描述：TZTFE-2000薄(bo)膜(mo)鐵電(dian)測(ce)試(shi)儀是壹款應用(yong)於薄(bo)膜(mo)材(cai)料(liao)的(de)鐵(tie)電(dian)性(xing)能(neng)測(ce)試(shi)的(de)設(she)備，該設(she)備具有(you)動(dong)態電滯(zhi)回(hui)線(DHM)、I-V特性、脈沖(chong)(PUND)、靜態電滯(zhi)回(hui)線(SHM)、疲勞(FM)、漏電(dian)流(LM)、電流-偏(pian)壓、保(bao)持(chi)力(li)(RM)、印跡(IM)的(de)測(ce)試(shi)功(gong)能(neng).，可廣(guang)泛地應用於如各種鐵(tie)電/壓(ya)電(dian)/熱(re)釋(shi)電薄(bo)膜(mo)、厚(hou)膜(mo)、體材(cai)料(liao)和電(dian)子陶(tao)瓷、鐵(tie)電(dian)傳感(gan)器/執(zhi)行(xing)器(qi)/存(cun)儲(chu)器(qi)等(deng)領域(yu)的(de)研(yan)究(jiu)。

TZTFE-2000薄(bo)膜(mo)鐵電(dian)測(ce)試(shi)儀

TZTFE-2000薄(bo)膜(mo)鐵電(dian)測(ce)試(shi)儀是(shi)壹款應用(yong)於薄(bo)膜(mo)材(cai)料(liao)的(de)鐵(tie)電(dian)性(xing)能(neng)測(ce)試(shi)的(de)設(she)備，該設(she)備具有(you)動(dong)態電滯(zhi)回(hui)線(DHM)、I-V特性、脈沖(chong)(PUND)、靜態電滯(zhi)回(hui)線(SHM)、疲勞(FM)、漏電(dian)流(LM)、電流-偏(pian)壓、保(bao)持(chi)力(li)(RM)、印跡(IM)的(de)測(ce)試(shi)功(gong)能(neng).，可廣(guang)泛地應用於如各種鐵(tie)電/壓(ya)電(dian)/熱(re)釋(shi)電薄(bo)膜(mo)、厚(hou)膜(mo)、體材(cai)料(liao)和電(dian)子陶(tao)瓷、鐵(tie)電(dian)傳感(gan)器/執(zhi)行(xing)器(qi)/存(cun)儲(chu)器(qi)等(deng)領域(yu)的(de)研(yan)究(jiu)。

TZTFE-2000薄(bo)膜(mo)鐵測(ce)試(shi)儀(yi)與(yu)探(tan)針(zhen)臺配套(tao)使用(yong)，可實現(xian)薄(bo)膜(mo)的(de)鐵(tie)電(dian)性(xing)能(neng)測(ce)試(shi)。動態電滯(zhi)回(hui)線測試(shi)頻(pin)率(lv)和激(ji)勵(li)測試(shi)電源，用戶可根據(ju)需要進(jin)行選擇(ze)，動(dong)態電滯(zhi)回(hui)線測試(shi)頻(pin)率(lv)範圍為(wei)1mHz～500kHz可選，激(ji)勵(li)測(ce)試電源(yuan)±10/30/100/200/500VAC可選，也(ye)可根據(ju)用(yong)戶需要進(jin)行定(ding)制(zhi)。

TZTFE-2000薄(bo)膜(mo)鐵測(ce)試(shi)儀(yi)本(ben)測試(shi)系統由主控(kong)器、探(tan)針(zhen)臺、計(ji)算機(ji)及(ji)系統軟件部(bu)分(fen)組成(cheng)。主控(kong)器(qi)集成(cheng)了(le)內置(zhi)激勵(li)測試電源、電荷(he)積(ji)分器、可編程(cheng)放(fang)大器(qi)、模數轉換(huan)器、通(tong)訊總(zong)線等(deng)功(gong)能(neng)，系統軟件包括可視化數據采(cai)集和管(guan)理(li)功(gong)能(neng)，測(ce)試(shi)時(shi)，無需改(gai)變測試樣品的(de)連接，即(ji)可實現(xian)滯(zhi)回(hui)，脈(mai)沖，漏電(dian)，IV等(deng)性能(neng)測試。

