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材(cai)料電學性(xing)能(neng)測試(shi)儀(yi)
ARTICLES致(zhi)力於(yu)成(cheng)為(wei)更好(hao)的(de)解決方(fang)案供應(ying)商(shang)!
詳(xiang)細(xi)介紹(shao)
| 品牌 | ACE Controls/美國(guo) | 產(chan)地(di)類(lei)別 | 國(guo)產 |
|---|---|---|---|
| 應(ying)用領(ling)域 | 能(neng)源,電(dian)子(zi)/電(dian)池,鋼(gang)鐵(tie)/金屬(shu),航空航天,電氣 |
JKZC-YDZK50M型1000℃高溫精密阻抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi)
關(guan)鍵(jian)詞:阻抗(kang),高(gao)溫(wen),導納(na)圖,掃(sao)描(miao),50MHZ

JKZC-YDZK50M型1000℃高溫精密阻抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi)是(shi)壹款兼容(rong)高(gao)溫功(gong)能(neng)的(de)精密阻抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi),是(shi)壹款能(neng)夠(gou)應(ying)用於(yu)*材(cai)料測試(shi)的(de)多功(gong)能(neng)復合型精密阻抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi),該阻(zu)抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi)可以兼容(rong)多(duo)種高(gao)溫(wen)夾(jia)具,可以測試(shi)粉(fen)末(mo),液(ye)體(ti),塊(kuai)體等(deng)多種不同(tong)類型的(de)樣(yang)品。常(chang)溫下(xia)測(ce)試(shi)數(shu)據(ju)豐(feng)富(fu),高(gao)溫(wen)下(xia)測(ce)試(shi)數(shu)據(ju)穩(wen)定(ding),無漂(piao)移(yi)。是(shi)壹款兼顧(gu)中(zhong)頻率的(de)精密阻抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi)。在陶(tao)瓷及(ji)*材(cai)料生產中(zhong)和科(ke)研院(yuan)校廣(guang)泛(fan)使(shi)用。
壹(yi)、主(zhu)要(yao)應(ying)用:
1、*材(cai)料測試(shi):高(gao)溫(wen)及(ji)常(chang)溫介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)、彈(dan)性(xing)常(chang)數(shu)等(deng)C-V特性(xing)
2、高(gao)溫及(ji)常(chang)溫無源元件測(ce)試(shi):電(dian)容(rong)器(qi)、電(dian)感(gan)器(qi)、磁芯(xin)、電(dian)阻(zu)器(qi)、壓電(dian)器(qi)件(jian)、變(bian)壓器(qi)、芯(xin)片組件和網絡(luo)元件等(deng)的(de)阻抗(kang)參(can)數(shu)評估(gu)和性(xing)能(neng)分析(xi)。
3、高(gao)溫及(ji)常(chang)溫半(ban)導體(ti)元件:LED驅動(dong)集成(cheng)電(dian)路(lu)寄(ji)生(sheng)參(can)數(shu)測(ce)試(shi)分(fen)析(xi);變(bian)容(rong)二(er)極(ji)管(guan)的(de)C-VDC特性(xing);晶體(ti)管或集成(cheng)電(dian)路(lu)的(de)寄(ji)生(sheng)參(can)數(shu)分(fen)析(xi)
4、高(gao)溫及(ji)常(chang)溫其(qi)它(ta)元件:印(yin)制(zhi)電(dian)路(lu)板、繼(ji)電(dian)器(qi)、開(kai)關(guan)、電(dian)纜(lan)、電(dian)池等阻(zu)抗(kang)評估(gu)
5高(gao)溫及(ji)常(chang)溫介(jie)質(zhi)材(cai)料:塑料、陶(tao)瓷和其它(ta)材(cai)料的(de)介電(dian)常(chang)數(shu)和損耗角評估(gu)
6、高(gao)溫及(ji)常(chang)溫磁性(xing)材(cai)料:鐵(tie)氧(yang)體(ti)、非(fei)晶體(ti)和其它(ta)磁性(xing)材(cai)料的(de)導磁率和損耗角評估(gu)
7、高(gao)溫及(ji)常(chang)溫半(ban)導體(ti)材(cai)料:半(ban)導體(ti)材(cai)料的(de)介電(dian)常(chang)數(shu)、導電(dian)率和C-V特性(xing)
二(er)、主(zhu)要(yao)特點(dian):
