TF ANALYZER 1000是(shi)壹款緊(jin)湊(cou)型鐵(tie)電壓(ya)電(dian)分析儀(yi)，具(ju)備鐵電、壓(ya)電(dian)材料所(suo)有(you)基本特(te)性(xing)測試(shi)功能(neng)，可與激(ji)光幹(gan)涉(she)儀(yi)和SPM掃(sao)描(miao)探(tan)針(zhen)顯(xian)微鏡等微位移(yi)傳感器(qi)聯用(yong)，適用(yong)於(yu)薄膜、厚(hou)膜和(he)塊(kuai)狀陶(tao)瓷(ci)及鐵電(dian)器(qi)件等(deng)分析(xi)測試(shi)。

本測試(shi)系統(tong)用(yong)於(yu)鐵電(dian)體(ti)的(de)鐵電(dian)性(xing)能測量(liang)，可用(yong)於(yu)鐵電(dian)體(ti)的(de)科(ke)學(xue)研究(jiu)及近代物理(li)實(shi)驗(yan)中(zhong)的(de)固體(ti)物理(li)實驗(yan)以(yi)及工業(ye)化(hua)生產(chan)鐵電存(cun)儲器(qi)的(de)鐵電(dian)性(xing)能檢測中(zhong)，本測試(shi)系統(tong)主(zhu)要(yao)由信(xin)號(hao)源、高壓(ya)電(dian)源、電荷放大(da)器(qi)、積(ji)分器(qi)、示(shi)波(bo)器(qi)、計(ji)算(suan)機通訊接(jie)口(kou)、計(ji)算(suan)機和應用(yong)軟件等(deng)部分組成。 模(mo)式(shi)測量(liang)電路，與傳(chuan)統(tong)的(de) Sawyer-Tawer-模(mo)式(shi)相比，此電路取消(xiao)了(le)外接(jie)電容，可減(jian)小寄生元(yuan)件的(de)影響(xiang)。此電路的(de)測試(shi)精度(du)取決(jue)於(yu)積(ji)分器(qi)積(ji)分電(dian)容的(de)精度(du)，減(jian)少了(le)對(dui)測試(shi)

模(mo)式(shi)測量(liang)電路，與傳(chuan)統(tong)的(de) Sawyer-Tawer-模(mo)式(shi)相比，此電路取消(xiao)了(le)外接(jie)電容，可減(jian)小寄生元(yuan)件的(de)影響(xiang)。此電路的(de)測試(shi)精度(du)取決(jue)於(yu)積(ji)分器(qi)積(ji)分電(dian)容的(de)精度(du)，減(jian)少了(le)對(dui)測試(shi)的(de)影響(xiang)環(huan)節(jie),比(bi)較容易(yi)定標(biao)和校(xiao)準，且能實(shi)現較高(gao)的(de)測量(liang)準確度(du)它(ta)不僅能(neng)畫出(chu)鐵(tie)電(dian)薄膜的(de)電滯(zhi)回線還(hai)可(ke)以(yi)定量(liang)得到(dao)鐵(tie)電(dian)薄膜材(cai)料(liao)的(de)和極(ji)化(hua)Ps、剩余(yu)極(ji)化(hua)Pr、矯頑(wan)場(chang)Ec、漏(lou)電(dian)流(liu)k等參(can)數(shu)，以及對鐵(tie)電薄膜材(cai)料(liao)的(de)鐵電(dian)勞性(xing)能、鐵(tie)電保(bao)持(chi)性(xing)能的(de)測試(shi)，能夠較全(quan)面確地測量(liang)鐵

TDZT-04C 鐵電材(cai)料測試(shi)儀(yi) 關鍵詞(ci)：電(dian)滯(zhi)回線，疲勞，脈沖(chong)，漏電(dian)流(liu)， TDZT-04C鐵電(dian)測試(shi)儀(yi)通過(guo)全(quan)局總線進行控(kong)制(zhi)，可以(yi)有(you)效提高(gao)儀(yi)器(qi)控制(zhi)速度(du)及安(an)全水平。設(she)備(bei)采(cai)用(yong)孔浮地技(ji)術(shu)，可有(you)效地降(jiang)低(di)電荷(he)泄露(lu)造(zao)成的(de)驅動(dong)能(neng)力(li)弱及電壓(ya)泄露(lu)隱患。高壓(ya)部分與低壓(ya)部分通過(guo)浮(fu)地結(jie)構(gou)隔離，並(bing)在(zai)低(di)壓(ya)部分配置(zhi)有(you)高壓(ya)放(fang)電管及附屬設(she)施，從而(er)避免(mian)因(yin)高壓(ya)泄露(lu)造(zao)成的(de)損(sun)害。 本(ben)次(ci)研發采(cai)用(yong)DDS數字(zi)脈沖(chong)輸(shu)出技術，可(ke)以在(zai)技(ji)術(shu)

JKGT-G300高溫(wen)鐵電(dian)材(cai)料(liao)測試(shi)儀(yi)是(shi)壹套建立(li)在(zai)高(gao)溫(wen)高壓(ya)下(xia)的(de)鐵電(dian)測量(liang)系統(tong)，旨(zhi)在(zai)針(zhen)對(dui)壹些特(te)殊的(de)要求(qiu)材(cai)料(liao)需(xu)要在(zai)高(gao)溫(wen)下測量(liang)而研發的(de)壹套鐵(tie)電(dian)測量(liang)系統(tong)。該(gai)系統(tong)不僅僅(jin)在(zai)溫(wen)度(du)上將(jiang)實現了(le)高(gao)溫(wen)測試(shi)，而且在(zai)電(dian)壓(ya)和(he)頻(pin)率上(shang)進行了(le)提高(gao)，對我(wo)們(men)的(de)鐵電(dian)材(cai)料(liao)研究(jiu)和(he)測試(shi)帶來(lai)更加(jia)重(zhong)要的(de)幫(bang)助，該系統可(ke)以(yi)測量(liang)鐵電(dian)材(cai)料的(de)電滯(zhi)回線，飽和(he)極(ji)化(hua)Ps、剩余(yu)極(ji)化(hua)Pr、矯頑(wan)場(chang)Ec、漏(lou)電(dian)流(liu)、疲勞、保(bao)持(chi)、I-V。