壓(ya)電(dian)材(cai)料(liao)測試儀（準(zhun)靜(jing)態(tai)d33/d31（+d15）測量儀）是(shi)為測量壓(ya)電(dian)材(cai)料(liao)的(de)d33常數而設計的(de)儀器(qi)，它可(ke)用(yong)來(lai)測量具(ju)有(you)大壓(ya)電(dian)常(chang)數的(de)壓(ya)電(dian)陶(tao)瓷(ci)，小(xiao)壓(ya)電(dian)常(chang)數的(de)壓(ya)電(dian)單(dan)晶(jing)及(ji)壓(ya)電(dian)高分(fen)子(zi)材料(liao)。此(ci)外(wai)，也可測量任意(yi)取向(xiang)壓(ya)電(dian)單(dan)晶(jing)以(yi)及(ji)某些壓(ya)電(dian)器(qi)件(jian)的(de)等效壓(ya)電(dian)d33/d15常(chang)數，儀器(qi)測量範圍(wei)寬(kuan)，分辨率(lv)細，可(ke)靠(kao)性高，操(cao)作(zuo)簡(jian)單(dan)。

粉末(mo)材料(liao)電(dian)阻(zu)率(lv)測試儀是(shi)運(yun)用(yong)四端(duan)子(zi)法或(huo)四探(tan)針法(fa)測試粉末(mo)電(dian)阻(zu)率(lv)的(de)測量儀器(qi)，該(gai)儀器(qi)采(cai)用(yong)通用(yong)的(de)電(dian)流(liu)、電(dian)壓(ya)四(si)端(duan)子(zi)測量法（儀器(qi)電(dian)流(liu)源(yuan)和(he)電(dian)壓(ya)表(biao)兩(liang)個(ge)單元分(fen)別從(cong)獨立回路(lu)連至電(dian)極(ji)同時(shi)和(he)樣品接觸(chu)），可以(yi)消除(chu)電(dian)極(ji)與(yu)連接(jie)導(dao)線導(dao)通(tong)電(dian)阻(zu)產(chan)生(sheng)的(de)誤差(cha)，克(ke)服了傳統的(de)二端(duan)法測量粉末(mo)電(dian)阻(zu)率(lv)儀器(qi)的(de)弊(bi)病，可以(yi)真(zhen)實(shi)地、準確地測量出粉末(mo)樣品的(de)電(dian)阻(zu)率(lv)，因(yin)此(ci)重(zhong)復性也(ye)好(hao)。

ZJ-3壓(ya)電(dian)材(cai)料(liao)測試儀（靜(jing)壓(ya)電(dian)系(xi)數d33測量儀）是(shi)為測量壓(ya)電(dian)材(cai)料(liao)的(de)d33常數而設計的(de)儀器(qi)，它可(ke)用(yong)來(lai)測量具(ju)有(you)大壓(ya)電(dian)常(chang)數的(de)壓(ya)電(dian)陶(tao)瓷(ci)，小(xiao)壓(ya)電(dian)常(chang)數的(de)壓(ya)電(dian)單(dan)晶(jing)及(ji)壓(ya)電(dian)高分(fen)子(zi)材料(liao)。

高溫(wen)介電(dian)溫(wen)譜測試儀主要應用(yong)於高溫(wen)下(xia)材(cai)料(liao)的(de)介電(dian)性能(neng)測試與(yu)分(fen)析，包(bao)括(kuo)介電(dian)常(chang)數、介電(dian)損(sun)耗(hao)、電(dian)容(rong)等參數，同時(shi)測試出測試材料的(de)其(qi)他(ta)阻抗參(can)數，廣(guang)泛應用(yong)於陶(tao)瓷(ci)材(cai)料、半(ban)導(dao)體(ti)器(qi)件(jian)及功(gong)能(neng)薄(bo)膜材(cai)料等研究(jiu) 。

JKZC-JD01高頻(pin)絕緣(yuan)材料(liao)介電(dian)常(chang)數介質(zhi)損(sun)耗(hao)測試系統由測試裝(zhuang)置(zhi)（夾具(ju)）、型(xing)高頻(pin)主機、數據(ju)采集和(he)tanδ自動(dong)測量控(kong)件及(ji)校(xiao)準(zhun)電(dian)感(gan)器(qi)組成。依據(ju)國標(biao)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美(mei)標ASTM D150以及國際(ji)電(dian)工(gong)委(wei)員(yuan)會IEC60250的(de)規定設計制作(zuo)。系統提(ti)供(gong)了絕緣(yuan)材料(liao)的(de)高頻(pin)介質(zhi)損(sun)耗(hao)角(jiao)正切(qie)值(tanδ)和(he)介電(dian)常(chang)數(ε)自(zi)動(dong)測量的(de)解決(jue)方案(an)。本儀器(qi)中(zhong)測試裝(zhuang)置(zhi)是(shi)由平板電(dian)容(rong)器組成，平

HTIM-1001型(xing)高溫(wen)絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)測試儀根(gen)據(ju)歐姆(mu)定律，被(bei)測電(dian)阻(zu)Rx等於施(shi)加電(dian)壓(ya)V除(chu)以通(tong)過(guo)的(de)電(dian)流(liu)I。傳(chuan)統的(de)高阻(zu)計(ji)的(de)工作(zuo)原理(li)是(shi)測量電(dian)壓(ya)V固(gu)定，通過(guo)測量流過(guo)取樣(yang)電(dian)阻(zu)的(de)電(dian)流(liu)I來(lai)得到電(dian)阻(zu)值。從歐姆(mu)定律可(ke)以看出(chu)，由(you)於(yu)電(dian)流(liu)I是(shi)與(yu)電(dian)阻(zu)成(cheng)反(fan)比(bi)，而不(bu)是(shi)成正比(bi)，所以(yi)電(dian)阻(zu)的(de)顯示(shi)值是(shi)非線性的(de)，即(ji)電(dian)阻(zu)無(wu)窮(qiong)大時(shi)，電(dian)流(liu)為零，即(ji)表(biao)頭(tou)的(de)零位處是(shi)∞，其(qi)附(fu)近的(de)刻度(du)非常密，分辨率(lv)很低。整個(ge)刻度(du)是(shi)非線性的(de)。又(you)由(you)於(yu)測量不(bu)同的(de)電(dian)阻(zu)時(shi)，其(qi)電(dian)壓(ya)V也(ye)