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2025-12-01訪(fang)問(wen)量(liang)
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材(cai)料電(dian)學性(xing)能(neng)測試儀
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詳(xiang)細(xi)介(jie)紹
| 品(pin)牌(pai) | 其他品(pin)牌(pai) | 應(ying)用領(ling)域(yu) | 電(dian)氣 |
|---|
JKGT-G300高(gao)溫鐵(tie)電(dian)材(cai)料測(ce)試儀介(jie)紹:
關(guan)鍵(jian)詞(ci):鐵電材料參(can)數(shu)測試(shi)儀,高(gao)溫鐵(tie)電(dian),高(gao)溫鐵(tie)電(dian)分析(xi)。

JKGT-G300高(gao)溫鐵(tie)電(dian)材(cai)料測(ce)量(liang)系(xi)統是壹套建立在(zai)高(gao)溫高(gao)壓(ya)下(xia)的鐵(tie)電(dian)測量(liang)系(xi)統,旨在(zai)針(zhen)對(dui)壹些特(te)殊的要求(qiu)材(cai)料需(xu)要在(zai)高(gao)溫下(xia)測(ce)量(liang)而研(yan)發的壹套鐵(tie)電測(ce)量(liang)系(xi)統。該系(xi)統不(bu)僅(jin)僅(jin)在(zai)溫度上將實(shi)現(xian)了(le)高(gao)溫測(ce)試(shi),而且(qie)在(zai)電(dian)壓(ya)和(he)頻(pin)率(lv)上進行(xing)了(le)提(ti)高(gao),對我們(men)的鐵(tie)電(dian)材料研(yan)究和(he)測試帶(dai)來(lai)更(geng)加(jia)重要的幫(bang)助(zhu),該系(xi)統可以(yi)測(ce)量(liang)鐵(tie)電(dian)材(cai)料的電(dian)滯(zhi)回線,飽和(he)極(ji)化Ps、剩余極化Pr、矯(jiao)頑(wan)場Ec、漏電流(liu)、疲(pi)勞、保(bao)持(chi)、I-V和開(kai)關(guan)特(te)性(xing)等性(xing)能(neng)的測(ce)試(shi),是科(ke)研(yan)機構(gou)和(he)高等(deng)院(yuan)校進行(xing)研(yan)究的重要輔助(zhu)工(gong)具(ju)。
產(chan)品(pin)主要用途:
1、應(ying)用高溫下(xia)薄膜、厚(hou)膜的鐵(tie)電(dian)材料性(xing)能(neng)測試和研(yan)究。
2、應(ying)用高溫下(xia)塊(kuai)狀陶(tao)瓷、鐵(tie)電器件(jian)及(ji)存儲(chu)器等鐵(tie)電(dian)材料領(ling)域(yu)的研(yan)究。
高(gao)溫鐵(tie)電(dian)材(cai)料測(ce)試儀優(you)勢(shi):
1、高(gao)溫電(dian)壓(ya)提(ti)高至(zhi):0-20KV
2、高(gao)溫頻(pin)率(lv)提高(gao)至(zhi):0-15KHZ
3、計算機自動控(kong)制(zhi)直接(jie)讀出數(shu)據(ju),測試準(zhun)確(que)
4、配(pei)置高(gao)壓(ya)信(xin)號發(fa)生器,可測量(liang)陶(tao)瓷材(cai)料的鐵(tie)電(dian)性(xing)能(neng)
5、不(bu)僅(jin)能(neng)畫出鐵(tie)電(dian)薄膜的電(dian)滯(zhi)回線,還可以(yi)定量(liang)得(de)到鐵(tie)電(dian)薄膜材料的飽和(he)極(ji)化Ps、剩余極化Pr、矯(jiao)頑(wan)場Ec、漏電流(liu)等(deng)參(can)數(shu),還可以(yi)進行(xing)鐵電薄膜材料的鐵(tie)電(dian)疲勞(lao)性(xing)能(neng)、鐵電保持(chi)性(xing)能(neng)的測(ce)試(shi),電阻(zu)測量(liang),漏電流(liu)測(ce)量(liang)
主要技(ji)術(shu)指(zhi)標參(can)數(shu):
1、測試(shi)電(dian)壓:0-20KV連(lian)續(xu)可調(tiao)
2、測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv):0-15KHZ
3、溫度測量(liang)範圍:0-300℃(特(te)殊定制(zhi):可以(yi)800℃)
4、輸(shu)出電(dian)流(liu):±50mA
5、溫控(kong)精度誤差:±1%
6、電流(liu)範圍:1nA~1A
7、測(ce)試(shi)用信(xin)號源(yuan):計算機控(kong)制(zhi)
8、測試(shi)速(su)度:測量(liang)時(shi)間(jian)《5秒(miao)/樣品(pin)·溫度點》
9、控(kong)制(zhi)方式:計算機實時(shi)控(kong)制(zhi)、實時(shi)顯示(shi)、實(shi)時(shi)數(shu)據(ju)計算、分析(xi)與(yu)存儲(chu)
10、軟(ruan)件(jian)采(cai)集(ji):自動采(cai)集軟(ruan)件(jian),分析(xi)可以(yi)兼(jian)容(rong)其他相(xiang)關(guan)主流軟(ruan)件(jian)
11、樣品(pin)規格:塊(kuai)體材(cai)料尺寸(cun):直徑2-100mm,厚(hou)度0.1-10mm,薄膜:直徑:1-60mm
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