描述(shu)：中科(ke)院(yuan)上(shang)海(hai)微系(xi)統(tong)所(suo)定(ding)制JKZC-LRT400冷熱(re)臺(tai)成(cheng)功交(jiao)付


中國(guo)科(ke)學(xue)院(yuan)上(shang)海(hai)微系(xi)統(tong)與信(xin)息(xi)技(ji)術(shu)研究(jiu)所(suo)是(shi)我(wo)國(guo)著名的技(ji)術(shu)學(xue)科(ke)綜(zong)合(he)性研究(jiu)所(suo)之(zhi)壹，前(qian)身是(shi)成(cheng)立於(yu)1928年(nian)的國(guo)立中(zhong)央(yang)研(yan)究(jiu)院工程(cheng)研(yan)究(jiu)所(suo)。自(zi)建(jian)國(guo)以(yi)來，上(shang)海(hai)微系(xi)統(tong)所(suo)已(yi)獲(huo)得(de)獎勵(li)46項(xiang)、部(bu)委(wei)省(sheng)級(ji)獎(jiang)勵(li)340余項。為國(guo)民(min)經(jing)濟發展(zhan)、國(guo)家安(an)全和社會進步做(zuo)出(chu)了(le)重(zhong)大(da)貢(gong)獻。

本(ben)次(ci)交(jiao)付的產品為(wei)探(tan)針(zhen)冷熱(re)臺(tai)JKZC-LRT400，該(gai)冷熱(re)臺(tai)在(zai)實驗(yan)中(zhong)主(zhu)要(yao)用(yong)於高(gao)阻(zu)材料在(zai)不同(tong)溫度

中科院(yuan)上海(hai)微系(xi)統(tong)所(suo)定(ding)制JKZC-LRT400冷熱(re)臺(tai)成(cheng)功交(jiao)付

中國(guo)科(ke)學(xue)院(yuan)上(shang)海(hai)微系(xi)統(tong)與信(xin)息(xi)技(ji)術(shu)研究(jiu)所(suo)是(shi)我(wo)國(guo)著名的技(ji)術(shu)學(xue)科(ke)綜(zong)合(he)性研究(jiu)所(suo)之(zhi)壹，前(qian)身是(shi)成(cheng)立於(yu)1928年(nian)的國(guo)立中(zhong)央(yang)研(yan)究(jiu)院工程(cheng)研(yan)究(jiu)所(suo)。自(zi)建(jian)國(guo)以(yi)來，上(shang)海(hai)微系(xi)統(tong)所(suo)已(yi)獲(huo)得(de)獎勵(li)46項(xiang)、部(bu)委(wei)省(sheng)級(ji)獎(jiang)勵(li)340余項。為國(guo)民(min)經(jing)濟發展(zhan)、國(guo)家安(an)全和社會進步做(zuo)出(chu)了(le)重(zhong)大(da)貢(gong)獻。

本(ben)次(ci)交(jiao)付的產品為(wei)探(tan)針(zhen)冷熱(re)臺(tai)JKZC-LRT400，該(gai)冷熱(re)臺(tai)在(zai)實驗(yan)中(zhong)主(zhu)要(yao)用(yong)於高(gao)阻(zu)材料在(zai)不同(tong)溫度變(bian)化下(xia)的電學(xue)測(ce)試(shi)。

   現場交(jiao)付圖

能提供從(cong)-190℃到600℃溫度範(fan)圍內(nei)的精(jing)準(zhun)控(kong)制。

   現場實驗(yan)測(ce)試(shi)變(bian)溫電阻(zu)測試數(shu)據（二(er)）

測(ce)試樣(yang)品為高(gao)阻(zu)材料，實驗(yan)顯示隨溫度升高(gao)，材料電阻(zu)在(zai)高(gao)溫下(xia)驟(zhou)降(jiang)。在(zai)本(ben)次(ci)交(jiao)付中，針(zhen)對(dui)客戶(hu)需(xu)求，對(dui)配套軟(ruan)件進行了(le)定(ding)制。

包含兩種(zhong)測(ce)試模(mo)式：

①RT測試：樣(yang)品電阻(zu)隨溫度變(bian)化；

②數(shu)據時(shi)間(jian)譜(pu)測(ce)試(shi)：到達設定(ding)溫度後(hou)，樣(yang)品(pin)電阻(zu)隨時(shi)間(jian)變(bian)化。

