RM 保(bao)持力(li)測量

BDM擊穿(chuan)測(ce)試(shi)女

TSDC 熱(re)刺激(ji)電流(liu)測量

ECM 電卡(ka)測試女

POM 油(you)浴(yu)極化(hua)

三(san)、主要軟(ruan)件(jian)功(gong)能：

采(cai)用(yong)labview系(xi)統開發，符合(he)導(dao)體(ti)、半(ban)導(dao)體(ti)材(cai)料的各項測試(shi)需求(qiu)，具備(bei)穩定性(xing)，並(bing)具備(bei)斷電資(zi)料的保(bao)存功(gong)能，圖像(xiang)資(zi)料可(ke)保(bao)存恢(hui)復(fu)，兼容，XP、win7、win10系(xi)統。

本(ben)測(ce)試系(xi)統由(you)主控(kong)器(qi)、高壓(ya)放大器(qi)、變(bian)溫(wen)綜合(he)測試(shi)平臺(tai)（配(pei)鐵(tie)電測(ce)試盒）或高低(di)溫(wen)探(tan)針(zhen)臺(tai)（配(pei)高(gao)壓(ya)探(tan)針(zhen)）、計算機(ji)及(ji)系(xi)統軟件(jian)部(bu)分組成。主控(kong)器(qi)集(ji)成了可(ke)編(bian)程波(bo)形發生(sheng)器(qi)、內(nei)置(zhi)驅(qu)動電壓(ya)、電荷(he)積分(fen)器(qi)、可(ke)編(bian)程放大器(qi)、模數(shu)轉換(huan)器(qi)、通(tong)訊(xun)總(zong)線等功(gong)能，主控(kong)器(qi)提供(gong)擴(kuo)展外置(zhi)高(gao)壓放大器(qi)接(jie)口，可(ke)擴(kuo)展±5 kV或±10 kV的高壓(ya)放大器(qi)。系(xi)統軟件(jian)包(bao)括(kuo)可(ke)視化(hua)數(shu)據(ju)采集(ji)和管(guan)理(li)功(gong)能，測(ce)試時，無(wu)需改(gai)變(bian)測試(shi)樣品(pin)的連接(jie)，即(ji)可(ke)實(shi)現滯(zhi)回(hui)，脈沖，漏電，IV等性(xing)能測(ce)試。

四(si)、主要性(xing)能指(zhi)標：

1)  輸(shu)出(chu)信(xin)號電壓(ya)：±10000V

2)  施(shi)加(jia)頻率(lv)：1Hz到(dao)1000Hz

3)  波(bo)形：正(zheng)弦(xian)波(bo)、三(san)角波(bo)、方波(bo)

4)   USB示(shi)波(bo)器(qi)：4CH；70MHz

5)   絕(jue)緣(yuan)電阻(zu)/漏電流(liu)測量：10TΩ/1pA,1000V

6)    電滯(zhi)回(hui)線測(ce)試(shi)變(bian)溫(wen)範圍：RT~200℃

7)    變(bian)溫(wen)測量控(kong)制單元(yuan)：精度0.1℃；功率(lv)：500W；接(jie)口：RS485

8)     測(ce)試(shi)采(cai)樣速(su)度：<5秒/樣(yang)品•溫(wen)度點 

9)    樣(yang)品(pin)規(gui)格：陶(tao)瓷塊體(ti)：Φ10-100mm，厚度0.1~10mm

        薄(bo)膜(mo)樣(yang)品：Φ10-100mm，厚度1~100μm

10)    控(kong)制方式：計算機(ji)實(shi)時控(kong)制、實(shi)時顯(xian)示(shi)、實(shi)時數據(ju)計算

11)    數(shu)據(ju)采集(ji)分析軟件(jian)：

a)   運行環境(jing) windows 7；

b)     測(ce)量時實(shi)時顯(xian)示(shi)采(cai)集(ji)到(dao)的電滯(zhi)回(hui)線，可(ke)定量得(de)到(dao)鐵(tie)電材(cai)料的飽和(he)極化(hua)Ps、剩余(yu)極化(hua)Pr、矯(jiao)頑(wan)場(chang)Ec、漏電流(liu)等參(can)數(shu)；可(ke)以(yi)進行鐵(tie)電材(cai)料的鐵(tie)電疲勞性能、鐵(tie)電保(bao)持性(xing)能的測試(shi)，可(ke)選(xuan)擇測量模(mo)式(shi)、掃(sao)描電場(chang)的幅(fu)值等；

c)   依(yi)據(ju)位移回歸(gui)法(fa)繪制樣品(pin)D33應變(bian)/位移曲線（蝴蝶(die)曲線）

d)   測(ce)量結(jie)果(guo)可(ke)以(yi)保(bao)存為(wei)數據(ju)文件(jian)供(gong)Origin等數(shu)據(ju)處理(li)軟(ruan)件(jian)調用(yong)處(chu)理(li)，也(ye)可(ke)保(bao)存和(he)打印(yin)微(wei)機(ji)屏(ping)幕(mu)顯(xian)示(shi)結(jie)果(guo)界(jie)面；

e)   具有數(shu)據(ju)平滑化(hua)、電滯(zhi)回(hui)線校(xiao)正(zheng)等