描(miao)述：模式(shi)測量(liang)電(dian)路(lu)，與傳統的(de) Sawyer-Tawer-模式(shi)相比(bi)，此電(dian)路(lu)取(qu)消(xiao)了(le)外接電(dian)容(rong)，可減(jian)小(xiao)寄(ji)生元件的(de)影(ying)響。此(ci)電(dian)路(lu)的(de)測試(shi)精(jing)度(du)取(qu)決(jue)於(yu)積分(fen)器(qi)積分(fen)電(dian)容(rong)的(de)精(jing)度(du)，減(jian)少(shao)了(le)對測試(shi)的(de)影(ying)響環節,比(bi)較容(rong)易定標(biao)和校(xiao)準，且(qie)能實現(xian)較高的(de)測量(liang)準(zhun)確度(du)它(ta)不(bu)僅能畫(hua)出(chu)鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜(mo)的(de)電(dian)滯(zhi)回線還可以(yi)定量得(de)到(dao)鐵電(dian)薄(bo)膜(mo)材料的(de)和極(ji)化(hua)Ps、剩余極(ji)化(hua)Pr、矯頑場Ec、漏(lou)電(dian)流(liu)k等參(can)數，以及對鐵電(dian)薄(bo)膜(mo)材料的(de)鐵(tie)電(dian)勞(lao)性能、鐵電(dian)保(bao)持(chi)性能的(de)測試(shi)，能夠較(jiao)全(quan)面(mian)確地測量(liang)鐵(tie)

JKTD-1000型(xing)鐵電(dian)材料特性測試(shi)系(xi)統

關(guan)鍵詞(ci)：電(dian)滯(zhi)回線，蝴蝶曲(qu)線，疲勞(lao)，脈沖(chong)

1.系(xi)統簡介：

鐵(tie)電(dian)體(ti)具(ju)有介電(dian)壓(ya)電(dian)、熱(re)釋(shi)電(dian)、鐵(tie)電(dian)性(xing)質(zhi)以(yi)及與之相關的(de)電(dian)致伸(shen)縮性(xing)質(zhi)非(fei)線性光學(xue)性質、電(dian)光性(xing)質(zhi)、聲光性(xing)質(zhi)、光折(zhe)變(bian)性質(zhi)、鐵電(dian)記(ji)憶存儲(chu)性(xing)能等等(deng)，都(dou)與其(qi)電(dian)極(ji)化(hua)性質相關(guan)，特別是電(dian)介質的(de)熱(re)釋(shi)電(dian)與(yu)鐵(tie)電(dian)性(xing)質(zhi)都(dou)與其(qi)白(bai)發極(ji)化(hua)相關，由(you)於(yu)鐵電(dian)體(ti)具(ju)有上(shang)述性質，因(yin)而(er)在諸(zhu)多(duo)高技術(shu)中(zhong)有著(zhe)很(hen)重(zhong)要的(de)應用(yong)利用(yong)其壓(ya)電(dian)性(xing)能可制(zhi)作(zuo)電(dian)聲(sheng)換(huan)能器(qi)，用(yong)於(yu)超(chao)聲波探(tan)測，聲(sheng)納，穩(wen)頻(pin)振諧器(qi)，聲表面(mian)波器(qi)件等；利用(yong)其熱(re)釋(shi)電(dian)性(xing)質(zhi)可制(zhi)作(zuo)紅(hong)外探(tan)測器(qi),紅(hong)外監視(shi)器(qi),熱成像(xiang)系(xi)統等(deng)利用(yong)線性光學(xue)效應可制(zhi)作(zuo)激(ji)光倍(bei)頻(pin)、三倍(bei)額(e)和頻(pin)；差頻(pin)器(qi)：利用(yong)電(dian)光性(xing)可制(zhi)作(zuo)激(ji)光電(dian)光開(kai)關，光偏轉(zhuan)器(qi)，光調器(qi)等：利用(yong)聲光效應可制(zhi)作(zuo)激(ji)光聲(sheng)光開(kai)關，聲(sheng)光偏轉(zhuan)器(qi)、聲光調制(zhi)器(qi)等：利用(yong)光折(zhe)變(bian)效應可制(zhi)作(zuo)光存儲(chu)器(qi)件；鐵電(dian)材料的(de)鐵(tie)電(dian)性(xing)可制(zhi)作(zuo)鐵(tie)電(dian)記(ji)憶存器(qi)。

本測試(shi)系(xi)統用(yong)於(yu)鐵電(dian)體(ti)的(de)鐵(tie)電(dian)性(xing)能測量(liang)，可用(yong)於(yu)鐵電(dian)體(ti)的(de)科(ke)學(xue)研究及近代物理(li)實(shi)驗中(zhong)的(de)固(gu)體(ti)物(wu)理(li)實(shi)驗以及工業化(hua)生產(chan)鐵(tie)電(dian)存儲(chu)器(qi)的(de)鐵(tie)電(dian)性(xing)能檢(jian)測中(zhong)，本測試(shi)系(xi)統主(zhu)要由(you)信號源(yuan)、高壓電(dian)源(yuan)、電(dian)荷(he)放(fang)大(da)器(qi)、積分(fen)器(qi)、示(shi)波器(qi)、計算(suan)機通訊接口、計算(suan)機和應用(yong)軟件等部分(fen)組成(cheng)。

