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          • JZKC-YDZK03A壓(ya)電(dian)阻抗(kang)分析儀(yi)(供(gong)應(ying)北(bei)京/上(shang)海(hai)/杭州(zhou)等全(quan)國各(ge)地(di))
            JZKC-YDZK03A壓電(dian)阻抗(kang)分析儀(yi)(供(gong)應(ying)北(bei)京/上(shang)海(hai)/杭州(zhou)等全(quan)國各(ge)地(di))

            JZKC-YDZK03A壓電(dian)阻抗(kang)分析儀(yi)是專門(men)用(yong)於壓(ya)電材料測試,主要(yao)是測試壓電材料的(de)正(zheng)反(fan)諧振頻率(lv),正(zheng)反(fan)諧振阻抗(kang)及(ji)壓電(dian)材(cai)料(liao)的電容(rong)等相(xiang)關(guan)系(xi)數,是(shi)壹(yi)款壓(ya)電器件(jian)的科學研(yan)究(jiu)重要(yao)輔(fu)助(zhu)工(gong)具,而(er)且可以配合壓陶瓷壓(ya)電分(fen)析夾(jia)具和壓電(dian)分析軟件(jian),可以測試壓電陶瓷的(de)壓電(dian)器件(jian)的頻率(lv)響(xiang)應(ying)曲(qu)線分(fen)析等相(xiang)關(guan)參數。現(xian)在是國內(nei)壓(ya)電材(cai)料器件(jian)科學研(yan)究(jiu)的重要(yao)工具(ju)。

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          • ZJ-5型(xing)積層(ceng)靜(jing)壓(ya)電系(xi)數測試儀(yi)d33測量儀(yi)
            ZJ-5型(xing)積層(ceng)靜(jing)壓(ya)電系(xi)數測試儀(yi)d33測量儀(yi)

            ZJ-5型(xing)積層(ceng)壓(ya)電(dian)測試儀(yi)(積層(ceng)靜(jing)壓(ya)電系(xi)數d33測量儀(yi))是為測量積層(ceng)壓(ya)電(dian)材料的(de)d33常數而(er)設計(ji)的儀(yi)器,它可用(yong)來測量具(ju)有(you)積層(ceng)大壓電(dian)常(chang)數的(de)壓(ya)電陶(tao)瓷,小壓電常(chang)數的(de)壓(ya)電單晶(jing)及(ji)壓電(dian)高分(fen)子(zi)材料。ZJ-5型(xing)積層(ceng)靜(jing)壓(ya)電系(xi)數d33測量儀(yi)測量範(fan)圍寬,分(fen)辨率(lv)細,可靠性(xing)高,操(cao)作簡(jian)單,對(dui)試樣大小及(ji)形狀無特殊(shu)要(yao)求,圓片、圓環(huan)、圓管(guan)、方塊、長(chang)條、柱(zhu)形(xing)及(ji)半球殼等均(jun)可測量。

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          • ZJ-3/4//5/6薄膜(mo)+塊體(ti)+粉末(mo)+夾(jia)具精(jing)密(mi)壓電(dian)系(xi)數D33測試儀(yi)
            ZJ-3/4//5/6薄膜(mo)+塊體(ti)+粉末(mo)+夾(jia)具精(jing)密(mi)壓電(dian)系(xi)數D33測試儀(yi)

            ZJ-6型(xing)壓電測試儀(yi)(準靜(jing)態(tai)d33/d31(+d15)測量儀(yi))是為測量壓(ya)電(dian)材料(liao)的d33常數而(er)設計(ji)的專用(yong)儀(yi)器,它可用(yong)來測量具(ju)有(you)大壓電(dian)常(chang)數的(de)壓(ya)電陶(tao)瓷,小壓電常(chang)數的(de)壓(ya)電單晶(jing)及(ji)壓電(dian)高分(fen)子(zi)材料。此(ci)外,也可測量任(ren)意取(qu)向(xiang)壓電單晶(jing)以及(ji)某些(xie)壓電(dian)器件(jian)的等效壓電(dian)d33/d15常(chang)數,儀(yi)器測量範(fan)圍寬,分(fen)辨率(lv)細,可靠性(xing)高,操(cao)作簡(jian)單,對(dui)試樣大小及(ji)形狀無特殊(shu)要(yao)求,圓片、圓環(huan)、圓管(guan)、方塊、長(chang)條、柱(zhu)形(xing)及(ji)半球殼等均(jun)可測量,測量結(jie)果和

