描(miao)述(shu)：GWJDN-600型(xing)高低(di)溫介電(dian)測量(liang)系統(tong)應(ying)用於高溫環境(jing)下(xia)材料、器(qi)件(jian)的導電(dian)、介電(dian)特性(xing)測(ce)量與分析(xi)，通(tong)過配(pei)置(zhi)不(bu)同(tong)的測試設備，完成(cheng)不(bu)同(tong)參(can)數(shu)的測試。是(shi)壹(yi)代(dai)高溫介電(dian)測試(shi)系統(tong)，科研級(ji)別的精密測試裝(zhuang)置(zhi)，是(shi)國家科研院(yuan)所和高等(deng)學(xue)府(fu)的設備。

GWJDN-600型(xing)高低(di)溫介電(dian)測量(liang)系統(tong)應(ying)用於高溫環境(jing)下(xia)材料、器(qi)件(jian)的導電(dian)、介電(dian)特性(xing)測(ce)量與分析(xi)，通(tong)過配(pei)置(zhi)不(bu)同(tong)的測試設備，完成(cheng)不(bu)同(tong)參(can)數(shu)的測試。是(shi)壹(yi)代(dai)高溫介電(dian)測試(shi)系統(tong)，科研級(ji)別的精密測試裝(zhuang)置(zhi)，是(shi)國家科研院(yuan)所和高等(deng)學(xue)府(fu)的設備。

壹(yi)、主(zhu)要(yao)用(yong)途：

1、測(ce)量(liang)以下(xia)參(can)數(shu)隨溫度（T）、頻(pin)率(lv)（f）、電(dian)平（V）、偏壓（Vi）的變化(hua)規律：

2、測(ce)量(liang)電(dian)容（C）、電(dian)感(gan)（L）、電(dian)阻（R）、電(dian)抗（X）、阻抗（Z）、相(xiang)位角（￠）、電(dian)導（G）、電(dian)納(na)（B）、導(dao)納(na)（Y）、損耗(hao)因子(zi)（D）、品(pin)質(zhi)因素(su)（Q）等(deng)參(can)數(shu)，

3、同(tong)時計(ji)算(suan)獲(huo)得(de)反(fan)應(ying)材料導(dao)電(dian)、介電(dian)性能(neng)的復(fu)介(jie)電(dian)常(chang)數（εr）和介(jie)質(zhi)損耗(hao)（D）參(can)數(shu)。

4、可(ke)測試(shi)低溫環境(jing)下(xia)材料、器(qi)件(jian)的介電(dian)性能(neng)

二(er)、主(zhu)要(yao)技(ji)術參(can)數(shu)：

1溫度範圍(wei)-100℃ ～ 300℃ ，控溫精度：±0.1℃，升降(jiang)溫斜率：0-10℃/min，典型(xing)值(zhi)3℃/min；

2具(ju)有恒溫和線(xian)性升降(jiang)溫兩種(zhong)控溫模(mo)式；

3控溫故障診(zhen)斷(duan)監(jian)控功(gong)能(neng)，可(ke)以通(tong)過觀察(cha)指示(shi)燈(deng)動(dong)態來(lai)監(jian)控樣(yang)品(pin)腔(qiang)內的控溫狀態；

4超(chao)溫自(zi)動(dong)斷(duan)電(dian)保護功(gong)能(neng)；

5配(pei)備(bei)自(zi)動(dong)液(ye)氮註(zhu)入(ru)系統(tong)（含自(zi)增壓(ya)液氮罐(guan)及(ji)其(qi)他(ta)所(suo)需配(pei)件(jian),容量(liang)50L±0.1L）；

6可(ke)以實現(xian)流(liu)動(dong)氣氛測(ce)量(liang)；

7樣(yang)品(pin)腔(qiang)尺寸不(bu)小(xiao)於200mm×200mm×100mm（長(chang)×寬(kuan)×高），樣(yang)品(pin)腔(qiang)內溫度場均勻(yun)分(fen)布，0℃測(ce)試(shi)無(wu)水(shui)峰(feng)。

