描(miao)述：HTRC-800型(xing)高溫(wen)導(dao)電材(cai)料電阻率(lv)測試系(xi)統(tong)是(shi)壹款用於(yu)測量材(cai)料電阻，電導(dao)率的(de)專(zhuan)用設(she)備(bei)，采(cai)用由(you)四(si)端(duan)測量方法測試電阻率(lv)系(xi)統(tong)與高溫(wen)試驗箱(xiang)為(wei)壹(yi)體(ti)的(de)專(zhuan)用的(de)高溫(wen)測試系(xi)統(tong)，滿足(zu)半導(dao)體(ti)及(ji)導(dao)體(ti)材(cai)料因溫(wen)度(du)變(bian)化(hua)對(dui)電阻值變(bian)化的(de) 測量要(yao)求(qiu)，通(tong)以(yi)在(zai)高溫(wen) 、真(zhen)空(kong)、氣(qi)氛的(de)條件下測量導(dao)電材(cai)料電阻和(he)電阻率(lv)，可以(yi)分(fen)析被(bei)測樣的(de)電阻和(he)電阻率(lv)隨溫(wen)度(du)、 時(shi)間變(bian)化的(de)曲(qu) 線(xian)． 目(mu)前(qian)主(zhu)要針對(dui)圓(yuan)片、方塊、長條等(deng)樣品進(jin)行測試，可以(yi)廣(guang)泛用於(yu)碳(tan)

HTRC-800型(xing)高溫(wen)導(dao)電材(cai)料電阻率(lv)測試系(xi)統(tong)

關鍵詞：電導(dao)率，電阻率(lv)，高溫(wen)600℃，兩(liang)探針，四探針(zhen)

     HTRC-800型(xing)高溫(wen)導(dao)電材(cai)料電阻率(lv)測試系(xi)統(tong)是(shi)壹款用於(yu)測量材(cai)料電阻，電導(dao)率的(de)專(zhuan)用設(she)備(bei)，采(cai)用由(you)四(si)端(duan)測量方法測試電阻率(lv)系(xi)統(tong)與高溫(wen)試驗箱(xiang)為(wei)壹(yi)體(ti)的(de)專(zhuan)用的(de)高溫(wen)測試系(xi)統(tong)，滿足(zu)半導(dao)體(ti)及(ji)導(dao)體(ti)材(cai)料因溫(wen)度(du)變(bian)化(hua)對(dui)電阻值變(bian)化的(de) 測量要(yao)求(qiu)，通(tong)以(yi)在(zai)高溫(wen)  、真(zhen)空(kong)、氣(qi)氛的(de)條件下測量導(dao)電材(cai)料電阻和(he)電阻率(lv)，可以(yi)分(fen)析被(bei)測樣的(de)電阻和(he)電阻率(lv)隨溫(wen)度(du)、 時(shi)間變(bian)化的(de)曲(qu) 線(xian)． 目(mu)前(qian)主(zhu)要針對(dui)圓(yuan)片、方塊、長條等(deng)樣品進(jin)行測試，可以(yi)廣(guang)泛用於(yu)碳(tan)系(xi)導(dao)電材(cai)料、 金(jin)屬系(xi)導(dao)電材(cai)料、 金(jin)屬氧化物系(xi)導(dao)電材(cai)料、結 構型(xing)高分子(zi)導(dao)電材(cai)料、復(fu)合導(dao)電材(cai)料等(deng)材(cai)料的(de)電阻率(lv)測量。 測控(kong)軟件可以(yi)顯(xian)示(shi)出溫(wen)度(du)與電阻，電阻率(lv)，電導(dao)率數(shu)據(ju)的(de)變(bian)化(hua)曲(qu)線(xian)。

壹、主(zhu)要(yao)應(ying)用範(fan)圍(wei)：

1、  廣泛(fan)用於(yu)碳(tan)系(xi)導(dao)電材(cai)料的(de)電阻率(lv)和(he)電導(dao)率測量

2、  金屬(shu)系(xi)導(dao)電材(cai)料的(de)電阻率(lv)和(he)電導(dao)率測量

3、  金屬(shu)氧(yang)化物(wu)系(xi)導(dao)電材(cai)料的(de)電阻率(lv)和(he)電導(dao)率測量

4、  高分子(zi)導(dao)電材(cai)料的(de)電阻率(lv)和(he)電導(dao)率測量

5、  復(fu)合導(dao)電材(cai)料等(deng)材(cai)料的(de)電阻率(lv)測量

6、  可以(yi)測量矽(gui)、鍺(zhe)單晶（棒料、晶片）電阻率(lv)