模式(shi)測量(liang)電(dian)路(lu)，與傳統的(de) Sawyer-Tawer-模式(shi)相比(bi)，此電(dian)路(lu)取(qu)消(xiao)了(le)外接電(dian)容(rong)，可減(jian)小(xiao)寄(ji)生元件的(de)影(ying)響。此(ci)電(dian)路(lu)的(de)測試(shi)精(jing)度(du)取(qu)決(jue)於(yu)積分(fen)器(qi)積分(fen)電(dian)容(rong)的(de)精(jing)度(du)，減(jian)少(shao)了(le)對測試(shi)的(de)影(ying)響環節,比(bi)較容(rong)易定標(biao)和校(xiao)準，且(qie)能實現(xian)較高的(de)測量(liang)準(zhun)確度(du)它(ta)不(bu)僅能畫(hua)出(chu)鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜(mo)的(de)電(dian)滯(zhi)回線還可以(yi)定量得(de)到(dao)鐵電(dian)薄(bo)膜(mo)材料的(de)和極(ji)化(hua)Ps、剩余極(ji)化(hua)Pr、矯頑場Ec、漏(lou)電(dian)流(liu)k等參(can)數，以及對鐵電(dian)薄(bo)膜(mo)材料的(de)鐵(tie)電(dian)勞(lao)性能、鐵電(dian)保(bao)持(chi)性能的(de)測試(shi)，能夠較(jiao)全(quan)面(mian)確地測量(liang)鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜(mo)的(de)鐵(tie)電(dian)性(xing)能，儀器(qi)采(cai)儀器(qi)采(cai)用(yong)壹體(ti)化(hua)設計，實現(xian)測試(shi)結(jie)果全數字化(hua)，操作簡單方便。

壹(yi)、產品主要(yao)用(yong)途：

1、可廣(guang)泛應用(yong)於(yu)薄膜、厚(hou)膜(mo)的(de)鐵(tie)電(dian)材料性能測試(shi)和研究

2、可廣(guang)泛應用(yong)於(yu)塊狀(zhuang)陶(tao)瓷、鐵電(dian)器(qi)件及存儲(chu)器(qi)等鐵電(dian)材料領域的(de)研究。

二(er)、測試(shi)主(zhu)要(yao)技(ji)術參數：

1、電(dian)滯(zhi)回線（包含(han)飽(bao)和極(ji)化(hua)，剩余極(ji)化(hua)，漏電(dian)流(liu)等參(can)數）

2、鐵(tie)電(dian)材料疲勞(lao)測試(shi)，保(bao)持(chi)性能測試(shi)等(deng)

3、鐵(tie)電(dian)材料脈沖測試(shi), 印(yin)跡(ji)等(deng)參數

4、應變/位移曲(qu)線（蝴蝶曲(qu)線）

三(san)、主(zhu)要技術指標(biao)

1)        輸(shu)出(chu)信(xin)號電(dian)壓(ya)：±10000V

2)        施加(jia)頻(pin)率(lv)：1Hz到(dao)1000Hz

3)        波形(xing)：正弦(xian)波、三角(jiao)波、方波

4)        USB示(shi)波器(qi)：4CH；70MHz

5)        絕緣電(dian)阻(zu)/漏(lou)電(dian)流(liu)測量(liang)：10TΩ/1pA,1000V

6)        電(dian)滯(zhi)回線測試(shi)變(bian)溫(wen)範(fan)圍(wei)：RT~200℃

7)        變(bian)溫測量(liang)控(kong)制(zhi)單(dan)元：精(jing)度(du)0.1℃；功(gong)率(lv)：500W；接口：RS485

8)        測試(shi)采(cai)樣(yang)速度(du)：<5秒(miao)/樣(yang)品•溫度(du)點(dian)  

9)        樣(yang)品規格：陶瓷塊體(ti)：Φ10-100mm，厚(hou)度(du)0.1~10mm

             薄(bo)膜樣(yang)品：Φ10-100mm，厚度(du)1~100μm

10)    控(kong)制(zhi)方(fang)式(shi)：計算(suan)機實時控(kong)制(zhi)、實(shi)時(shi)顯(xian)示(shi)、實(shi)時(shi)數(shu)據計算(suan)

11)    數(shu)據采(cai)集分(fen)析軟件：

a)        運(yun)行環境 windows 7；

b)        測量(liang)時(shi)實(shi)時(shi)顯(xian)示(shi)采(cai)集到(dao)的(de)電(dian)滯(zhi)回線，可定(ding)量得(de)到(dao)鐵電(dian)材料的(de)飽(bao)和極(ji)化(hua)Ps、剩余極(ji)化(hua)Pr、矯頑場Ec、漏(lou)電(dian)流(liu)等參(can)數；可以(yi)進(jin)行鐵電(dian)材料的(de)鐵(tie)電(dian)疲勞(lao)性能、鐵電(dian)保(bao)持(chi)性能的(de)測試(shi)，可選擇測量(liang)模式(shi)、掃描(miao)電(dian)場的(de)幅值(zhi)等；

c)        依據位(wei)移(yi)回(hui)歸法繪制(zhi)樣(yang)品D33應變/位移曲(qu)線（蝴蝶曲(qu)線）

d)        測量(liang)結(jie)果可以(yi)保存為數據文(wen)件(jian)供Origin等數據(ju)處(chu)理(li)軟件調用(yong)處理(li)，也(ye)可保(bao)存和打印微(wei)機屏幕顯(xian)示(shi)結(jie)果界面(mian)；

e)        具(ju)有數據平滑(hua)化(hua)、電(dian)滯(zhi)回線校(xiao)正等(deng)數(shu)據(ju)處理(li)功(gong)能。

                                                      電(dian)滯(zhi)回線（壹）