本(ben)測試(shi)系統鐵電性能(neng)測試(shi)采(cai)用改(gai)進(jin)的(de)Sawyer- Tower測(ce)量(liang)方(fang)法(fa)，與(yu)傳統的(de)Sawyer- Tower模式(shi)相(xiang)比(bi)，此(ci)電(dian)路取消了(le)外(wai)接電容，可減(jian)小寄(ji)生元件的(de)影(ying)響(xiang)。此電(dian)路的(de)測(ce)試(shi)精(jing)度僅(jin)取決於積分器(qi)積分(fen)電(dian)容的(de)精(jing)度，減(jian)少了(le)對測(ce)試的(de)影(ying)響(xiang)環節(jie)，容易(yi)定(ding)標和校(xiao)準，並且(qie)能實(shi)現(xian)較(jiao)高(gao)的(de)測(ce)量(liang)準確(que)度(du)。

本(ben)系統提(ti)供外(wai)接高壓放(fang)大器(qi)的(de)接口，對於需要做高壓測試(shi)、高壓漏電(dian)流測試(shi) 的(de)用(yong)戶，可直接擴展此功(gong)能(neng)。

用(yong)戶選擇(ze)此(ci)款設(she)備，需向廠家(jia)提(ti)供測(ce)試頻(pin)率(lv)、激(ji)勵測(ce)試電(dian)壓等(deng)要求(qiu)。

測試功(gong)能(neng)：

·         動(dong)態電滯(zhi)回(hui)線(DHM)

·         I-V特性

·         脈沖(chong)(PUND)

·         靜態電滯(zhi)回(hui)線(SHM)

·         疲勞(FM)

·         漏電(dian)流(LM)

·         電流-偏(pian)壓

·         保(bao)持(chi)力(li)(RM)

·         印跡(IM)

可擴展部件：

·         探(tan)針(zhen)臺

·         主要(yao)技(ji)術參數：

1.電壓(ya)範圍（內置(zhi)電壓(ya)）：±40V，（可外(wai)接高壓放(fang)大器(qi)，最大10KV）；

2.ADC位(wei)數：18；

3.最小電(dian)荷(he)分辨(bian)率(lv)：≤10fC；

4.最(zui)大電(dian)荷分(fen)辨率(lv)：276μC；

5.最(zui)大電(dian)滯(zhi)回(hui)線測試(shi)頻(pin)率(lv)：0.03Hz~300KHz；

6.最(zui)小電(dian)滯(zhi)回(hui)線測試(shi)頻(pin)率(lv)：0.01Hz；

7.最(zui)小脈(mai)沖(chong)寬度：1μs；

8.最(zui)小脈(mai)沖(chong)上升(sheng)時間(jian)：50μs；

9.最大脈沖(chong)寬度：1μs；

10.額定(ding)功(gong)率(lv)：≥500W；

11.設(she)備總(zong)電源(yuan)方式(shi)：AC：220V；

12.配備JKTD型(xing)探(tan)針(zhen)臺(尺(chi)寸(cun):直徑30mm,材(cai)質(zhi)：銅(tong),線纜：同軸(zhou)線/三軸(zhou)線；)

13.漏電(dian)精(jing)度：1pA；

14.固(gu)定(ding)探(tan)針(zhen)：彈簧(huang)固(gu)定(ding)/管(guan)狀(zhuang)固(gu)定(ding)；

15.接頭類型(xing)：BNC/三軸(zhou)/香蕉頭(tou)/鱷(e)魚(yu)夾/接線端子。

選配高(gao)壓(ya)功(gong)率(lv)放(fang)大器(qi):

1.輸出(chu)電(dian)壓：-200～200V

2.輸出(chu)電(dian)流：-100～100mA

3.大信(xin)號帶(dai)寬：DC≥500KHz/s

4.小信(xin)號帶(dai)寬：DC≥10kHz(-3dB)

5.隨(sui)時間(jian)穩定(ding)性(xing)：50ppm/小時(shi)；

6.隨(sui)溫(wen)度(du)穩(wen)定(ding)性(xing)：200℃；

7.精(jing)度：≤0.1%滿量程；

8.設(she)備帶有(you)TTL接口；

9.設(she)備帶有(you)遠(yuan)端控制(zhi)BNC接口；

10.供電(dian)：220V，50Hz。