描述(shu)：TDZT-04C 鐵電材(cai)料(liao)測試儀

關(guan)鍵(jian)詞：電滯(zhi)回(hui)線(xian)，疲(pi)勞，脈沖(chong)，漏電流(liu)，



TDZT-04C鐵電測試儀通(tong)過(guo)全局(ju)總線進行(xing)控制，可(ke)以有(you)效提(ti)高(gao)儀器(qi)控制速(su)度及安(an)全(quan)水(shui)平(ping)。設備采用孔(kong)浮(fu)地(di)技術，可(ke)有(you)效(xiao)地(di)降低電荷泄露(lu)造成的驅(qu)動(dong)能(neng)力弱(ruo)及(ji)電壓(ya)泄(xie)露(lu)隱患。高(gao)壓(ya)部(bu)分與(yu)低(di)壓(ya)部(bu)分通(tong)過(guo)浮(fu)地(di)結(jie)構(gou)隔(ge)離，並在低(di)壓(ya)部(bu)分配(pei)置(zhi)有高(gao)壓(ya)放電管(guan)及(ji)附屬(shu)設施(shi)，從(cong)而(er)避(bi)免(mian)因(yin)高(gao)壓(ya)泄露(lu)造成的損害。

本次研(yan)發(fa)采(cai)用(yong)DDS數字脈沖(chong)輸出(chu)技術，可(ke)以(yi)在技術

TDZT-04C 鐵電材(cai)料(liao)測試儀

關(guan)鍵(jian)詞：電滯(zhi)回(hui)線(xian)，疲(pi)勞，脈沖(chong)，漏電流(liu)，

TDZT-04C鐵電測試儀通(tong)過(guo)全局(ju)總線進行(xing)控制，可(ke)以有(you)效提(ti)高(gao)儀器(qi)控制速(su)度及安(an)全(quan)水(shui)平(ping)。設備采用孔(kong)浮(fu)地(di)技術，可(ke)有(you)效(xiao)地(di)降低電荷泄露(lu)造成的驅(qu)動(dong)能(neng)力弱(ruo)及(ji)電壓(ya)泄(xie)露(lu)隱患。高(gao)壓(ya)部(bu)分與(yu)低(di)壓(ya)部(bu)分通(tong)過(guo)浮(fu)地(di)結(jie)構(gou)隔(ge)離，並在低(di)壓(ya)部(bu)分配(pei)置(zhi)有高(gao)壓(ya)放電管(guan)及(ji)附屬(shu)設施(shi)，從(cong)而(er)避(bi)免(mian)因(yin)高(gao)壓(ya)泄露(lu)造成的損害。

本次研(yan)發(fa)采(cai)用(yong)DDS數字脈沖(chong)輸出(chu)技術，可(ke)以(yi)在技術指(zhi)標範圍內(nei)實(shi)現(xian)正弦波(bo)，三角波(bo)，鋸齒波(bo)及方(fang)波(bo)脈沖(chong)的輸(shu)出(chu)。經過(guo)高(gao)精度運放對相關(guan)信(xin)號進行(xing)放大和輸出(chu)。通(tong)過(guo)自(zi)研(yan)的(de)升(sheng)壓(ya)裝(zhuang)置(zhi)輸出(chu)相應的測試脈沖(chong)。由(you)於選用器(qi)件具(ju)有(you)更好的高(gao)頻(pin)響(xiang)應特性(xing)，可以保證在整(zheng)個(ge)測量範圍內(nei)的(de)線性(xing)輸出(chu)，保證高(gao)精度的測量結(jie)果(guo)。

壹、產品介紹(shao)：

 TDZT-04C鐵電材(cai)料(liao)測試儀是適(shi)用於(yu)鐵電薄(bo)膜、鐵電體(ti)材(cai)料(liao)（既(ji)可(ke)塊(kuai)體材(cai)料(liao)）的(de)電性(xing)能(neng)測量，可測量鐵電薄(bo)膜電滯(zhi)回(hui)線(xian)、可(ke)精確(que)地測出(chu)具(ju)有(you)非對稱(cheng)電滯(zhi)回(hui)線(xian)鐵電薄(bo)膜的Pr值(zhi)。

主要(yao)技術指(zhi)標：

1.輸出(chu)信號電壓(ya)： 0～±2000V（特殊電壓(ya)可(ke)以(yi)定(ding)制）高(gao)精度24位的模數轉換(huan)器(qi)；內(nei)部(bu)同步時(shi)鐘(zhong)的響(xiang)應速(su)度10us

2、測量頻(pin)率：0.03Hz~3kHz；

電荷測量解析(xi)度(du)範圍: 20fC~200uC

3. .記憶特性(xing)測試參數：

自(zi)帶內(nei)部(bu)存儲曲線(xian)預設存儲器(qi)

多種(zhong)脈沖(chong)系(xi)列(lie)測試鐵電體(ti)記憶特性(xing)

4. 可進行(xing)漏電流(liu)-偏(pian)置(zhi)電壓(ya)測試和漏電流(liu)-時(shi)間(jian)測試

5.電容範圍：1000nf～ 100nf, 精度: ≤1%。

6.電流(liu)範圍: 1nA～10A ,精度: ≤1%。

7、測試樣品(pin)：0-20mm  5個(ge)

8、高(gao)壓(ya)樣品(pin)池：2個(ge)，壹個(ge)封(feng)閉式(shi)：8CM*6CM 壹個(ge)開放(fang)式：8CM*5CM

9、三維移動(dong)薄(bo)膜測試平(ping)臺(tai)：直(zhi)立式探針(zhen)壹套(tao)，角(jiao)度(du)式(shi)探針壹套(tao)

10、電流(liu)：1-10倍放(fang)大，信號：1-20倍。.數(shu)據結(jie)口(kou)：USB或(huo)BNC接(jie)口(kou)。

11.記憶特性(xing)測試參數：自(zi)帶內(nei)部(bu)存儲曲線(xian)預設存儲器(qi)

多種(zhong)脈沖(chong)系(xi)列(lie)測試鐵電體(ti)記憶特性(xing)

12.漏電流(liu)測試：可進行(xing)漏電流(liu)-偏(pian)置(zhi)電壓(ya)測試和漏電流(liu)-時(shi)間(jian)測試

13．疲(pi)勞測試:大疲勞測量頻(pin)率: 20kHz

14、輸(shu)入(ru)及輸出(chu)接(jie)口(kou)：高(gao)品(pin)質(zhi)耐壓(ya)輸出(chu)端子，端口(kou)具(ju)備超壓放(fang)電功(gong)能(neng)

具(ju)備RS485數據輸出(chu)接(jie)口(kou)，並(bing)預留網(wang)絡接(jie)口(kou)

15. 數據采集(ji)分(fen)析(xi)軟(ruan)件： 能(neng)畫(hua)出(chu)鐵電薄(bo)膜的電滯(zhi)回(hui)線(xian)，定(ding)量得(de)到(dao)鐵電薄(bo)膜材料(liao)的(de)飽和極化(hua)Ps、剩余(yu)極化(hua)Pr、矯(jiao)頑(wan)場Ec、漏(lou)電流(liu)等(deng)參數;可(ke)以(yi)進行(xing)鐵電薄(bo)膜材料(liao)的(de)鐵電疲(pi)勞(lao)性(xing)能(neng)、鐵電保持(chi)性能(neng)的測試，電阻(zu)測量，漏電流(liu)測量。

16.可(ke)以(yi)配(pei)合(he)ZJ-3和ZJ-6型(xing)壓(ya)電測試儀操(cao)作(zuo)系(xi)統(tong)