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詳(xiang)細介紹(shao)
| 品牌(pai) | 其(qi)他品(pin)牌(pai) | 產地(di)類別 | 國(guo)產 |
|---|---|---|---|
| 應用(yong)領(ling)域(yu) | 環(huan)保,能源,電子(zi)/電池,航空航天(tian),綜(zong)合(he) |
JKZC-JD01型(xing)高(gao)頻絕緣(yuan)材(cai)料介電常數及(ji)介質(zhi)損(sun)耗(hao)測(ce)試(shi)系統(tong) 介電常數測(ce)試(shi)儀(yi)
關(guan)鍵詞:介電常數(ε),介質(zhi)損(sun)耗(hao)(tanδ),絕緣(yuan)材(cai)料

JKZC-JD01高(gao)頻絕緣(yuan)材(cai)料介電常數介質(zhi)損(sun)耗(hao)測(ce)試(shi)系統(tong)由測試(shi)裝(zhuang)置(zhi)(夾(jia)具(ju))、型高頻(pin)主機、數(shu)據采(cai)集(ji)和tanδ自動(dong)測量控件(jian)及(ji)校準電感(gan)器(qi)組成。依據國(guo)標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及(ji)國際電工委(wei)員(yuan)會IEC60250的規(gui)定(ding)設計制作(zuo)。系統(tong)提(ti)供了絕緣(yuan)材(cai)料的高(gao)頻(pin)介質(zhi)損(sun)耗(hao)角(jiao)正(zheng)切(qie)值(tanδ)和(he)介電常數(ε)自動(dong)測量的解(jie)決(jue)方案(an)。本儀(yi)器(qi)中(zhong)測試裝(zhuang)置(zhi)是(shi)由平板(ban)電容器(qi)組成,平(ping)板(ban)電容器(qi)壹(yi)般(ban)用(yong)來夾被(bei)測(ce)樣品(pin),配(pei)用(yong)主機作(zuo)為(wei)指(zhi)示(shi)儀(yi)器(qi)。絕緣(yuan)材(cai)料的損(sun)耗(hao)角(jiao)正(zheng)切(qie)值是(shi)通過(guo)被(bei)測(ce)樣品(pin)放(fang)入(ru)平板(ban)電容器(qi)和(he)不放(fang)樣品(pin)的Q值(zhi)變(bian)化和(he)厚度的刻(ke)度讀(du)數通過(guo)公式(shi)計算得(de)到,設備能夠(gou)自動(dong)計算介電常數(ε)和(he)介質(zhi)損(sun)耗(hao)(tanδ),是(shi)電氣(qi)材(cai)料研(yan)究和高等院校的重(zhong)要(yao)設備。
介電常數測(ce)試(shi)儀(yi)適(shi)用(yong)標準
1 、GBT 1409-2006 測(ce)量電氣(qi)絕緣(yuan)材(cai)料在(zai)工頻、音頻、高(gao)頻(包括(kuo)米波(bo)波長(chang)存(cun)內)下電容率(lv)和(he)介質(zhi)損(sun)耗(hao)因(yin)數(shu)的推薦(jian)方法(fa)
2 、GBT 1693-2007 硫化橡(xiang)膠(jiao) 介電常數和(he)介質(zhi)損(sun)耗(hao)角(jiao)正(zheng)切(qie)值的測(ce)定(ding)方法(fa)
3 、ASTM-D150-介電常數測(ce)試(shi)方法(fa)
4、GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子(zi)玻璃(li)高(gao)頻介質(zhi)損(sun)耗(hao)和(he)介電常數的測(ce)
介電常數/介質(zhi)損(sun)耗(hao)測(ce)試(shi)系統(tong)系統(tong)組成:
應(ying)用(yong)範(fan)圍(wei):
1 固(gu)體(ti)材(cai)料:絕緣(yuan)導熱(re)矽(gui)膠(jiao),石英(ying)晶玻璃(li),陶(tao)瓷(ci)片(pian),薄(bo)膜,OCA光(guang)學膠(jiao),環氧(yang)樹脂材(cai)料,塑(su)料材(cai)料,FR4 PCB板(ban)材(cai), PA尼龍(long)/滌綸(lun),PE聚乙烯,PTFE聚(ju)四氟乙烯,PS聚(ju)苯乙烯,PC聚(ju)碳酸(suan)旨(zhi),PVC,PMMA,大(da)等