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          • FE+鐵(tie)電測試儀(yi)(薄膜(mo)+塊體(ti)+高溫(wen)+探(tan)針(zhen)臺(tai))
            FE+鐵(tie)電(dian)測試儀(yi)(薄膜(mo)+塊體(ti)+高溫(wen)+探(tan)針(zhen)臺(tai))

            FE-5000型(xing)鐵電測試儀(yi)是壹(yi)款高量程(cheng)款(kuan)的鐵(tie)電性(xing)能(neng)材(cai)料測試裝置,這(zhe)款設備可以適(shi)用(yong)於鐵(tie)電薄膜(mo)、鐵電(dian)體材(cai)料(既可塊體(ti)材料)的電(dian)性(xing)能(neng)測量,可測量鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)電滯(zhi)回(hui)線、可測出(chu)具(ju)有(you)非(fei)對(dui)稱電滯(zhi)回(hui)線鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)值(zhi)。可以進(jin)行(xing)電致(zhi)應(ying)變(bian)測試,可以蝴(hu)蝶曲(qu)線(xian)功能(neng),設(she)備還可以擴展高溫(wen)電阻,高溫(wen)介電,電(dian)容(rong)-電(dian)壓曲線(xian),TSC/TSDC等功能(neng)。本儀(yi)器是從(cong)事壓(ya)電(dian)材料(liao)及(ji)壓電(dian)元(yuan)件(jian)生產、應(ying)用(yong)與(yu)研(yan)究(jiu)部(bu)門的(de)重要(yao)設備之(zhi)壹(yi),已經(jing)在各大高校(xiao)和科研(yan)院(yuan)所廣泛(fan)

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          • 鐵(tie)電分(fen)析儀(yi) TF Analyzer 1000
            鐵電(dian)分析儀(yi) TF Analyzer 1000

            TF-1000型(xing) 鐵電分(fen)析儀(yi)鐵電(dian)分析儀(yi),來自德(de)國的(de)技術,包(bao)括(kuo)眾(zhong)多型(xing)號及(ji)選配件(jian),模塊化(hua)設計的aixACCT 鐵(tie)電(dian)分(fen)析儀(yi)具有(you)優異(yi)的(de)擴展性(xing)。該系(xi)統(tong)可廣泛(fan)地應(ying)用(yong)於如各種(zhong)鐵電(dian)/壓(ya)電(dian)/熱(re)釋電(dian)薄膜(mo)、厚膜(mo)、體材(cai)料和電子(zi)陶瓷、鐵(tie)電傳感器/執(zhi)行(xing)器/存儲(chu)器等領域的(de)研(yan)究(jiu)。

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          • HFO-100型(xing)鉿基鐵電(dian)薄膜(mo)測試儀(yi)
            HFO-100型(xing)鉿基鐵電(dian)薄膜(mo)測試儀(yi)

            HFO-100型(xing)鉿基鐵電(dian)薄膜(mo)測試儀(yi)是壹(yi)款高量程(cheng)款(kuan)的鐵(tie)電性(xing)能(neng)材(cai)料測試裝置,這(zhe)款設備可以適(shi)用(yong)於鐵(tie)電薄膜(mo)、鐵電(dian)體材(cai)料(既可塊體(ti)材料)的電(dian)性(xing)能(neng)測量,可測量鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)電滯(zhi)回(hui)線、可測出(chu)具(ju)有(you)非(fei)對(dui)稱電滯(zhi)回(hui)線鐵(tie)電(dian)薄膜(mo)值(zhi)。

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