ZJ-3型精(jing)密(mi)D33測試(shi)儀四件套設備(bei)，是壹款能測量任意壓電(dian)陶瓷(ci)和(he)PVDF薄膜的測試(shi)設備(bei)，搭配(pei)了PZT-JH10/4型壓(ya)電(dian)極化(hua)裝置，PZT-30/1型(xing)壓電(dian)復合極(ji)化(hua)裝置（陶瓷(ci)+薄(bo)膜），還有TDZT-4C型(xing)鐵(tie)電(dian)測試(shi)儀，ZJ-YP15型壓(ya)電(dian)壓片(pian)機(ji)這四組設備(bei)，組合之後(hou)能實現實(shi)驗(yan)室內壓(ya)電(dian)陶瓷(ci)的從生產到(dao)極化(hua)的整(zheng)個(ge)流(liu)程，本(ben)儀器是從事壓(ya)電(dian)材料(liao)及壓(ya)電(dian)元件(jian)生(sheng)產、應(ying)用與研究(jiu)部(bu)門(men)的儀器。

YTJD-200型液(ye)態材料(liao)介(jie)電(dian)常數(shu)測試(shi)儀是按(an)照(zhao)教學(xue)研究(jiu)型(xing)大(da)學(xue)思路開(kai)發，讓(rang)學生(sheng)熟(shu)悉和(he)掌(zhang)握電(dian)介質(zhi)材料(liao)介(jie)電(dian)性能測試(shi)方法(fa)，培(pei)養(yang)他們(men)理論聯(lian)系實際(ji)、分(fen)析問(wen)題(ti)和(he)解(jie)決問(wen)題(ti)的能力，還可(ke)以(yi)讓(rang)學(xue)生進行功能材料(liao)的研發創新(xin)；是教學(xue)研究(jiu)型(xing)大(da)學(xue)電(dian)介質(zhi)材料(liao)介(jie)電(dian)性能研究(jiu)的實驗儀器。

ZJ-3型準(zhun)靜態D33測試(shi)儀是為測量壓(ya)電(dian)材料(liao)的d33常數而(er)設計的專用儀器，它可(ke)用(yong)來(lai)測量具(ju)有大(da)壓(ya)電(dian)常數(shu)的壓電(dian)陶瓷(ci)，小壓電(dian)常數(shu)的壓電(dian)單(dan)晶及壓(ya)電(dian)高分子(zi)材料(liao)。此(ci)外(wai)，也可(ke)測量任意取(qu)向(xiang)壓電(dian)單(dan)晶以(yi)及某些(xie)壓電(dian)器件(jian)的等效(xiao)壓(ya)電(dian)d’33常數(shu)，儀器測量範圍寬，分(fen)辨率細(xi)，可(ke)靠(kao)性高，操作簡單(dan)，對試(shi)樣(yang)大(da)小及形狀(zhuang)無(wu)特殊要(yao)求(qiu)，圓片(pian)、圓環(huan)、圓管、方塊(kuai)、長條、柱(zhu)形及半球殼等均可(ke)測量，測量結(jie)果和極性在三位(wei)半數字面板(ban)表上(shang)。

SFR-300雙試(shi)件導(dao)熱系數測試(shi)儀又(you)稱(cheng)為防(fang)護(hu)熱(re)板(ban)法(fa)導(dao)熱系數是衡量耐(nai)熱材料(liao)的導(dao)熱特性和保(bao)溫(wen)性能的重(zhong)要(yao)參(can)數(shu)，耐(nai)熱保(bao)溫(wen)材料(liao)的性能由材料(liao)的導(dao)熱系數決(jue)定。物質(zhi)的導(dao)熱系數取(qu)決於(yu)材料(liao)的成(cheng)分、空隙度、吸(xi)水(shui)性、含(han)水(shui)量(liang)、內(nei)部結(jie)構和熱傳(chuan)導(dao)時的環境與溫(wen)度(du)等諸多(duo)因(yin)素(su)。導(dao)熱性能的精(jing)確(que)測定對(dui)於(yu)環(huan)境(jing)工程、建(jian)築(zhu)工程、工業工程、科(ke)研(yan)、節能等都(dou)有重(zhong)要(yao)意義(yi)。

FE-5000型寬(kuan)量程鐵(tie)電(dian)性能測試(shi)儀是壹款精(jing)度高，量程款的鐵(tie)電(dian)性能材料(liao)測試(shi)裝置，這(zhe)款設備(bei)可(ke)以(yi)適(shi)用(yong)於(yu)鐵(tie)電(dian)薄膜、鐵(tie)電(dian)體材料(liao)（既可(ke)塊(kuai)體(ti)材料(liao)）的電(dian)性能測量，可(ke)測量鐵(tie)電(dian)薄膜電(dian)滯回(hui)線、I—V特性及開(kai)關特(te)性，可(ke)測出具(ju)有非(fei)對(dui)稱(cheng)電(dian)滯回(hui)線鐵(tie)電(dian)薄膜的Pr值。可(ke)測鐵(tie)電(dian)體材料(liao)的電(dian)滯回(hui)線及I—V特(te)性。而(er)且可(ke)以(yi)測量電(dian)致應(ying)變(bian)參數

TDZT-04型(xing)鐵(tie)電(dian)性能綜合測試(shi)儀是適(shi)用(yong)於(yu)鐵(tie)電(dian)薄膜、鐵(tie)電(dian)體材料(liao)（既可(ke)塊(kuai)體(ti)材料(liao)）的電(dian)性能測量，鐵(tie)電(dian)測試(shi)儀可(ke)測量鐵(tie)電(dian)薄膜電(dian)滯回(hui)線，可(ke)測出具(ju)有非(fei)對(dui)稱(cheng)電(dian)滯回(hui)線鐵(tie)電(dian)薄膜的Pr值。