壹(yi)|、冷熱(re)臺(tai)主(zhu)要(yao)技(ji)術(shu)參數(shu)：

溫度範(fan)圍-196到600°C(-196℃需(xu)選擇(ze)專用(yong)冷卻(que)系(xi)統(tong))

可達(da)150°C/min加熱(re)速率

多(duo)段溫度控(kong)制程(cheng)序設定(ding)

在(zai)線(xian)溫度/時(shi)間(jian)曲線(xian)

全程(cheng)溫度穩定(ding)性和精(jing)度(du)0.1°C

16 mm X、Y方向移動(dong)距(ju)離

樣(yang)品(pin)區域(yu)φ22 mm

光(guang)孔(kong)直徑 2.0mm                

氣(qi)密樣品(pin)室，可以(yi)控制樣品環(huan)境(jing)   

超薄上(shang)蓋窗口(kou) 0.17 mm

可用(yong)於透射(she)和(he)反(fan)射光(guang)

內(nei)蓋可以(yi)增(zeng)加溫度穩定(ding)性

樣(yang)品(pin)側面(mian)導(dao)入(ru)

物(wu)鏡(jing)最小(xiao)工作距離4.5 mm

聚(ju)光(guang)鏡最(zui)小(xiao)工作距離12.5 mm

計(ji)算(suan)機(ji)控(kong)制

冷卻(que)劑直接(jie)冷卻(que)加熱(re)體

臺(tai)體尺寸- 160 x 80 x 24 mm

二(er)、電阻(zu)主(zhu)要(yao)技(ji)術(shu)參數(shu)：

• 電流(liu)分(fen)辨(bian)率達0.1fA(10-16A)

• 測量電阻(zu)高(gao)達10PΩ(1016Ω)

• 輸(shu)入(ru)阻(zu)抗>200TΩ

• 支持電壓(ya)測(ce)量達20V

• 獨立的電流(liu)和(he)電壓(ya)測(ce)量

• 5.0寸電容式觸摸(mo)屏

• 6½位測(ce)量分辨(bian)率

• 內置電壓(ya)源(yuan)：±1000V，分辨(bian)率：700μV

• 溫度和(he)濕(shi)度測(ce)量

• 時(shi)域(yu)視(shi)圖(tu)，捕(bu)獲瞬態(tai)信(xin)號(hao)效(xiao)應和(he)選(xuan)擇(ze)測量數(shu)據

• 支持數(shu)據記(ji)錄(lu)

• 配置專用(yong)屏(ping)蔽(bi)測試(shi)盒

• 接(jie)口：USB HOST、USB DEVICE、LAN、GPIB、RS232、HANDLER、INTERLOCK

  
  

 主(zhu)要(yao)測(ce)量應用(yong)

變(bian)溫條(tiao)件下(xia)針(zhen)對(dui)

• 應用(yong)

• 
  

• 材料特征測試

  半(ban)導(dao)體、納米(mi)材(cai)料、聚合物材料、介(jie)質材料、電化學(xue)材(cai)料、鐵(tie)電材料、石墨烯、陶瓷(ci)、生(sheng)物材(cai)料、橡膠、薄膜、金(jin)屬、有(you)機(ji)材(cai)料等

• 電子元(yuan)器(qi)件泄漏電流(liu)和(he)絕(jue)緣(yuan)電阻(zu)測試

  電容器、電阻(zu)器、二極(ji)管(guan)、晶體管(guan)、傳(chuan)感器、TFT和(he)CNT等類(lei)型(xing)、光(guang)電器件、納米(mi)器(qi)件、太(tai)陽(yang)能電池(chi)、開關(guan)、繼(ji)電器等

• 電子/非(fei)電子系(xi)統(tong)

  離子束(shu)、電子束(shu)、傳感系(xi)統(tong)、粒子測(ce)量、嵌入(ru)式精(jing)密(mi)儀(yi)器(qi)等(deng)

• 半導體和其(qi)它(ta)器件I-V特性測量

• 體電阻(zu)/表面電阻(zu)率測量