ZJ-3型(xing)精密D333測(ce)試(shi)儀主要(yao)介紹

ZJ-3型(xing)壓(ya)電測(ce)試(shi)儀（靜(jing)壓(ya)電系(xi)數(shu)d33測(ce)量(liang)儀）是為測(ce)量(liang)壓(ya)電材(cai)料的d33常(chang)數(shu)而設計的專(zhuan)用(yong)儀(yi)器，它(ta)可(ke)用(yong)來(lai)測(ce)量(liang)具有大壓(ya)電常(chang)數(shu)的壓(ya)電陶(tao)瓷，小(xiao)壓(ya)電常(chang)數(shu)的壓(ya)電單(dan)晶及(ji)壓(ya)電高分子材(cai)料。此外(wai)，也(ye)可測(ce)量(liang)任(ren)意(yi)取(qu)向壓(ya)電單(dan)晶以及(ji)某些壓(ya)電器件(jian)的等效壓(ya)電d’33常(chang)數(shu)，儀器測(ce)量(liang)範圍寬(kuan)，分(fen)辨率(lv)細，可靠性(xing)高，操作(zuo)簡單(dan)，對試樣大小及(ji)形(xing)狀(zhuang)無(wu)特殊要(yao)求，圓(yuan)片、圓(yuan)環、圓(yuan)管、方(fang)塊、長條(tiao)、柱形及(ji)半球(qiu)殼(ke)等均可測(ce)量(liang)，測(ce)量(liang)結(jie)果和極性(xing)在三(san)位半數(shu)字(zi)面(mian)板表(biao)上直接顯示(shi)。ZJ-3型(xing)增(zeng)加了(le)對被(bei)測(ce)元(yuan)件(jian)的放電(dian)保護(hu)、放電(dian)提(ti)示(shi)以(yi)及(ji)被(bei)測(ce)波(bo)形(xing)輸(shu)出(chu)等功(gong)能，使(shi)得(de)儀(yi)器在測(ce)量(liang)未(wei)放電(dian)（尤其是較(jiao)大(da)尺(chi)寸(cun)）的壓(ya)電元(yuan)件(jian)時(shi)具備(bei)了(le)高電壓(ya)放電(dian)提(ti)示(shi)及(ji)保護(hu)功(gong)能，本(ben)儀(yi)器是從(cong)事(shi)壓(ya)電材(cai)料及(ji)壓(ya)電元(yuan)件(jian)生(sheng)產(chan)、應用(yong)與(yu)研(yan)究部門的儀(yi)器。

ZJ-3型(xing)精密D333測(ce)試(shi)儀主要(yao)技(ji)術(shu)參(can)數

d33測(ce)量(liang)範圍：

×1擋(dang)：10到(dao)2000pC/N，20 至4000pC/N，可(ke)以(yi)升(sheng)級(ji)到(dao)10000PC/N.
 ×0.1擋(dang)： 1到(dao)200pC/N，2 至400pC/N。

可配(pei)D31塊體(ti)夾具，D15塊體(ti)夾具，D15圓(yuan)管夾具，薄膜拉伸夾具

可以(yi)配(pei)套(tao)PZT-JH10/4/8/12型(xing)壓(ya)電極化(hua)裝置使用(yong)

可以(yi)配(pei)套ZJ-D33-YP15壓(ya)電壓(ya)片機使(shi)用(yong)
 誤(wu)差(cha)：×1擋(dang)：±2%±1個數(shu)字，當(dang)d33在100到(dao)4000pC/N；