1、高(gao)溫及(ji)常(chang)溫進行(xing)*材(cai)料測試(shi)阻(zu)抗(kang)各參數(shu)測(ce)試(shi):諧(xie)振(zhen)頻率Fs、反(fan)諧(xie)振(zhen)頻率Fp、半(ban)功(gong)率點(dian)F1與F2、導納(na)Gmax、靜(jing)電(dian)容(rong)C0、動(dong)態電抗(kang)R1、動(dong)態電容(rong)C1、動(dong)態電感(gan)L1、自(zi)由電容(rong)CT、自(zi)由介電(dian)常(chang)數(shu)、機械品質(zhi)因素Qm、機電耦合系(xi)數(shu)Keff、Kp、K31、K33等(deng)
2、多(duo)種探(tan)頭(tou)滿(man)足壓電(dian)陶(tao)瓷,液(ye)體,及粉(fen)末(mo)相關電學性(xing)能(neng)測試(shi)
3、高(gao)溫夾(jia)具及常(chang)溫測(ce)試(shi)裝置,設(she)計精巧靈(ling)活,測(ce)試(shi)數(shu)據(ju)可靠
4、50MHZ高(gao)頻阻抗(kang)頻率滿(man)足測試(shi)需(xu)求(qiu)
5、1000攝(she)氏(shi)度高(gao)溫(wen)條件下測試(shi)數(shu)據(ju)穩(wen)定(ding)無漂(piao)移(yi),曲(qu)線(xian)與溫度對(dui)應(ying)
6、軟(ruan)件功(gong)能(neng)豐(feng)富(fu),數(shu)據(ju)即(ji)讀取(qu),方(fang)便(bian)快(kuai)捷
三(san)、主(zhu)要(yao)技(ji)術參(can)數(shu):
1、頻率範(fan)圍(wei):20HZ-50MHZ
2、溫(wen)度:室(shi)溫(wen)-1000℃
3、阻(zu)抗(kang)參(can)數(shu):諧(xie)振(zhen)頻率Fs、反(fan)諧(xie)振(zhen)頻率Fp、半(ban)功(gong)率點(dian)F1與F2、導納(na)Gmax、靜(jing)電(dian)容(rong)C0、動(dong)態電抗(kang)R1、動(dong)態電容(rong)C1、動(dong)態電感(gan)L1、自(zi)由電容(rong)CT、自(zi)由介電(dian)常(chang)數(shu)、機械品質(zhi)因素Qm、機電耦合系(xi)數(shu)Keff、Kp、K31、K33等(deng)
4、電(dian)極(ji)材(cai)質:鉑銥(yi)合金(樣(yang)品有無電均可以測試(shi))同(tong)軸(zhou)屏蔽(bi)層(ceng)
5、上(shang)電(dian)極(ji) 直(zhi)徑1.6mm球(qiu)頭電(dian)極(ji),引(yin)線(xian)帶同(tong)軸(zhou)屏蔽(bi)層(ceng)
6、下(xia)電極(ji): 直(zhi)徑26.8mm平面電(dian)極(ji),引(yin)線(xian)帶同(tong)軸(zhou)屏蔽(bi)層(ceng)
7、保(bao)護(hu)電(dian)極(ji): 消(xiao)除寄(ji)生(sheng)電(dian)容(rong)、邊界電(dian)容(rong)對(dui)測試(shi)的(de)影(ying)響(xiang)
8、電(dian)極(ji)幹擾屏蔽(bi): 電(dian)極(ji)引(yin)線(xian)帶同(tong)軸(zhou)屏蔽(bi),樣(yang)品平(ping)臺(tai)帶屏蔽(bi)罩(zhao)
9、夾(jia)具升降控(kong)制(zhi): 帶(dai)程(cheng)序和手(shou)動(dong)控(kong)制(zhi),可更換夾(jia)具的(de)電動(dong)升降裝置
10、熱(re)電偶: 雙(shuang)探頭(tou)
11、無電極(ji)樣(yang)品尺(chi)寸 : 直(zhi)徑(jing)小(xiao)於40mm,厚(hou)度小(xiao)於(yu)8mm
12、帶(dai)電極(ji)樣(yang)品尺(chi)寸: 直(zhi)徑(jing)小(xiao)於26mm,厚(hou)度小(xiao)於(yu)8mm
13、軟(ruan)件功(gong)能(neng):自(zi)動(dong)分析(xi)數(shu)據(ju),可以分類(lei)保(bao)存,樣(yang)品和測量(liang)方(fang)案結(jie)合在(zai)壹起,生成(cheng)系(xi)統(tong)所(suo)需的(de)實驗方(fang)案,輸(shu)出(chu)TXT、XLS、BMP等格(ge)式文(wen)件
14、測(ce)量方(fang)案 提供靈(ling)活、豐(feng)富(fu)的(de)測試(shi)設(she)置(zhi)功(gong)能(neng),包括(kuo)頻率譜、阻抗(kang)譜、介電譜及其組合
15、接口方(fang)式(shi):包(bao)括(kuo)Keysight\WayneKerr\Tonghui等多(duo)種(zhong)LCR接口,
16、外(wai)形尺(chi)寸(cun): L360mm*W370mm*H510mm
17、凈(jing) 重: 22KG
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