8、樣(yang)品(pin)夾(jia)具(ju)：

9、測(ce)試(shi)通(tong)道數:1個

10、采(cai)用(yong)模(mo)塊(kuai)化(hua)設計(ji)，四通(tong)道樣品夾(jia)具(ju)方便拆(chai)卸，與主(zhu)機(ji)可(ke)以直(zhi)接分(fen)離，可(ke)單獨(du)維修(xiu)保養；

11、采(cai)用(yong)彈簧電(dian)極夾(jia)具(ju)系統(tong)，上電(dian)極為鉑(bo)柱(zhu)電(dian)極，下(xia)電(dian)極為鍍(du)金(jin)電(dian)極；

12、適(shi)用(yong)尺(chi)寸在(zai)φ2～φ15mm範(fan)圍(wei)內(nei)的樣品。

13、測(ce)量(liang)系統(tong)：

14、測(ce)量(liang)通(tong)道可(ke)以獨(du)立進(jin)行(xing)校(xiao)準，互不(bu)影響；

15、搭(da)載(zai)的LCR表滿足要求(qiu)：測(ce)試頻率(lv)範圍(wei)：20 Hz-1 MHz；測(ce)試(shi)信(xin)號(hao)電(dian)平：0-2 Vrms/0-20 mArms；基(ji)本精度(du)Ab≤0.05 %；可(ke)編程列表掃(sao)描(miao)點數(shu)：不(bu)少於201 個點；可(ke)以搭(da)配(pei)N1500A軟(ruan)件(jian)做(zuo)材料測(ce)試。

16、分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)運(yun)行(xing)平(ping)臺(tai)：提(ti)供(gong)專(zhuan)業的測量分析軟(ruan)件(jian)，集成(cheng)控制(zhi)控溫系統(tong)、測(ce)量系統(tong)及(ji)LCR表；根(gen)據(ju)不(bu)同(tong)的測量功能(neng)，測(ce)量(liang)在(zai)不(bu)同(tong)溫度、不(bu)同(tong)測(ce)試頻(pin)率(lv)下(xia)電(dian)容(C)、阻抗(Z)、相(xiang)位角(θ)、損耗(hao)(D)等(deng)參(can)數(shu)，通(tong)過計(ji)算(suan)獲(huo)得(de)復(fu)介(jie)電(dian)常(chang)數、電(dian)模(mo)量(liang)等參(can)數(shu)；實時繪制並(bing)顯(xian)示在(zai)測樣品的介電(dian)溫譜、頻率(lv)譜(pu)、阻抗譜(pu)、電(dian)模(mo)量(liang)、Cole-Cole圖(tu)等(deng)數據(ju)曲(qu)線(xian)，自(zi)動(dong)保存測試(shi)數(shu)據(ju)。

17、極(ji)化(hua)電(dian)壓：0-30KV

18、壓(ya)電(dian)系數(shu)：0-10000PC/N(配(pei)置(zhi)D31塊(kuai)體(ti)夾(jia)具(ju)，D15塊(kuai)體(ti)夾(jia)具(ju)，D15圓管(guan)夾(jia)具(ju)，D31塊(kuai)體(ti)夾(jia)具(ju)，薄(bo)膜拉(la)伸(shen)夾(jia)具(ju)（新增功(gong)能(neng)）,共面(mian)電(dian)極功(gong)能(neng)（新增）

17、標準(zhun)極化(hua)樣品(pin)：PZT-JH30/1型(xing)極(ji)化(hua)裝置(zhi) 樣(yang)品(pin)8片(pian)（10mm*1.5mm）

18、配(pei)套設備裝置(zhi)：能(neng)夠(gou)配(pei)合ZJ-3和ZJ-6壓(ya)電(dian)測試(shi)儀(yi)進(jin)行(xing)測(ce)量

19、配(pei)套設備裝置(zhi)：可(ke)以配(pei)置(zhi)10MM，20MM，30MM，40MM壓(ya)片(pian)夾(jia)具(ju)

20、可(ke)提(ti)供(gong)數據(ju)測試(shi)報告