計(ji)量標(biao)定(ding)標(biao)準(zhun)樣尺(chi)寸(cun)：18mm*0.8mm，老化(hua)時(shi)間(jian)：2-3年(nian)（評(ping)判壓(ya)電測(ce)試(shi)儀準(zhun)確性(xing)能的(de)重(zhong)要(yao)依(yi)據(ju)之(zhi)壹(yi)）
 ±5%±1個數(shu)字，當(dang)d33在10到(dao)200pC/N；
 ×0.1擋(dang)：±2%±1個數(shu)字，(當(dang)d33在10到(dao)200pC/N)
 ±5%±1個數(shu)字，當(dang)d33在10到(dao)20pC/N。
 分辨率(lv)：   ×1擋(dang)：1 pC/N；×0.1擋(dang)：0.1   pC/N。
 尺(chi)寸(cun)：施(shi)力裝置：Φ110×140mm；儀器本體(ti)：240×200×80mm。
 重量(liang)：施(shi)力裝置：約4公斤(jin)；    
 儀器本體(ti)：2公斤(jin)。
 電源：220伏，50赫，20瓦(wa)。

補充(chong)參(can)數:

TDZT-04C鐵(tie)電(dian)性(xing)能綜(zong)合測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)

TDZT-04C鐵(tie)電(dian)性(xing)能綜(zong)合測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)是最新(xin)壹(yi)代鐵(tie)電(dian)材(cai)料參(can)數測(ce)試(shi)儀適用(yong)於(yu)鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜、鐵(tie)電(dian)體(ti)材(cai)料（既(ji)可(ke)塊體(ti)材(cai)料）的電(dian)性(xing)能測(ce)量(liang)，可測(ce)量(liang)鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜電滯(zhi)回線、I—V特性(xing)及(ji)開(kai)關(guan)特(te)性(xing)，可精確地(di)測(ce)出(chu)具有非(fei)對稱電(dian)滯回線鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜的Pr值(zhi)。可(ke)測(ce)鐵(tie)電(dian)體(ti)材(cai)料的電(dian)滯(zhi)回線及(ji)I—V特(te)性(xing)。

TDZT-04C鐵(tie)電(dian)性(xing)能綜(zong)合測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)

主要(yao)技(ji)術(shu)參(can)數

主(zhu)要(yao)技(ji)術(shu)指標(biao)：

1.輸出(chu)信(xin)號(hao)電壓(ya)：：薄膜：0～±10V 陶(tao)瓷、材(cai)料：0～±2000V

2.輸出(chu)信(xin)號(hao)頻(pin)率(lv)：薄膜材(cai)料1-1000HZ，陶(tao)瓷：0-1Hz

3.電容(rong)範圍：1000nf～ 100nf, 精度: ≤1%。

4.電(dian)流(liu)範圍:   1nA～10A   ,精度:   ≤1%。

5、測(ce)試(shi)樣品：0-20mm  5個

6、高壓(ya)樣品池：開放式：8CM*5CM

7、三維移(yi)動(dong)薄(bo)膜測(ce)試(shi)平臺：直立(li)式探針(zhen)壹(yi)套(tao)

8、電流(liu)：1-10倍放大(da)，信(xin)號(hao)：1-20倍。.數(shu)據(ju)結(jie)口(kou)：USB或(huo)BNC接口(kou)。

9. 數(shu)據(ju)采集分析軟件(jian)： 能畫出(chu)鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜的電(dian)滯(zhi)回線，定(ding)量得(de)到(dao)鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜材(cai)料的飽(bao)和極化(hua)Ps、剩余極化(hua)Pr、矯頑(wan)場(chang)Ec、漏(lou)電流(liu)等參(can)數;可(ke)以進行(xing)鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜材(cai)料的鐵(tie)電(dian)疲勞性(xing)能、鐵(tie)電(dian)保持性(xing)能的(de)測(ce)試(shi)，電阻測(ce)量(liang)，漏(lou)電流(liu)測(ce)量(liang)。

10.可以配(pei)合ZJ-3和ZJ-6型(xing)壓(ya)電測(ce)試(shi)儀操作(zuo)系(xi)統(tong)

PZT-JH10/4壓(ya)電極化(hua)裝置（10KV以下(xia)壓(ya)電陶(tao)瓷同(tong)時(shi)極化(hua)1-4片(pian)）

