描述(shu)：高溫(wen)介(jie)電(dian)溫譜測(ce)試儀(yi)主要應用於(yu)高(gao)溫下材(cai)料的介(jie)電(dian)性(xing)能(neng)測(ce)試與(yu)分(fen)析(xi)，包括(kuo)介(jie)電(dian)常數、介(jie)電(dian)損耗(hao)、電(dian)容等(deng)參(can)數，同(tong)時測(ce)試出(chu)測(ce)試材(cai)料的其他阻(zu)抗(kang)參(can)數，廣泛(fan)應用於(yu)陶(tao)瓷(ci)材料、半(ban)導(dao)體器件(jian)及功能(neng)薄(bo)膜材(cai)料等(deng)研究(jiu) 。

GWJD-1000型(xing)高(gao)溫介(jie)電(dian)性(xing)能(neng)測(ce)量系統(tong)（四(si)通(tong)道測(ce)試，同(tong)時測(ce)試4個(ge)樣品）介(jie)紹(shao)：

關鍵詞：高(gao)溫(wen)介(jie)電(dian)溫譜測(ce)試儀(yi)、高溫介(jie)電(dian)性(xing)能(neng)測(ce)量系統(tong)、高(gao)溫介(jie)溫(wen)譜能系(xi)統(tong)。

產品介(jie)紹(shao)：

GWJD-1000型(xing)高(gao)溫介(jie)電(dian)性(xing)能(neng)測(ce)量系統(tong)主(zhu)要應用於(yu)高(gao)溫下材(cai)料的介(jie)電(dian)性(xing)能(neng)測(ce)試與(yu)分(fen)析(xi)，包括(kuo)介(jie)電(dian)常數、介(jie)電(dian)損耗(hao)、電(dian)容等(deng)參(can)數，同(tong)時測(ce)試出(chu)測(ce)試材(cai)料的其他阻(zu)抗(kang)參(can)數，廣泛(fan)應用於(yu)陶(tao)瓷(ci)材料、半(ban)導(dao)體器件(jian)及功能(neng)薄(bo)膜材(cai)料等(deng)研究(jiu) 。

產品優勢(shi)：

1.耐高(gao)溫(wen)、1000°C不氧化(hua)，電(dian)極阻(zu)抗(kang)低(di)、絕緣好

2.四(si)通(tong)道測(ce)試，可(ke)以同(tong)時測(ce)試1-4個(ge)樣品，方(fang)便快捷(jie)

3.數據(ju)分(fen)析(xi)軟件：提供多種掃描曲線(xian)，可(ke)以在(zai)多窗口(kou)之間(jian)切(qie)換(huan)數據(ju)

《符(fu)合ASTMD150和(he)D2149-97標(biao)準>><<符(fu)合(he)GB/T1409-2006介(jie)電(dian)常數和(he)介(jie)電(dian)損耗(hao)的(de)推薦方(fang)法(fa)》

產品特點(dian)：

1.可(ke)以在(zai)高溫、寬頻、真空(kong)條(tiao)件(jian)下測(ce)量固體、薄(bo)膜樣(yang)品(pin)的(de)介(jie)電(dian)性(xing)能(neng)

2.可(ke)以分(fen)樣品(pin)的(de)頻率譜、溫度(du)譜、偏壓(ya)譜、阻(zu)抗(kang)譜、介(jie)電(dian)譜、時間(jian)譜等(deng)測(ce)量功能

3.可(ke)以測(ce)量樣品的介(jie)電(dian)常數、介(jie)電(dian)損耗(hao)，電(dian)容C，損(sun)耗(hao)D，電(dian)感L，品質(zhi)因(yin)數Q，阻(zu)抗(kang)Z等(deng)物理(li)量；以實現介(jie)電(dian)常數和(he)介(jie)電(dian)損耗(hao)隨(sui)多個溫(wen)度(du)、多個頻(pin)率變(bian)化的(de)曲線(xian)，時間(jian)和(he)電(dian)壓(ya)變(bian)化的(de)曲線(xian)

4.可(ke)提供(gong)塊(kuai)體，薄(bo)膜，單(dan)樣(yang)品，四樣品(pin)夾具(ju)，滿足不同(tong)測(ce)試要(yao)求

高溫(wen)介(jie)電(dian)溫譜測(ce)試儀(yi)主要技術指(zhi)標(biao)：