描(miao)述(shu)：HTRC-600型高溫(wen)導電材(cai)料電阻率(lv)測試系統(tong)是(shi)壹(yi)款專門(men)用於(yu)測量材(cai)料電阻，電導率的(de)設備，采用(yong)由四(si)端(duan)測量方(fang)法測試電阻率(lv)系統(tong)與(yu)高(gao)溫(wen)試(shi)驗箱為(wei)壹(yi)體的(de)的(de)高(gao)溫(wen)測試系統(tong)，滿足半(ban)導體及(ji)導體材(cai)料因溫(wen)度(du)變化對電阻值(zhi)變化的(de) 測量要(yao)求，通(tong)以在(zai)高溫(wen) 、真(zhen)空、氣(qi)氛(fen)的(de)條(tiao)件下測量導電材(cai)料電阻和(he)電阻率(lv)，可(ke)以分(fen)析被(bei)測樣的(de)電阻和(he)電阻率(lv)隨(sui)溫(wen)度(du)、 時(shi)間(jian)變化的(de)曲(qu) 線(xian)． 目(mu)前主(zhu)要(yao)針對(dui)圓片(pian)、方(fang)塊、長條(tiao)等樣(yang)品(pin)進(jin)行(xing)測試，可以廣(guang)泛用於(yu)碳系導電

HTRC-600型(xing)高溫(wen)導電材(cai)料電阻率(lv)測試系統(tong)

HTRC-600型(xing)高(gao)溫(wen)導電材(cai)料電阻率(lv)測試系統(tong)

關(guan)鍵詞(ci)：電導率，電阻率(lv)，高(gao)溫(wen)600℃，兩(liang)探(tan)針，四(si)探(tan)針

     HTRC-600型高(gao)溫(wen)導電材(cai)料電阻率(lv)測試系統(tong)是(shi)壹(yi)款專門(men)用於(yu)測量材(cai)料電阻，電導率的(de)設備，采用(yong)由四(si)端(duan)測量方(fang)法測試電阻率(lv)系統(tong)與(yu)高(gao)溫(wen)試(shi)驗箱為(wei)壹(yi)體的(de)的(de)高(gao)溫(wen)測試系統(tong)，滿足半(ban)導體及(ji)導體材(cai)料因溫(wen)度(du)變化對電阻值(zhi)變化的(de) 測量要(yao)求，通(tong)以在(zai)高溫(wen)  、真(zhen)空、氣(qi)氛(fen)的(de)條(tiao)件下測量導電材(cai)料電阻和(he)電阻率(lv)，可(ke)以分(fen)析被(bei)測樣的(de)電阻和(he)電阻率(lv)隨(sui)溫(wen)度(du)、 時(shi)間(jian)變化的(de)曲(qu) 線(xian)． 目(mu)前主(zhu)要(yao)針對(dui)圓片(pian)、方(fang)塊、長條(tiao)等樣(yang)品(pin)進(jin)行(xing)測試，可以廣(guang)泛用於(yu)碳系導電材(cai)料、 金(jin)屬(shu)系導電材(cai)料、 金(jin)屬(shu)氧(yang)化物系導電材(cai)料、結 構(gou)型高(gao)分(fen)子導電材(cai)料、復(fu)合導電材(cai)料等材(cai)料的(de)電阻率(lv)測量。 過(guo)*測控軟件可以顯(xian)示出溫(wen)度(du)與(yu)電阻，電阻率(lv)，電導率數(shu)據(ju)的(de)變化曲線(xian)。

壹(yi)、主(zhu)要(yao)應用(yong)範圍：

1、  廣泛用於(yu)碳系導電材(cai)料的(de)電阻率(lv)和(he)電導率測量

2、  金(jin)屬(shu)系導電材(cai)料的(de)電阻率(lv)和(he)電導率測量

3、  金(jin)屬(shu)氧(yang)化物系導電材(cai)料的(de)電阻率(lv)和(he)電導率測量

4、  高(gao)分子導電材(cai)料的(de)電阻率(lv)和(he)電導率測量

5、  復(fu)合導電材(cai)料等材(cai)料的(de)電阻率(lv)測量

6、  可(ke)以測量矽(gui)、鍺單晶(jing)（棒(bang)料、晶(jing)片）電阻率(lv)

