高(gao)溫(wen)電(dian)阻率測(ce)試(shi)儀(yi)是壹款專門用(yong)於測(ce)量(liang)材料在高溫(wen)條件(jian)下(xia)的(de)電(dian)阻率的(de)設備(bei)，廣(guang)泛(fan)應用(yong)於新(xin)材料的評估(gu)和(he)研究。以(yi)下(xia)是該設備(bei)適(shi)用(yong)評(ping)估(gu)的(de)材(cai)料特性(xing)： 1.陶(tao)瓷(ci)元(yuan)件(jian)：用(yong)於陶(tao)瓷(ci)元(yuan)件(jian)的(de)絶縁(縁)劣(lie)化(hua)試(shi)驗(yan)。
2.貼(tie)片電(dian)容：用(yong)於貼(tie)片電(dian)容的(de)IR測(ce)量(liang)。
3.MLCC：用(yong)於MLCC（多(duo)層陶(tao)瓷(ci)電(dian)容器(qi)）的絕(jue)緣測(ce)量(liang)。
4.光(guang)伏(fu)電(dian)池薄(bo)膜(mo)：用(yong)於光(guang)伏(fu)電(dian)池薄(bo)膜(mo)的(de)絕(jue)緣測(ce)量(liang)。
5.噪(zao)音(yin)濾波器(qi)：用(yong)於噪(zao)音(yin)濾波器(qi)的(de)絕(jue)緣（高阻）測(ce)量(liang)。
6.液(ye)晶(jing)設備(bei)：用(yong)於液(ye)晶(jing)設備(bei)的(de)絕(jue)緣測(ce)量(liang)。
7.塗(tu)層塗(tu)料：用(yong)於塗(tu)層（塗(tu)料）的表面(mian)電(dian)阻率測(ce)量(liang)。
8.外殼：用(yong)於外殼的(de)帶電(dian)度的(de)測(ce)量(liang)。
9.二(er)極管(guan)：用(yong)於二(er)極管(guan)的微笑(xiao)泄漏電(dian)流測(ce)量(liang)。
10.光(guang)電(dian)耦合(he)器：用(yong)於光(guang)電(dian)耦合(he)器的(de)初級/次級(ji)絕(jue)緣（高電(dian)阻）測(ce)量(liang)。
11.打(da)印機墨粉輥軸：用(yong)於打(da)印機墨粉輥軸的(de)絕(jue)緣測(ce)量(liang)。
12.半(ban)導體(ti)廠家：用(yong)於針對半(ban)導體(ti)廠家的(de)絕(jue)緣密(mi)封件(jian)的(de)評估(gu)試(shi)驗(yan)。
高溫(wen)電(dian)阻率測(ce)試(shi)儀(yi)的工(gong)作原理(li)基於三(san)電(dian)極法(fa)設計原理(li)測(ce)量(liang)，通過多(duo)種(zhong)技術手段(duan)實(shi)現(xian)高精度和(he)高穩(wen)定性(xing)的電(dian)阻率測(ce)試(shi)。以(yi)下(xia)是具體(ti)介紹：
1.三(san)電(dian)極法(fa)：電(dian)阻率測(ce)試(shi)儀(yi)采用(yong)三(san)電(dian)極法(fa)進行(xing)電(dian)阻率測(ce)量(liang)。這種(zhong)方法(fa)通過三(san)個(ge)電(dian)極與樣品(pin)接觸，分(fen)別(bie)施加電(dian)壓(ya)並(bing)測(ce)量(liang)電(dian)流，從(cong)而計算(suan)出材料的電(dian)阻率。
2.懸浮式(shi)電(dian)路設計：儀(yi)器采(cai)用(yong)自(zi)行(xing)設計的(de)懸浮式(shi)電(dian)路，能夠有效(xiao)減(jian)少(shao)外界環(huan)境對測(ce)量(liang)結果的(de)幹擾(rao)，提高測(ce)量(liang)的穩(wen)定性(xing)和精度。
3.高(gao)速采集(ji)系(xi)統：電(dian)阻率測(ce)試(shi)儀(yi)具備(bei)最(zui)快6.4ms的采(cai)集(ji)系統，能夠實(shi)現(xian)高速測(ce)量(liang)，適(shi)用(yong)於生(sheng)產(chan)線上(shang)的(de)快速檢(jian)測(ce)。
010-61446422
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