TDZT-04鐵電(dian)性能綜(zong)合測(ce)試(shi)儀
TDZT-04鐵電(dian)性能綜(zong)合測(ce)試(shi)儀
關(guan)鍵詞:鐵電(dian)材料參(can)數(shu)測(ce)試(shi)儀,鐵電(dian)子(zi)材料測(ce)試(shi)儀,鐵電(dian)測(ce)試(shi)儀
壹、鐵電(dian)測(ce)試(shi)儀產(chan)品(pin)介(jie)紹:
TDZT-04型鐵電(dian)性能綜(zong)合測(ce)試(shi)儀是(shi)適用(yong)於鐵電(dian)薄(bo)膜、鐵電(dian)體(ti)材料(既(ji)可塊(kuai)體材料)的(de)電(dian)性能測(ce)量(liang),可測(ce)量(liang)鐵電(dian)薄(bo)膜電(dian)滯(zhi)回線(xian),可測(ce)出(chu)具有(you)非(fei)對稱(cheng)電(dian)滯(zhi)回線(xian)鐵電(dian)薄(bo)膜的(de)Pr值。
前言(yan):鐵電(dian)材料具(ju)有(you)良(liang)好的(de)鐵電(dian)性、壓電(dian)性、熱釋(shi)電(dian)性以及(ji)非(fei)線(xian)性光學(xue)等(deng)特(te)性, 是當前技術(shu)材料中(zhong)非(fei)常(chang)活躍的(de)研(yan)究領域之(zhi)壹,其(qi)研(yan)究熱點(dian)正(zheng)向(xiang)實用(yong)化(hua)發展(zhan)。
背景:高性能的(de)鐵電(dian)材料是(shi)壹類(lei)具(ju)有(you)廣泛(fan)應用前景的(de)功(gong)能材料,從目前的(de)研(yan)究現(xian)狀(zhuang)來看(kan),對於具有(you)高(gao)性能的(de)鐵電(dian)材料的(de)研(yan)究和開發應(ying)用(yong)仍然(ran)處(chu)於發展(zhan)階(jie)段(duan).研(yan)究者們選用不同的(de)鐵電(dian)材料進(jin)行研(yan)究,並(bing)不斷(duan)探(tan)索制備(bei)工(gong)藝(yi),只(zhi)是(shi)到(dao)目前為止(zhi)對於鐵電(dian)材料的(de)壹些(xie)性能的(de)研(yan)究還沒有(you)達(da)到(dao)令人滿意的(de)地(di)步(bu).比(bi)如,用於制備(bei)鐵電(dian)復(fu)合(he)材料的(de)陶(tao)瓷粉體(ti)和聚(ju)合(he)物的(de)種類(lei)還(hai)很單(dan)壹,對其(qi)復(fu)合界(jie)面的(de)理(li)論(lun)研(yan)究也剛(gang)剛(gang)開始(shi),鐵電(dian)記(ji)憶器件(jian)抗疲(pi)勞特(te)性的(de)研(yan)究還有(you)待發展(zhan)。
壹、產(chan)品(pin)介(jie)紹:
TDZT-04型鐵電(dian)測(ce)試(shi)儀是(shi)鐵電(dian)材料參(can)數(shu)測(ce)試(shi)儀適用(yong)於鐵電(dian)薄(bo)膜、鐵電(dian)體(ti)材料(既(ji)可塊(kuai)體材料)的(de)電(dian)性能測(ce)量(liang),可測(ce)量(liang)鐵電(dian)薄(bo)膜電(dian)滯(zhi)回線(xian),可測(ce)出(chu)具有(you)非(fei)對稱(cheng)電(dian)滯(zhi)回線(xian)鐵電(dian)薄(bo)膜的(de)Pr值。
主(zhu)要(yao)技術(shu)指標(biao):
1.輸出(chu)信號(hao)電(dian)壓(ya)::薄(bo)膜:0~±10V 陶(tao)瓷、材料:0~±2000V
2.輸(shu)出(chu)信號(hao)頻(pin)率:薄(bo)膜材料1-1000HZ,陶(tao)瓷:0-1Hz
3.電(dian)容(rong)範(fan)圍:1000nf~ 100nf, 精度: ≤1%。
4.電(dian)流(liu)範(fan)圍: 1nA~10A ,精度: ≤1%。
5、測(ce)試(shi)樣品(pin):0-20mm 5個(ge)
6、高壓(ya)樣品(pin)池:2個(ge),壹個(ge)封閉(bi)式(shi):8CM*6CM 壹個(ge)開放(fang)式(shi):8CM*5CM
7、三維移動薄(bo)膜測(ce)試(shi)平(ping)臺:直(zhi)立式(shi)探(tan)針壹套(tao),角度式(shi)探(tan)針壹套(tao)
8、電(dian)流(liu):1-10倍(bei)放(fang)大(da),信號(hao):1-20倍(bei)。.數據(ju)結(jie)口(kou):USB或BNC接(jie)口(kou)。
9. 數據(ju)采集分(fen)析軟件: 能畫(hua)出(chu)鐵電(dian)薄(bo)膜的(de)電(dian)滯(zhi)回線(xian),定量(liang)得(de)到(dao)鐵電(dian)薄(bo)膜材料的(de)飽(bao)和極(ji)化(hua)Ps、剩余(yu)極化(hua)Pr、矯頑場Ec、漏(lou)電(dian)流(liu)等(deng)參(can)數;可以進(jin)行鐵電(dian)薄(bo)膜材料的(de)鐵電(dian)疲(pi)勞性能、鐵電(dian)保(bao)持(chi)性能的(de)測(ce)試(shi),電(dian)阻(zu)測(ce)量(liang),漏(lou)電(dian)流(liu)測(ce)量(liang)。
10.可以配(pei)合ZJ-3和ZJ-6型(xing)壓(ya)電(dian)測(ce)試(shi)儀操(cao)作