7、  符(fu)合標準(zhun)：ASTM B193-02和GBT 6146-2010 、GBT15662-1995

8、  產品(pin)主(zhu)要(yao)特點：

1、高溫(wen)兩(liang)探(tan)針夾(jia)具(ju)與(yu)帶(dai)升降高溫(wen)測試平臺配合使(shi)用，組(zu)成(cheng)高(gao)溫(wen)兩(liang)探(tan)針測試平臺；

2測溫(wen)熱電偶探(tan)頭與(yu)樣(yang)品(pin)平(ping)臺(tai)為(wei)同壹(yi)熱沈(chen)，確保(bao)測量溫(wen)度(du)與(yu)樣品(pin)溫(wen)度(du)的(de)*性(xing)；

3、采(cai)用(yong)緊(jin)湊(cou)型設計(ji)，體積小、結構(gou)簡(jian)潔(jie)，操(cao)作(zuo)簡(jian)單(dan)、方(fang)便(bian)；

4' 隔熱盤(pan)隔離(li)樣(yang)品(pin)平(ping)臺(tai)與(yu)調(tiao)節平(ping)臺，並與(yu)高溫(wen)測試平臺重合，具(ju)有理(li)想的(de)隔熱保(bao)溫(wen)效果；

5、  探(tan)針調(tiao)節裝(zhuang)置(zhi)具(ju)有三維(wei)精確調節功能(neng)，精確定位探(tan)針的(de)位置(zhi)；

6、  探(tan)針調(tiao)節裝(zhuang)置(zhi)具(ju)有粗(cu)調(tiao)功能(neng)，有效增大(da)探(tan)針的(de)調(tiao)節範圍；

7、  探(tan)針調(tiao)節裝(zhuang)置(zhi)帶(dai)探(tan)針壓(ya)力(li)調(tiao)節功能(neng)，確保(bao)探(tan)針與(yu)樣(yang)品(pin)的(de)良(liang)好接觸，又不損(sun)傷樣品(pin)；

8、  探(tan)針采(cai)用(yong)帶(dai)同軸(zhou)屏(ping)蔽(bi)層(ceng)設計(ji)，減少(shao)電磁對(dui)測量的(de)幹(gan)擾(rao)；

9、探(tan)針電極選用鉑銥(yi)合金(jin)，有效減少(shao)接(jie)觸電阻，並具(ju)有良(liang)好的(de)高(gao)溫(wen)抗(kang)氧(yang)化(hua)能(neng)力；

10、自(zi)帶(dai)校準件，與各(ge)測試儀器配套，校準測試夾具。

主(zhu)要(yao)技(ji)術參數：

1、測量溫(wen)度(du)範圍：RT~600℃或(huo)RT~800℃或(huo)RT~1200℃可選

2、測試探(tan)針：     2個高溫(wen)高(gao)頻(pin)探(tan)針或(huo)4個高頻探(tan)針

3、電極直(zhi)徑(jing)：26.8mm

4、樣品(pin)大(da)小(xiao)：厚(hou)度(du)小(xiao)於(yu)10 mm，直(zhi)徑5~40mm

5、溫(wen)控(kong)方(fang)式：恒溫(wen)、變溫(wen)、常(chang)溫(wen)

6、控(kong)溫(wen)精(jing)度(du)：±0.4℃

7、電阻率(lv)：10nΩ-10MΩ

8、電阻：10nΩ-100MΩ

9、電導率：10-5 ～105 s/cm

10、重量：38KG

11、工(gong)作(zuo)溫(wen)度(du)：5℃至(zhi)40℃

12、重量：15KG

13、可(ke)以配合任(ren)意型(xing)號Agilent 、 WayneKer r 、 So lar tron 、 同惠(hui)、 Keysight

等(deng)LCR表(biao)進行(xing)無(wu)縫(feng)結(jie)合

14、設備可以配合ZJ-3型(xing)和ZJ-6型(xing)壓電測試儀進行(xing)壓(ya)電D33系數測量