描述：高溫(wen)絕(jue)緣電(dian)阻測試(shi)儀(yi)器運用三(san)電極法(fa)設計原(yuan)理(li)測(ce)量。利用三(san)電極測(ce)試(shi)系統(tong)，重復性與穩(wen)定性好(hao)，提高了夾(jia)具的(de)抗(kang)擾能力(li)，同時大(da)大(da)提(ti)高準(zhun)確(que)度也(ye)可應(ying)用於(yu)產(chan)品(pin)檢測以及(ji)新材(cai)料電(dian)學(xue)研(yan)究(jiu)等用途。

HTIM-1000型(xing)高溫(wen)絕(jue)緣電(dian)阻測試(shi)儀(yi)

儀器(qi)簡介(jie)：

 高溫(wen)絕(jue)緣電(dian)阻測試(shi)儀(yi)器運用三(san)電極法(fa)設計原(yuan)理(li)測(ce)量。利用三(san)電極測(ce)試(shi)系統(tong)，重復性與穩(wen)定性好(hao)，提高了夾(jia)具的(de)抗(kang)擾能力(li)，同時大(da)大(da)提(ti)高準(zhun)確(que)度也(ye)可應(ying)用於(yu)產(chan)品(pin)檢測以及(ji)新材(cai)料電(dian)學(xue)研(yan)究(jiu)等用途。

 高溫(wen)電阻率(lv)測試(shi)儀(yi)采(cai)用自(zi)主(zhu)開(kai)發電子(zi)保護(hu)系統(tong)，提(ti)高了設備(bei)的(de)an全性；選(xuan)用熱電偶保定溫度的(de)采(cai)集有(you)效(xiao)值、采(cai)用的(de)SPWM電子(zi)升(sheng)壓技術(shu)，電壓輸出穩定性好(hao)。配(pei)備(bei)電(dian)壓、電(dian)流(liu)傳感器(qi)以保證試(shi)驗(yan)數據(ju)的(de)有(you)效(xiao)性。

 準確(que)地輸出與測(ce)量規格，保障(zhang)測試(shi)的(de)，適(shi)用於(yu)需(xu)要(yao)高溫(wen)環境材(cai)料的(de)數據(ju)的(de)檢測(ce)。例(li)如：陶瓷材(cai)料、矽(gui)橡(xiang)膠測(ce)試(shi)、PCB、雲母(mu)、四(si)氟(fu)材(cai)料電(dian)阻測試(shi)、也(ye)可做為(wei)科(ke)研(yan)院(yuan)所新(xin)材(cai)料的(de)高溫(wen)絕(jue)緣電(dian)阻的(de)測試(shi)。

 針對(dui)此儀(yi)器(qi)做(zuo)了多項(xiang)an全設(she)計，測(ce)試(shi)過(guo)程中有(you)過(guo)電(dian)壓、過(guo)電(dian)流(liu)、超溫等異(yi)常情況以保證測(ce)試(shi)過(guo)程的(de)an全；資(zi)料保存機(ji)制，當遇到(dao)電(dian)腦(nao)異(yi)常瞬時斷電可將資(zi)料保存於(yu)控(kong)制器(qi)中，不(bu)丟(diu)失試(shi)驗(yan)數所新(xin)開(kai)啟(qi)動後可恢復原(yuan)有(you)試(shi)驗(yan)數據(ju)。

 高溫(wen)電阻率(lv)測試(shi)系統(tong)搭(da)配(pei)Labview系統(tong)開(kai)發的(de)軟(ruan)件，具(ju)備(bei)彈(dan)性的(de)自(zi)定義(yi)功(gong)能，可進行電(dian)壓、電(dian)流(liu)、溫(wen)度、時間等設(she)置(zhi)，符合絕(jue)緣材(cai)料與其(qi)它新材(cai)料測(ce)試(shi)多樣(yang)化的(de)需求(qiu)。

測試(shi)原(yuan)理(li)：高溫(wen)絕(jue)緣電(dian)阻率(lv)運用三(san)電極法(fa)設計原(yuan)理(li)測(ce)量。

