描述(shu)：本(ben)測(ce)試系(xi)統(tong)用於鐵(tie)電體(ti)的鐵(tie)電性能測(ce)量，可用(yong)於鐵(tie)電體(ti)的科(ke)學研究(jiu)及近(jin)代物理實(shi)驗中(zhong)的固體(ti)物理實(shi)驗以(yi)及工業(ye)化(hua)生產(chan)鐵(tie)電存(cun)儲器的(de)鐵(tie)電性能檢測(ce)中，本(ben)測(ce)試系(xi)統(tong)主要由信號源(yuan)、高(gao)壓電源(yuan)、電荷(he)放(fang)大(da)器、積(ji)分(fen)器(qi)、示波器(qi)、計(ji)算機(ji)通(tong)訊(xun)接(jie)口(kou)、計(ji)算機(ji)和應用軟(ruan)件等(deng)部分(fen)組成(cheng)。

模式(shi)測(ce)量電(dian)路，與傳統(tong)的(de) Sawyer-Tawer-模(mo)式相比(bi)，此(ci)電(dian)路取(qu)消(xiao)了外(wai)接電容(rong)，可減(jian)小(xiao)寄(ji)生(sheng)元件的影響(xiang)。此(ci)電(dian)路的(de)測(ce)試精度(du)取(qu)決(jue)於積(ji)分(fen)器(qi)積分電(dian)容(rong)的(de)精度(du)，減(jian)少了對(dui)測(ce)試

JKTD-1000型(xing)鐵(tie)電材(cai)料(liao)特性測(ce)試系(xi)統(tong)

關(guan)鍵(jian)詞：電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)，蝴(hu)蝶(die)曲(qu)線(xian)，疲(pi)勞(lao)，脈(mai)沖(chong)

1.系(xi)統(tong)簡(jian)介：

鐵(tie)電體(ti)具有介電壓(ya)電(dian)、熱釋(shi)電(dian)、鐵(tie)電性質(zhi)以(yi)及與之(zhi)相關的(de)電致(zhi)伸(shen)縮(suo)性質(zhi)非(fei)線(xian)性光學性質(zhi)、電(dian)光性質(zhi)、聲(sheng)光性質(zhi)、光折變(bian)性質(zhi)、鐵(tie)電記(ji)憶(yi)存(cun)儲性能等(deng)等(deng)，都與其電(dian)極(ji)化性質(zhi)相關，特別(bie)是(shi)電(dian)介質(zhi)的(de)熱釋(shi)電(dian)與鐵(tie)電性質(zhi)都(dou)與其白(bai)發極化相關，由於鐵(tie)電體(ti)具有上(shang)述性質(zhi)，因(yin)而(er)在諸(zhu)多(duo)高(gao)技術(shu)中(zhong)有著(zhe)很重(zhong)要的應用利(li)用其壓(ya)電(dian)性能可制(zhi)作電(dian)聲(sheng)換能器(qi)，用(yong)於超聲波(bo)探測(ce)，聲納，穩頻振(zhen)諧器，聲(sheng)表(biao)面波(bo)器(qi)件等(deng)；利(li)用其熱釋(shi)電(dian)性質(zhi)可制(zhi)作紅(hong)外(wai)探測(ce)器,紅(hong)外(wai)監視器,熱成(cheng)像系(xi)統(tong)等(deng)利(li)用線(xian)性光學效(xiao)應可制(zhi)作激(ji)光倍頻、三倍額(e)和頻；差(cha)頻器(qi)：利(li)用電(dian)光性可制(zhi)作激(ji)光電光開關，光偏轉器(qi)，光調器等(deng)：利(li)用聲(sheng)光效(xiao)應可制(zhi)作激(ji)光聲光開關，聲(sheng)光偏轉器(qi)、聲光調制(zhi)器等(deng)：利(li)用光折變(bian)效(xiao)應可制(zhi)作光存(cun)儲器件(jian)；鐵(tie)電材(cai)料(liao)的鐵(tie)電性可制(zhi)作鐵(tie)電記(ji)憶(yi)存(cun)器。

本(ben)測(ce)試系(xi)統(tong)用於鐵(tie)電體(ti)的鐵(tie)電性能測(ce)量，可用(yong)於鐵(tie)電體(ti)的科(ke)學研究(jiu)及近(jin)代物理實(shi)驗中(zhong)的固體(ti)物理實(shi)驗以(yi)及工業(ye)化(hua)生產(chan)鐵(tie)電存(cun)儲器的(de)鐵(tie)電性能檢測(ce)中，本(ben)測(ce)試系(xi)統(tong)主要由信號源(yuan)、高(gao)壓電源(yuan)、電荷(he)放(fang)大(da)器、積(ji)分(fen)器(qi)、示波器(qi)、計(ji)算機(ji)通(tong)訊(xun)接(jie)口(kou)、計(ji)算機(ji)和應用軟(ruan)件等(deng)部分(fen)組成(cheng)。