2 液(ye)體(ti)材(cai)料:去(qu)離(li)子(zi)水,全(quan)氟聚(ju)醚(mi),果(guo)汁(zhi),,甲(jia)醇(chun),油類等
| 功能名稱: | JKZC-JD01 | JKZC-JD02 | JKZC-JD03 |
| 頻(pin)率 | 10KHZ-70MHz | 10KHZ-110MHz | 100KHZ-160MHz |
| 信(xin)號(hao)源頻率覆(fu)蓋比(bi) | 7000:1 | 11000:1 | 16000:1 |
| 信(xin)號(hao)源頻率精度 6位有效數 | 3×10-5 ±1個字(zi) | 3×10-5 ±1個字(zi) | 3×10-5 ±1個字(zi) |
| 采(cai)樣精度 | 11BIT | 11BIT | 12BIT 高(gao)精度的AD采(cai)樣,了(le)Q值(zhi)的穩定(ding)性,以及(ji)低介質(zhi)損(sun)耗(hao)材(cai)料測(ce)試時(shi)候的穩定(ding)性 |
| Q測(ce)量範圍 | 1-1000自動(dong)/手動(dong)量(liang)程(cheng) | 1-1000自動(dong)/手動(dong)量(liang)程(cheng) | 1-1000自動(dong)/手動(dong)量(liang)程(cheng) |
| Q分(fen)辨率(lv) | 4位有效數,分(fen)辨率(lv)0.1 | 4位有效數,分(fen)辨率(lv)0.1 | 4位有效數,分(fen)辨率(lv)0.1 |
| Q測(ce)量工作(zuo)誤(wu)差 | <5% | <5% | <5% |
| 電感(gan)測(ce)量(liang)範(fan)圍(wei) 4位有效數,分(fen)辨率(lv)0.1nH | 1nH-8.4H ,分(fen)辨率(lv)0.1nH | 1nH-8.4H 分(fen)辨率(lv)0.1nH | 1nH-140mH分(fen)辨率(lv)0.1nH |
| 電感(gan)測(ce)量(liang)誤(wu)差 | <3% | <3% | <3% |
| 調(tiao)諧電容 | 主電容30-540pF | 主電容30-540pF | 主電容17-240pF |
| 電容直(zhi)接測量(liang)範圍 | 1pF~2.5uF | 1pF~2.5uF | 1pF~25nF |
| 調(tiao)諧電容誤(wu)差 分(fen)辨率(lv) | ±1pF或(huo)<1% 0.1pF | ±1pF或(huo)<1% 0.1pF | ±1pF或(huo)<1% 0.1pF |
| 諧振點搜(sou)索(suo) | 自動(dong)掃描 | 自動(dong)掃描 | 自動(dong)掃描 |
| Q合(he)格預置(zhi)範(fan)圍(wei) | 5-1000聲(sheng)光(guang)提示 | 5-1000聲(sheng)光(guang)提示 | 5-1000聲(sheng)光(guang)提示 |
| Q量(liang)程(cheng)切(qie)換(huan) | 自動(dong)/手動(dong) | 自動(dong)/手動(dong) | 自動(dong)/手動(dong) |
| LCD顯(xian)示參(can)數(shu) | F,L,C,Q,Lt,Ct波(bo)段等 | F,L,C,Q,Lt,Ct波(bo)段等 | F,L,C,Q,Lt,Ct波(bo)段等 |
| 自身殘(can)余電感(gan)和(he)測(ce)試(shi)引(yin)線電感(gan)的自動(dong)扣除功能() | 有(you) | 有(you) | 有(you) |
| 大(da)電容值(zhi)直(zhi)接測量(liang)顯示功能() | 測(ce)量值可達(da)2.5uF | 測(ce)量值可達(da)2.5uF | 測(ce)量值可達(da)25nF |
| 介質(zhi)損(sun)耗(hao)系數(shu) | 精度 萬(wan)分之三(san) | 精度 萬(wan)分之三(san) | 精度 萬(wan)分之壹(yi) |
| 介損(sun)系數(shu) | 萬(wan)分之壹(yi) | 萬(wan)分之壹(yi) | 萬(wan)分之壹(yi) |
| 介電常數 | 精度 千分之壹(yi) | 精度 千分之壹(yi) | 精度 千分之壹(yi) |
| 材(cai)料測(ce)試厚(hou)度 | 0.1mm-10mm | 0.1mm-10mm | 0.1mm-10mm |
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