測試(shi)曲(qu)線：

符合標準(zhun)：

《GB/T10518-2006絕(jue)緣材(cai)料在(zai)高溫(wen)下(xia)電阻和(he)電(dian)阻(zu)率(lv)試(shi)驗(yan)方法(fa)》

ASTM標準(zhun)    

設備(bei)優(you)勢(shi)：

1、多功(gong)能真空加熱(re)爐(lu)，可實現(xian)高溫(wen)、真空、氣氛(fen)環境下(xia)進行測(ce)試(shi)。

2、采(cai)用鉑材(cai)料作(zuo)為(wei)導線(xian)，以減(jian)少(shao)信(xin)號(hao)衰減(jian)，提(ti)高測(ce)量精度。

3、可以測(ce)量絕(jue)緣材(cai)料的(de)電阻(zu)、電(dian)阻(zu)率(lv)。

4、可實現(xian)常溫、變溫、恒溫(wen)條(tiao)件的(de)I-V、R-T、R-t等測(ce)量功(gong)能。

5、使(shi)用溫度傳感器(qi)、PID自(zi)動溫度控(kong)制，保證測(ce)量精度準確(que)。

6、儀器(qi)可自(zi)動計算(suan)試(shi)樣(yang)的(de)電阻(zu)率(lv)。

8、10寸觸摸(mo)屏，壹體化機械(xie)結(jie)構，使(shi)測(ce)量穩定可靠。

9、程控(kong)電子(zi)升(sheng)壓技術(shu)，紋波(bo)低(di)，TVS防(fang)護(hu)系統(tong)，保證儀(yi)器(qi)an全。

10、99氧化鋁、陶瓷(ci)絕(jue)緣、碳(tan)化鎢探(tan)針

11、Huace pro控(kong)制分(fen)析(xi)軟(ruan)件

應(ying)用領(ling)域：

復合絕(jue)緣材(cai)料、陶(tao)瓷材(cai)料、雲母(mu)、玻(bo)璃材(cai)料、導電(dian)功(gong)能薄(bo)膜(mo)材(cai)料、絕(jue)緣超材(cai)料、PCB材(cai)料、gao端(duan)纖維(wei)材(cai)料、ABS、矽(gui)橡(xiang)膠材(cai)料、樹(shu)脂(zhi)基復合材(cai)料等。

軟(ruan)件功(gong)能

測試(shi)系統(tong)的(de)軟(ruan)件平(ping)臺(tai)，采(cai)用系統(tong)開(kai)發，符合絕(jue)緣材(cai)料的(de)各項測試(shi)需(xu)求，具備(bei)穩(wen)定性與an全性，並具(ju)備(bei)斷電資(zi)料的(de)保存功(gong)能，圖(tu)像(xiang)資(zi)料可保存恢復，。兼容(rong)，XP、win7、win10系統(tong)。

n多語(yu)介(jie)面：支(zhi)持(chi)中文(wen)/英文兩(liang)種(zhong)語言(yan)界(jie)面(mian)；

n即時監(jian)控(kong)：系統(tong)測(ce)試(shi)狀態即時瀏(liu)覽，無須等待(dai)；

n圖例(li)管(guan)理(li)：通過(guo)軟(ruan)件中的(de)狀態圖(tu)示(shi)，壹目了然(ran)，立即對(dui)狀態說(shuo)明(ming)，了解測(ce)試(shi)狀態；

n使(shi)用權限：可設定使(shi)用者的(de)權限(xian)，方便(bian)管(guan)理(li)；

n故(gu)障(zhang)狀態：軟(ruan)件具(ju)有(you)設(she)備(bei)的(de)故(gu)障(zhang)報(bao)警功(gong)能。

硬件配(pei)置

n集成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ雙核(he)處理器

n集成打(da)機(ji)印接(jie)口，可擴充8個USB接(jie)口

n支持(chi)16G內存(cun)，60G固態硬盤(pan)，讓(rang)系統(tong)運(yun)行流(liu)暢(chang)

設備(bei)參(can)數