        PZT-JH10/4壓(ya)電極化(hua)裝置（10KV以(yi)下(xia)壓(ya)電陶(tao)瓷同(tong)時(shi)極化(hua)1-4片）

關(guan)鍵(jian)詞(ci)：壓(ya)電極化(hua)，壓(ya)電陶(tao)瓷材(cai)料，1-4片(pian)

主要(yao)特點(dian)：

1.能夠(gou)同(tong)時(shi)極化(hua)1-4片試樣

2.提(ti)供多(duo)套(tao)測(ce)試(shi)夾具（可以測(ce)試(shi)粉末(mo)，單樣品，及(ji)薄(bo)的壓(ya)電陶(tao)瓷片(pian)）

2. 安(an)全可(ke)靠，溫度補償快(kuai)、恒溫精度高

3. 每路(lu)當(dang)漏(lou)電流(liu)超(chao)過規(gui)定(ding)值時(shi)，都(dou)具有切斷(duan)保護(hu)功(gong)能，不(bu)影(ying)響其它(ta)樣片的極化(hua)，其它(ta)回路可(ke)按正(zheng)常(chang)極化(hua)時(shi)間(jian)完成極化(hua)。

4. 任(ren)意(yi)夾持(chi)樣品尺(chi)寸(cun)為0-40mm片方(fang)型(xing)或(huo)是圓(yuan)型(xing)試(shi)樣

7、工(gong)作(zuo)電源：AC220V    50/60HZ

8、額(e)定(ding)功(gong)率(lv)：2.0kw

9、壓(ya)電材(cai)料極化(hua)或(huo)耐壓(ya)測(ce)試(shi)：DC：0-10KV（±5％+2個字(zi)）連續(xu)可調

10、總(zong)電流(liu)：10mA

11、每(mei)路(lu)切斷(duan)電流(liu)：0.5mA

12、加熱(re)時(shi)間(jian)：可(ke)以(yi)自(zi)動設定(ding)  

13、加熱(re)元(yuan)件(jian) ：優質電阻絲

14、1次(ci)測(ce)試(shi)試樣數量:可(ke)加載1-4片(pian)試(shi)樣

15、額(e)定(ding)溫度 ：≤180℃

16、最高溫度 ：200℃

17、控(kong)溫方(fang)式 ：智能化(hua)恒(heng)溫控(kong)制(zhi)（進口(kou)表(biao)），多(duo)段(duan)程序可(ke)控(kong)

18、樣片 ：樣品尺(chi)寸(cun)為3-40mm片方(fang)型(xing)或(huo)是圓(yuan)型(xing)試(shi)樣

19、外形(xing)尺(chi)寸(cun) ：   875*470*400（mm)

20、極化(hua)探頭(tou)：優(you)質(zhi)銅(tong)電極（0.2mm）

21、標(biao)準(zhun)極化(hua)樣品：8片(pian)（10mm*1.5mm）

21、配套(tao)設備(bei)裝置：能夠(gou)配合ZJ-3和ZJ-6壓(ya)電測(ce)試(shi)儀進行(xing)測(ce)量(liang)

22、配套設備(bei)裝置：可以(yi)配(pei)置(zhi)10MM，20MM，30MM，40MM壓(ya)片夾(jia)具

DLT-01 Dielectric tester型(xing)介(jie)電(dian)測(ce)試(shi)儀

DLT-01 Dielectric tester型(xing)介(jie)電(dian)測(ce)試(shi)儀

關(guan)鍵(jian)詞(ci)：介電常(chang)數(shu)，諧振頻(pin)率(lv)Fp，機電(dian)耦合系(xi)數(shu)Keff，機械(xie)品(pin)質因素 Qm

