描述(shu)：粉(fen)末(mo)材(cai)料(liao)電(dian)阻(zu)率(lv)測試(shi)儀是(shi)運(yun)用四(si)端子(zi)法(fa)或(huo)四(si)探針法(fa)測(ce)試(shi)粉(fen)末電(dian)阻率(lv)的(de)測量儀器，該儀(yi)器采(cai)用通用的(de)電流(liu)、電(dian)壓(ya)四端子(zi)測(ce)量法(fa)（儀(yi)器電流(liu)源和電壓(ya)表兩個單(dan)元分別(bie)從(cong)獨(du)立回(hui)路(lu)連(lian)至電極(ji)同(tong)時和樣品(pin)接(jie)觸），可以(yi)消除電(dian)極(ji)與(yu)連(lian)接導(dao)線(xian)導(dao)通電(dian)阻(zu)產(chan)生的(de)誤(wu)差，克(ke)服了傳統的(de)二端法(fa)測(ce)量粉末電阻(zu)率(lv)儀器的(de)弊病(bing)，可(ke)以(yi)真(zhen)實(shi)地、準確(que)地測量出粉末樣品(pin)的(de)電阻(zu)率(lv)，因(yin)此(ci)重復性(xing)也好。

   粉(fen)末材(cai)料(liao)電(dian)阻(zu)率(lv)測試(shi)儀是運(yun)用四(si)端子(zi)法(fa)或(huo)四(si)探針法(fa)測(ce)試(shi)粉(fen)末電(dian)阻率(lv)的(de)測量儀器，該儀(yi)器采(cai)用通用的(de)電流(liu)、電(dian)壓(ya)四端子(zi)測(ce)量法(fa)（儀(yi)器電流(liu)源和電壓(ya)表兩個單(dan)元分別(bie)從(cong)獨(du)立回(hui)路(lu)連(lian)至電極(ji)同(tong)時和樣品(pin)接(jie)觸），可以(yi)消除電(dian)極(ji)與(yu)連(lian)接導(dao)線(xian)導(dao)通電(dian)阻(zu)產(chan)生的(de)誤(wu)差，克(ke)服了傳統的(de)二端法(fa)測(ce)量粉末電阻(zu)率(lv)儀器的(de)弊病(bing)，可(ke)以(yi)真(zhen)實(shi)地、準確(que)地測量出粉末樣品(pin)的(de)電阻(zu)率(lv)，因(yin)此(ci)重復性(xing)也好。符(fu)合GB/T 24521-2009和YS/T 587.6-2006有關(guan)國標和行業(ye)標準。產(chan)品(pin)設計(ji)符(fu)合(he)國標和行業(ye)規範，國內。

   粉末(mo)材(cai)料(liao)電(dian)阻(zu)率(lv)測試(shi)儀主要應(ying)用領(ling)域：

1. 碳素廠(chang)、焦(jiao)化廠(chang)、石(shi)化廠(chang)、粉(fen)末冶(ye)金廠(chang)等固體(ti)和粉態電(dian)阻(zu)率(lv)測量
2. 高等院(yuan)校、科研(yan)部(bu)門(men)、是(shi)檢驗和分析(xi)固態和粉態樣品(pin)質(zhi)量的(de)測量

   產(chan)品(pin)符(fu)合：

1.符(fu)合(he)GBT 30835-2014《鋰(li)離(li)子(zi)電(dian)池(chi)用炭(tan)復合(he)磷(lin)酸鐵(tie)鋰(li)正極(ji)材(cai)料(liao)》中(zhong)關於(yu)粉(fen)末(mo)電阻率(lv)測試(shi)的(de)原理和規範

2.GB/T 1551-2009 《矽(gui)單晶(jing)電阻(zu)率(lv)測定(ding)方(fang)法(fa)》

3.GB/T 1552-1995《矽(gui)、鍺單(dan)晶電(dian)阻率(lv)測定(ding)直流四(si)探針法(fa)》並(bing)參(can)考(kao)美國A.S.T.M 標準。

   產(chan)品(pin)特(te)點：

1. 整(zheng)個系(xi)統電氣(qi)控制顯示(shi)核(he)心(xin)部(bu)分(fen)，主要由(you)精密(mi)恒(heng)流(liu)源、高分(fen)辨率(lv)ADC、嵌入式單片機(ji)系(xi)統單元以及壓(ya)力厚(hou)度(du)顯示(shi)單(dan)元組成(cheng)。

2. 粉末(mo)測試臺 是(shi)連(lian)接測(ce)試主機(ji)，用來(lai)裝夾半(ban)導(dao)體(ti)粉(fen)末(mo)（含高分(fen)子(zi)粉(fen)末(mo)和金屬粉末(mo)等），進行(xing)壓(ya)力施(shi)加(jia)（壓(ya)片），並(bing)同(tong)步(bu)進行(xing)電阻率(lv)測試(shi)的(de)裝置(zhi)（以(yi)下簡(jian)稱測(ce)試臺）同(tong)步(bu)壓(ya)力連(lian)續測(ce)試(shi)粉末(mo)“電阻率(lv)-壓(ya)強曲線，”。