模(mo)式(shi)測(ce)量電(dian)路，與傳統(tong)的(de) Sawyer-Tawer-模(mo)式相比(bi)，此(ci)電(dian)路取(qu)消(xiao)了外(wai)接電容(rong)，可減(jian)小(xiao)寄(ji)生(sheng)元件的影響(xiang)。此(ci)電(dian)路的(de)測(ce)試精度(du)取(qu)決(jue)於積(ji)分(fen)器(qi)積分電(dian)容(rong)的(de)精度(du)，減(jian)少了對(dui)測(ce)試的影(ying)響(xiang)環(huan)節,比(bi)較(jiao)容(rong)易(yi)定標(biao)和校準(zhun)，且(qie)能(neng)實(shi)現(xian)較(jiao)高(gao)的測(ce)量準(zhun)確(que)度(du)它(ta)不僅(jin)能畫出(chu)鐵(tie)電薄(bo)膜(mo)的(de)電滯(zhi)回(hui)線(xian)還(hai)可以(yi)定量得(de)到鐵(tie)電薄(bo)膜(mo)材(cai)料(liao)的和(he)極化(hua)Ps、剩(sheng)余(yu)極化(hua)Pr、矯頑場Ec、漏電(dian)流k等(deng)參數(shu)，以(yi)及對鐵(tie)電薄(bo)膜(mo)材(cai)料(liao)的鐵(tie)電勞(lao)性能、鐵(tie)電保持性能的測(ce)試，能夠(gou)較(jiao)全(quan)面確地(di)測(ce)量鐵(tie)電薄(bo)膜(mo)的(de)鐵(tie)電性能，儀器(qi)采(cai)儀器(qi)采(cai)用壹體(ti)化設(she)計，實(shi)現(xian)測(ce)試結果(guo)全(quan)數(shu)字(zi)化，操(cao)作(zuo)簡(jian)單方便。

壹、產(chan)品(pin)主要用途：

1、可廣(guang)泛應用於薄(bo)膜(mo)、厚膜(mo)的(de)鐵(tie)電材(cai)料(liao)性能測(ce)試和研究(jiu)

2、可廣(guang)泛應用於塊狀陶瓷(ci)、鐵(tie)電器(qi)件(jian)及存(cun)儲器等(deng)鐵(tie)電材(cai)料(liao)領域(yu)的(de)研究(jiu)。

二(er)、測(ce)試主要技術(shu)參(can)數(shu)：

1、電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)（包(bao)含(han)飽(bao)和(he)極(ji)化(hua)，剩(sheng)余(yu)極化(hua)，漏電(dian)流等(deng)參數(shu)）

2、鐵(tie)電材(cai)料(liao)疲勞(lao)測(ce)試，保持性能測(ce)試等(deng)

3、鐵(tie)電材(cai)料(liao)脈沖(chong)測(ce)試, 印跡(ji)等(deng)參數(shu)

4、應變(bian)/位(wei)移曲線(xian)（蝴(hu)蝶(die)曲(qu)線(xian)）

三、主要技術(shu)指(zhi)標(biao)

1)        輸出(chu)信號電(dian)壓：±10000V

2)        施加頻率(lv)：1Hz到(dao)1000Hz

3)        波(bo)形：正(zheng)弦波、三角(jiao)波、方波

4)        USB示波器(qi)：4CH；70MHz

5)        絕(jue)緣(yuan)電阻/漏電(dian)流(liu)測(ce)量：10TΩ/1pA,1000V

6)        電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)測(ce)試變(bian)溫範(fan)圍(wei)：RT~200℃

7)        變(bian)溫測(ce)量控(kong)制(zhi)單元：精度(du)0.1℃；功(gong)率(lv)：500W；接(jie)口(kou)：RS485

8)        測(ce)試采樣(yang)速度(du)：<5秒(miao)/樣(yang)品•溫(wen)度(du)點(dian)  

9)        樣(yang)品規(gui)格：陶瓷(ci)塊體(ti)：Φ10-100mm，厚度(du)0.1~10mm

             薄(bo)膜(mo)樣(yang)品：Φ10-100mm，厚度(du)1~100μm

10)    控(kong)制(zhi)方式：計算機(ji)實(shi)時控(kong)制(zhi)、實(shi)時顯示、實(shi)時數(shu)據(ju)計算

11)    數(shu)據(ju)采集分析(xi)軟(ruan)件：

a)        運(yun)行(xing)環(huan)境(jing) windows 7；

b)        測(ce)量時(shi)實(shi)時顯示采集到的(de)電滯(zhi)回(hui)線(xian)，可定(ding)量得(de)到鐵(tie)電材(cai)料(liao)的飽(bao)和(he)極(ji)化(hua)Ps、剩(sheng)余(yu)極化(hua)Pr、矯頑場Ec、漏電(dian)流等(deng)參數(shu)；可以(yi)進行(xing)鐵(tie)電材(cai)料(liao)的鐵(tie)電疲(pi)勞(lao)性能、鐵(tie)電保持性能的測(ce)試，可選(xuan)擇測(ce)量模(mo)式、掃(sao)描電(dian)場的幅(fu)值(zhi)等(deng)；

c)        依(yi)據(ju)位(wei)移回歸(gui)法(fa)繪制(zhi)樣(yang)品D33應變(bian)/位(wei)移曲線(xian)（蝴(hu)蝶(die)曲(qu)線(xian)）

d)        測(ce)量結(jie)果可以(yi)保存(cun)為數(shu)據(ju)文件供(gong)Origin等(deng)數(shu)據(ju)處理軟(ruan)件調(tiao)用(yong)處(chu)理，也(ye)可保存(cun)和打(da)印微機(ji)屏(ping)幕顯示結果(guo)界面；

e)        具(ju)有數(shu)據(ju)平滑(hua)化(hua)、、電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)校正等(deng)數(shu)據(ju)處理功(gong)能(neng)。

                                                      電(dian)滯(zhi)回(hui)線(xian)（壹）