描述(shu)：GWJDN-0.1HZ型(xing)四通(tong)道超低頻高(gao)溫(wen)介(jie)電(dian)測量(liang)系(xi)統(tong)應用(yong)於高溫(wen)環(huan)境下(xia)材(cai)料、器件(jian)的(de)導(dao)電(dian)、介電(dian)特性測量(liang)與分析(xi)，通過配置不同的測試設備，完(wan)成不(bu)同參數(shu)的(de)測試。是壹款(kuan)超低頻高(gao)低溫(wen)四(si)通(tong)道(dao)介電測試系(xi)統(tong)，科(ke)研(yan)級(ji)別是國家科(ke)研(yan)院(yuan)所(suo)和高(gao)等學府選(xuan)用(yong)設備。

GWJDN-0.1HZ型(xing)四通(tong)道超低頻高(gao)溫(wen)介(jie)電(dian)測量(liang)系(xi)統(tong)

關(guan)鍵詞：高(gao)溫(wen)介(jie)電(dian)，0.1HZ-20MHZ，-160℃-1000℃

GWJDN-0.1HZ型(xing)四通(tong)道超低頻高(gao)溫(wen)介(jie)電(dian)測量(liang)系(xi)統(tong)應用(yong)於高溫(wen)環(huan)境下(xia)材(cai)料、器件(jian)的(de)導(dao)電(dian)、介電(dian)特性測量(liang)與分析(xi)，通過配置不同的測試設備，完(wan)成不(bu)同參數(shu)的(de)測試。是壹款(kuan)超低頻高(gao)低溫(wen)四(si)通(tong)道(dao)介電測試系(xi)統(tong)，科(ke)研(yan)級(ji)別是國家科(ke)研(yan)院(yuan)所(suo)和高(gao)等學府選(xuan)用(yong)設備。

壹、主(zhu)要用(yong)途(tu)：

1、測量(liang)以下(xia)參(can)數隨溫(wen)度(du)（T）、頻率（f）、電平（V）、偏壓(ya)（Vi）的變化規(gui)律(lv)：

2、測量(liang)電容(rong)（C）、電感（L）、電阻(zu)（R）、電抗（X）、阻(zu)抗(kang)（Z）、相(xiang)位角（￠）、電導（G）、電納（B）、導納（Y）、損耗因(yin)子(zi)（D）、品(pin)質因(yin)素(su)（Q）等參數(shu)，

3、同時計(ji)算(suan)獲(huo)得(de)反(fan)應材料(liao)導電(dian)、介(jie)電(dian)性(xing)能的(de)復介電常(chang)數（εr）和介質(zhi)損耗(hao)（D）參數。

4、可測試低溫(wen)環(huan)境下(xia)材(cai)料、器件(jian)的(de)介(jie)電(dian)性能(neng)

5、可以根(gen)據用(yong)戶需(xu)求(qiu)，定制(zhi)開發(fa)居(ju)裏(li)溫(wen)度(du)點Tc、機電(dian)耦合(he)系(xi)數Kp、機械(xie)品(pin)質因(yin)素(su)Qm及磁導率μ等參數(shu)的測量(liang)與分析(xi)。系(xi)統(tong)集低溫(wen)環(huan)境、溫(wen)度(du)控(kong)制(zhi)、樣(yang)品(pin)安裝(zhuang)於壹體；具有體積(ji)小、操(cao)作(zuo)簡單(dan)控(kong)溫(wen)精度(du)高(gao)等(deng)特(te)點。

二、主要技(ji)術參(can)數(shu)：

主要技(ji)術參(can)數(shu)：

1、溫(wen)度(du)範(fan)圍： -160℃-600℃，測溫(wen)精度(du)： 0.1℃

2、頻率範(fan)圍： 0.1HZ-20MHZ（高頻可選(xuan)）

3、分辨(bian)率：1HZ

4．升溫(wen)速度(du)： 1—20℃/min

5、控溫(wen)模(mo)式： 程序控(kong)制，提(ti)供(gong)常(chang)溫(wen)、變溫(wen)、恒(heng)溫(wen)、升(sheng)溫(wen)、降溫(wen)等(deng)多(duo)種(zhong)組(zu)合(he)方(fang)式

6、通訊接(jie)口(kou)： RS-485

7、電極材質(zhi)： 鉑銥(yi)合(he)金

8、上(shang)電(dian)極： 直徑1.6mm球(qiu)頭(tou)電極，引線(xian)帶(dai)同軸屏(ping)蔽(bi)層

9、下電極：直徑26.8mm平面電(dian)極，引線(xian)帶(dai)同軸屏(ping)蔽(bi)層

10、保護(hu)電(dian)極：  帶(dai)保(bao)護(hu)電(dian)極，消除(chu)寄(ji)生(sheng)電(dian)容(rong)、邊(bian)界電(dian)容(rong)對(dui)測試的(de)影響(xiang)

11、電極幹擾(rao)屏(ping)蔽(bi):電極引線(xian)帶(dai)同軸屏(ping)蔽(bi)，樣品(pin)平臺帶(dai)屏(ping)蔽(bi)罩

12、夾具升降控(kong)制： 帶(dai)程(cheng)序(xu)和手(shou)動(dong)控(kong)制(zhi)，可更換(huan)夾(jia)具的電動升(sheng)降裝(zhuang)置

13、熱(re)電(dian)偶(ou) ：熱(re)電(dian)偶(ou)探(tan)頭(tou)與樣(yang)品(pin)平臺為同壹熱(re)沈(chen)，測控(kong)溫(wen)度(du)與樣(yang)品(pin)溫(wen)度(du)保(bao)持(chi)壹致

14、無(wu)電極樣品(pin)尺寸：直徑小於40mm，厚度(du)小(xiao)於8mm

15、帶(dai)電(dian)極樣品(pin)尺寸： 直徑小於26mm，厚度(du)小(xiao)於8mm

16、軟件(jian)功(gong)能(neng)：自(zi)動分析(xi)數據，可以分類(lei)保(bao)存(cun)，樣(yang)品(pin)和測量(liang)方案(an)結(jie)合(he)在壹起，生(sheng)成(cheng)系(xi)統(tong)所需(xu)的實(shi)驗方案(an)，輸出TXT、XLS、BMP等格式文(wen)件(jian)

18、測量(liang)方案(an)：    提(ti)供(gong)靈(ling)活(huo)、豐(feng)富(fu)的測試設置功能，包(bao)括(kuo)頻率譜、阻(zu)抗(kang)譜、介電譜及其組(zu)合(he)

17、標(biao)準(zhun)極化樣(yang)品(pin)：8片（10mm*1.5mm）

18、配套設備裝(zhuang)置：能夠配(pei)合(he)ZJ-3和ZJ-6壓(ya)電測試儀(yi)進行測量(liang)

19、配套設備裝(zhuang)置：可以配(pei)置10MM，20MM，30MM，40MM壓(ya)片夾(jia)具

20、測試電(dian)平:100mV—2V

21、輸出阻(zu)抗(kang):  100Ω

22、測試參(can)數：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc

23、基本準(zhun)確(que)度(du): 0.05%

24、顯(xian)示(shi):液晶顯(xian)示(shi)

25、參數測量(liang)：多功(gong)能(neng)圖(tu)形和(he)參數測量(liang)

26、接(jie)口(kou)方式: RS232C或HANDLER