如(ru)何(he)通過阻抗(kang)分(fen)析儀(yi)測量(liang)樣(yang)品的介(jie)電常數

　　如(ru)何通(tong)過阻抗(kang)分(fen)析儀(yi)測量(liang)樣(yang)品的介(jie)電常數

　　我(wo)們想(xiang)通過阻抗(kang)分(fen)析儀(yi)測某種粉(fen)體(ti)(粒度(du)約100微米左右)在不(bu)同(tong)溫度(du)下(如室(shi)溫至(zhi)600攝氏度(du))的介(jie)電常數，現(xian)在鄰(lin)近(jin)實驗(yan)室(shi)有壹臺阻抗(kang)分(fen)析儀(yi)，目(mu)前初定的方(fang)案是(shi)用兩(liang)個金電(dian)極(ji)作(zuo)為極(ji)板(ban)，將(jiang)該(gai)樣(yang)品壓(ya)片(pian)做(zuo)成電介(jie)質(zhi)，然後組(zu)成壹個平板(ban)電容，進而(er)通過阻抗(kang)分(fen)析儀(yi)測得(de)該樣(yang)品的阻抗(kang)譜(pu)，然後解(jie)譜(pu)獲得(de)該平板(ban)電容器(qi)在(zai)不同(tong)溫度(du)下的電容，再通過平板(ban)電容器(qi)的(de)計(ji)算公(gong)式(shi)求得(de)其介(jie)電常數。

　　但(dan)是(shi)現(xian)在有(you)個問(wen)題是(shi)：測阻抗(kang)譜(pu)的時(shi)候(hou)頻(pin)率都是(shi)壹個範圍(wei)，但(dan)是(shi)實際(ji)上(shang)介(jie)電常數和(he)激(ji)發(fa)頻(pin)率有(you)很密(mi)切的(de)關系，因此就(jiu)不(bu)知道這樣(yang)獲得(de)的介(jie)電常數是(shi)哪(na)個激(ji)發(fa)頻(pin)率下(xia)的了(le)。

　　實(shi)際(ji)上(shang)，阻抗(kang)和(he)介(jie)電常數都是(shi)頻(pin)率的(de)函數(shu)，因此，習慣稱(cheng)的介(jie)電常數應(ying)該(gai)稱(cheng)為介(jie)電系(xi)數更(geng)合適(shi)些，只不(bu)過人們習慣這(zhe)種稱(cheng)謂(wei)，但介(jie)電常數並(bing)不(bu)是(shi)壹個常數，測試(shi)頻(pin)率不(bu)同(tong)，這個常數也(ye)不(bu)同(tong)。對很(hen)多(duo)材(cai)料(liao)，當頻(pin)率高(gao)於某個頻(pin)率時(shi)，這(zhe)個常數變(bian)化很小(xiao)，或從(cong)介(jie)電常數的(de)曲(qu)線看(kan)，介(jie)電常數-頻(pin)率圖(tu)出(chu)現(xian)壹個平臺，這時(shi)，選(xuan)取平臺某壹(yi)點(dian)對應的(de)頻(pin)率，再進行單頻(pin)測試(shi)，或(huo)就(jiu)用(yong)這(zhe)個數值(zhi)，但(dan)需(xu)要標註(zhu)為某頻(pin)率下(xia)的介(jie)電常數為(wei)多(duo)少(shao)。

　　妳(ni)的測試(shi)方(fang)法(fa)是(shi)正確(que)的，但(dan)是(shi)將(jiang)粉(fen)體(ti)壓(ya)成致密(mi)的片(pian)，在(zai)陶瓷片(pian)的(de)兩(liang)個面(mian)濺射(she)壹層(ceng)金，或用導電金(jin)/銀(yin)膏體(ti)塗(tu)抹陶瓷面(mian)，再熱(re)處(chu)理(li)(200-400C)，這(zhe)樣(yang)的(de)電(dian)極(ji)才(cai)能(neng)保(bao)證與(yu)材(cai)料(liao)良好的電(dian)接(jie)觸。妳(ni)直接(jie)用金(jin)屬(shu)薄(bo)片(pian)夾(jia)住(zhu)陶瓷片(pian)的(de)做(zuo)法(fa)，很(hen)難(nan)保(bao)證良(liang)好的電(dian)接(jie)觸，除(chu)非(fei)在(zai)較(jiao)大(da)的壓(ya)力下(xia)。

　　阻抗(kang)分(fen)析儀(yi)器(qi)中，應(ying)該(gai)有單頻(pin)選擇(ze)的，至(zhi)於選(xuan)擇(ze)哪(na)個頻(pin)率，除(chu)了(le)參(can)考文獻(xian)外(wai)，建議(yi)作壹(yi)個全頻(pin)測試(shi)，從(cong)介(jie)電常數-lgf曲(qu)線上(shang)平臺段選(xuan)擇壹(yi)個頻(pin)率，作(zuo)為繼(ji)續測試(shi)的(de)頻(pin)率。