7、  符(fu)合標(biao)準(zhun)：ASTM B193-02和(he)GBT 6146-2010 、GBT15662-1995

8、  產品主要特點(dian)：

1、高溫(wen)兩(liang)探針夾(jia)具與帶升(sheng)降(jiang)高溫(wen)測試平臺配(pei)合使用，組(zu)成(cheng)高溫(wen)兩(liang)探針測試平臺；

2測溫(wen)熱電偶探(tan)頭(tou)與樣品平臺為(wei)同(tong)壹(yi)熱沈(chen)，確(que)保(bao)測量溫(wen)度(du)與樣品溫(wen)度(du)的(de)壹(yi)致(zhi)性(xing)；

3、采用緊(jin)湊(cou)型(xing)設計(ji)，體(ti)積(ji)小、結構簡潔(jie)，操作(zuo)簡單、方便(bian)；

4' 隔熱盤隔離(li)樣品平臺與調(tiao)節平(ping)臺，並與高溫(wen)測試平臺重合，具(ju)有(you)理(li)想(xiang)的(de)隔(ge)熱保(bao)溫(wen)效果(guo)；

5、  探針(zhen)調(tiao)節裝(zhuang)置(zhi)具(ju)有(you)三維精(jing)確調節(jie)功(gong)能，精(jing)確定位探針(zhen)的(de)位置；

6、  探針(zhen)調(tiao)節裝(zhuang)置(zhi)具(ju)有(you)粗(cu)調功(gong)能(neng)，有(you)效增大(da)探(tan)針(zhen)的(de)調(tiao)節(jie)範(fan)圍(wei)；

7、  探針(zhen)調(tiao)節裝(zhuang)置(zhi)帶探(tan)針(zhen)壓力(li)調(tiao)節(jie)功能(neng)，確保(bao)探針(zhen)與樣品的(de)良好(hao)接(jie)觸(chu)，又(you)不(bu)損(sun)傷(shang)樣品；

8、  探針(zhen)采(cai)用帶同(tong)軸(zhou)屏蔽(bi)層(ceng)設計(ji)，減(jian)少電磁對(dui)測量的(de)幹(gan)擾(rao)；

9、探針(zhen)電極選(xuan)用鉑(bo)銥合金，有(you)效減(jian)少接(jie)觸(chu)電阻，並具(ju)有(you)良好(hao)的(de)高溫(wen)抗氧化(hua)能力(li)；

10、自帶校準(zhun)件，與各(ge)測試儀器(qi)配(pei)套，校準(zhun)測試夾(jia)具。

主要(yao)技(ji)術(shu)參(can)數(shu)：

1、測量溫(wen)度(du)範(fan)圍(wei)：RT~600℃或(huo)RT~800℃或(huo)RT~1200℃可選(xuan)

2、測試探針：     2個高溫(wen)高頻探針(zhen)或(huo)4個(ge)高頻探針(zhen)

3、電極直(zhi)徑(jing)：26.8mm

4、樣品大(da)小：厚(hou)度(du)小於(yu)10 mm，直(zhi)徑5~40mm

5、溫(wen)控(kong)方式：恒溫(wen)、變(bian)溫(wen)、常(chang)溫(wen)

6、控(kong)溫(wen)精(jing)度：±0.4℃

7、電阻率(lv)：10nΩ-10MΩ

8、電阻：10nΩ-100MΩ

9、電導(dao)率：10-5 ～105 s/cm

10、重量(liang)：38KG

11、工作(zuo)溫(wen)度(du)：5℃至(zhi)40℃

12、重量(liang)：15KG

13、可以(yi)配(pei)合任(ren)意型(xing)號Agilent 、 WayneKer r 、 So lar tron 、 同(tong)惠、 Keysight

等(deng)LCR表(biao)進(jin)行無縫結合(he)

14、設備(bei)可以(yi)配(pei)合ZJ-3型(xing)和(he)ZJ-6型(xing)壓電測試儀進(jin)行壓電D33系(xi)數(shu)測量