  DLT-01 Dielectric tester型(xing)介(jie)電(dian)測(ce)試(shi)儀是壹(yi)款(kuan)多(duo)功(gong)能的(de)介(jie)電測(ce)試(shi)儀，即(ji)可測(ce)試(shi)包括(kuo)介(jie)電常(chang)數(shu)、介電損耗、電(dian)容(rong)等參(can)數，又可(ke)以(yi)測(ce)量(liang)諧振頻(pin)率(lv)Fs，反諧振頻(pin)率(lv)Fp，機電(dian)耦合系(xi)數(shu)   Keff，機械(xie)品(pin)質因素 Qm，最(zui)大導納Gmax等材(cai)料參(can)數，為材(cai)料研究測(ce)試(shi)提(ti)供第(di)壹(yi)手(shou)原始(shi)數(shu)據，提(ti)供元(yuan)整的數(shu)據圖(tu)，是高等院校(xiao)，科研(yan)院所(suo)及(ji)材(cai)料研究生(sheng)產(chan)的(de)重(zhong)要(yao)工(gong)具,同(tong)時(shi)還(hai)可(ke)以(yi)配(pei)合高溫設備(bei)，進行(xing)高溫設備(bei)測(ce)試(shi)。

壹(yi)、主(zhu)要(yao)特點(dian)：

●自(zi)動平(ping)衡技(ji)術(shu)電(dian)橋，測(ce)量(liang)準(zhun)確度(du)高

●4端對開爾文(wen)測(ce)試(shi)端，測(ce)量(liang)範圍準(zhun)確度(du)高

●提(ti)供內(nei)部(bu)直流(liu)偏壓(ya)-5V～+5V

●可選配內部±40V偏置電(dian)壓(ya)源

●簡(jian)體中(zhong)文(wen)、英文(wen)操作(zuo)語言

●分檔(dang)測(ce)量(liang)、列表掃描、繪圖(tu)掃(sao)描、開(kai)路、短(duan)路(lu)、負載校(xiao)正(zheng)等等功(gong)能

●配備(bei)電(dian)導率(lv)σ·介電常(chang)數(shu)ε的運(yun)算(suan)功(gong)能

●進行(xing)測(ce)試(shi)數據、測(ce)試(shi)條件(jian)保存(cun)（U盤或內部(bu)）

●繪圖(tu)掃(sao)描圖(tu)像(xiang)直接拷屏(ping)到(dao)U盤功(gong)能

●加強的(de)測(ce)試(shi)端保護(hu)功(gong)能

●USB、GPIB、RS232、LAN等上位機連(lian)接接(jie)口(kou)

二(er)、主(zhu)要(yao)技(ji)術(shu)參(can)數

1、頻(pin)率(lv)：20HZ-1MHZ,5MHZ,10MHZ,15MHZ,30MHZ，50MHZ多種(zhong)可選

2、D33測(ce)試(shi)範圍：0-6000PC/N(選(xuan)配(pei)ZJ-3型(xing)精密壓(ya)電系(xi)數(shu)測(ce)試(shi)儀)

5、基(ji)本精度 ：0.05%

6、測(ce)試(shi)電平: 5mV—2Vrms

7、輸(shu)出(chu)阻抗: 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

8、測(ce)試(shi)參(can)數：D33，電(dian)容，介(jie)電常(chang)數(shu)，諧振頻(pin)率(lv)Fs，反諧振頻(pin)率(lv)Fp，機電(dian)耦合系(xi)數(shu) Keff，機械(xie)品(pin)質因素 Qm，最(zui)大導納Gmax等

9、通(tong)道數：1通道

10、電(dian)極： 雙面(mian)夾持(chi)探針(zhen)

11、軟件(jian)：自(zi)動計(ji)算(suan)並(bing)輸出(chu)數據，軟件(jian)可根(gen)據實(shi)驗方(fang)案(an)設計，通過測(ce)量(liang)C和D值，自(zi)動完成介(jie)電常(chang)數(shu)和介電損耗隨(sui)頻(pin)率(lv)、電壓(ya)、偏壓(ya)多維變化(hua)的(de)曲線。