3. 配有(you)成(cheng)套PC軟(ruan)件(jian)，故(gu)不(bu)但(dan)可以單獨(du)（脫機(ji)）操作，還(hai)可以(yi)連(lian)接PC軟(ruan)件(jian)，自(zi)動保(bao)存(cun)當前(qian)測試數(shu)據、查(zha)詢並(bing)統計(ji)分(fen)析(xi)歷(li)史(shi)數(shu)據、打(da)印(yin)測(ce)試(shi)報(bao)告(gao)等！

4.儀器所有(you)參(can)數(shu)設定、功能轉換(huan)全(quan)部(bu)采(cai)用數(shu)字化鍵盤輸入；具(ju)有(you)零(ling)位(wei)、滿度自(zi)校功能；電壓(ya)電流(liu)全(quan)自(zi)動轉(zhuan)換(huan)量程；測試結(jie)果由(you)數(shu)字表(biao)頭(tou)直接顯示(shi)。

5. 可壹邊(bian)加(jia)壓(ya)壹邊(bian)同(tong)步(bu)測(ce)試電阻率(lv)，可方(fang)便(bian)測繪粉(fen)末(mo)樣品(pin)“電(dian)阻率(lv)-壓(ya)強”的(de)性(xing)能曲線(xian)；也可(ke)以(yi)單(dan)獨(du)作為粉末壓(ya)制成(cheng)片的(de)工具(ju)使(shi)用，成(cheng)片後(hou)可脫模取出，用普(pu)通四(si)探針法(fa)測(ce)試(shi)相(xiang)關參(can)數(shu)！

   主要技(ji)術參(can)數(shu)

1. 電(dian)阻(zu)率(lv)測量範圍、分辨(bian)率(lv)

電 阻(zu) 率(lv)： 15.0×10^-6 ～ 200.0×10³ Ω-cm  分辨(bian)率(lv)1.5×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω-cm

（1.0×10^-6 ～ 200.0×10¹ Ω-cm  分(fen)辨(bian)率(lv)0.1×10^-6 ～ 0.1×10¹  Ω-cm）

2. 電(dian)阻率(lv)量程劃分及誤(wu)差等級

3. 數(shu)字電(dian)壓(ya)表：

⑴量程：10mV ～ 100 mV，自動

⑵顯示(shi): 4位(wei)有(you)效數(shu)字，zui大(da)顯示(shi)999.9     小(xiao)數(shu)點、單位自動顯示(shi)

4. 數(shu)控恒(heng)流(liu)源

電流(liu)輸(shu)出(chu)：直流電(dian)流(liu)0.1µA～1000mA可調(tiao)，系(xi)統自動步(bu)進調(tiao)整(zheng)。

5.粉末測(ce)試(shi)臺(tai)部(bu)分(fen)參(can)數(shu)：

（1）試(shi)樣成(cheng)份：成(cheng)份不(bu)限，但(dan)不(bu)得含(han)有(you)對(dui)測(ce)試(shi)臺(tai)和電極(ji)有腐(fu)蝕(shi)作用的(de)成(cheng)份。

（2）試(shi)樣粒度(du)：標準以40目(mu)以下(xia)—60目(mu)以上（標準篩網(wang)），壹(yi)般其(qi)他粒度(du)也可！

（3）試(shi)樣容器：內徑：Φ11.28mm（S=1.0cm2）

高(gao) 度：0～20mm可(ke)調(tiao),帶高度(du)傳感(gan)器監(jian)測，測量誤(wu)差：±0.05mm。

（4）測(ce)試壓(ya)強：

標準壓(ya)強：P0=4Mpa±0.05Mpa。
     壓(ya)強量程：20Mpa, P=0～20 Mpa可調(tiao)。
 （5）壓(ya)力機(ji)構采(cai)用手(shou)動操作、壓(ya)力平穩(wen)可調(tiao)。

四位有效顯示(shi)數(shu)00.00～20.00MPa，分別(bie)率(lv)±0.01 MPa。

6.測試(shi)儀外形(xing)與(yu)重(zhong)量

體 積(ji)：250mm×220 mm×540mm

重(zhong) 量：10Kg

7. 電源：

功 耗(hao)：< 10W

輸 入：220V±10%   50Hz

8. 本儀器工作條件(jian)為(wei)：

溫    度：0-40℃

相對濕(shi)度(du)：≥60%

工作室內應無(wu)強電磁場幹(gan)擾(rao)，不與(yu)高(gao)頻設備共用電(dian)源。