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        1. 當前(qian)位置:首頁(ye)  >  技術文(wen)章  >  介(jie)電測(ce)試(shi)儀(yi)都可以(yi)在(zai)哪(na)些(xie)領(ling)域(yu)中使用領(ling)域(yu)中使用

          介(jie)電(dian)測(ce)試(shi)儀(yi)都可以(yi)在(zai)哪(na)些(xie)領(ling)域(yu)中使用領(ling)域(yu)中使用

          更(geng)新時間:2019-03-27  |  點(dian)擊率:2116
            今天(tian)就(jiu)給大家介(jie)紹壹下關於介電測試(shi)儀(yi)的基本原(yuan)理(li)以(yi)及應(ying)用途徑希(xi)望(wang)對(dui)大家能(neng)夠(gou)有所(suo)幫(bang)助,那(na)麽接(jie)下來(lai)我們就(jiu)壹起來(lai)看看(kan)吧(ba)。
            介電(dian)常數(shu)描(miao)述的是材料與(yu)電(dian)場之間的相(xiang)互作用。介(jie)電(dian)常(chang)數 (K*)等(deng)於復(fu)數(shu)相(xiang)對(dui)介電常數(shu)(ε*r),或(huo)復(fu)數(shu)介電常數(ε*)與(yu)真(zhen)空(kong)介(jie)電常數(ε0)的比(bi)值(zhi)。復(fu)數(shu)相(xiang)對(dui)介電常數(shu)的實部(ε'r) 表示(shi)外(wai)部(bu)電(dian)場有多少(shao)電(dian)能儲存(cun)到材料中;對於絕大多數(shu)固(gu)體和(he)液(ye)體來(lai)說,ε'r>1。復(fu)數(shu)相(xiang)對(dui)介電常數(shu)的虛部(bu)(ε"r) 稱(cheng)為損耗系數(shu),表示(shi)材料中儲存(cun)的電能有(you)多少(shao)消(xiao)耗或損失到(dao)外(wai)電場中。ε"r始終(zhong)>0,且(qie)通常(chang)遠(yuan)遠(yuan)小於ε'r。損耗系數(shu)同(tong)時包(bao)括介(jie)電(dian)材料損耗和(he)電(dian)導(dao)率的效應。
            介(jie)質(zhi)損耗和(he)介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)是各種(zhong)電(dian)瓷、裝(zhuang)置瓷、電容(rong)器等(deng)陶(tao)瓷,還(hai)有復(fu)合材料等(deng)的壹項重(zhong)要的物理性質(zhi),通過測定(ding)介質(zhi)損耗角正切(qie)tanδ及介(jie)電(dian)常(chang)數(ε),可進壹步了(le)解(jie)影響介(jie)質(zhi)損耗和(he)介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)的各種(zhong)因(yin)素,為提高材料的性能提供依(yi)據。
            介(jie)電測(ce)試(shi)儀(yi)的基本原(yuan)理(li)是采(cai)用高(gao)頻(pin)諧(xie)振法,並提(ti)供了(le)通用、多用途、多量程(cheng)的阻(zu)抗測試(shi)。它以(yi)單片(pian)計算機(ji)控制(zhi)儀(yi)器(qi),測量核(he)心(xin)采(cai)用了(le)頻(pin)率數字鎖定(ding)、標(biao)準(zhun)頻率測試(shi)點(dian)自動設(she)定(ding)、諧(xie)振點(dian)自動搜(sou)索、Q值(zhi)量程(cheng)自動轉(zhuan)換(huan)、數(shu)值(zhi)顯示(shi)等(deng)新技術,改進了調諧(xie)回路,使(shi)得調諧(xie)測試(shi)回路的殘余電(dian)感(gan)減(jian)至低(di),並(bing)保(bao)留(liu)了原(yuan)Q表中自動穩(wen)幅等技術,使(shi)得新儀(yi)器(qi)在使(shi)用時(shi)更(geng)為方便,測(ce)量時更(geng)為。
            儀(yi)器(qi)能在(zai)較高的測試(shi)頻率條件下,測量高頻(pin)電(dian)感或諧(xie)振回路的Q值(zhi),電(dian)感(gan)器(qi)的電感量和(he)分(fen)布電(dian)容量,電容(rong)器(qi)的電容量和(he)損耗角正切(qie)值(zhi),電(dian)工(gong)材料的高頻介(jie)質(zhi)損耗,高頻(pin)回路有(you)效並聯及串聯電阻(zu),傳(chuan)輸(shu)線的特性阻(zu)抗等。
            介電測試(shi)儀(yi)可以(yi)用於科(ke)研機(ji)關(guan),學(xue)校(xiao),例如(ru)壹些(xie)科(ke)研院(yuan)所(suo),大專院(yuan)校(xiao)或(huo)計量測試(shi)部門的實驗室需(xu)要(yao)用介(jie)電(dian)測(ce)試(shi)儀(yi)對(dui)絕緣(yuan)材料的介電常(chang)數(shu)進行測(ce)試(shi);同(tong)時也(ye)適用於工廠或單(dan)位(wei),例如(ru)壹些(xie)工(gong)廠(chang)對(dui)無機非金屬(shu)新材料性能的應用進行研(yan)究,另外在(zai)電力(li)、電(dian)工(gong)、化(hua)工(gong)等(deng)領域(yu),如:電(dian)廠(chang)、電業局(ju)實驗所(suo)、變壓器(qi)廠(chang)、電容(rong)器廠、絕緣(yuan)材料廠(chang)、煉油(you)廠(chang)等單位(wei)對(dui)固體及液(ye)體絕緣(yuan)材料的介質(zhi)損耗和(he)相(xiang)對(dui)介電常數(shu)ε的質(zhi)量檢測(ce)等(deng)等。
            以上(shang)內(nei)容(rong)就(jiu)是今(jin)天(tian)給大家總結分(fen)享(xiang)的關於介電測試(shi)儀(yi)的基本原(yuan)理(li),希(xi)望看(kan)完本(ben)篇(pian)之後(hou)能(neng)夠(gou)對(dui)您(nin)有(you)所(suo)幫(bang)助。
           
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