妳(ni)對(dui)介(jie)電測試(shi)儀的(de)測試(shi)註(zhu)意(yi)事項了解了多(duo)少

　　電(dian)介質(zhi)是(shi)電(dian)的(de)絕(jue)緣(yuan)體(ti)，它(ta)內部的(de)自(zi)由(you)電荷少到(dao)可(ke)以(yi)忽(hu)略(lve)的(de)程(cheng)度(du)。由(you)於(yu)分子(zi)內在力的(de)約(yue)束，電介(jie)質(zhi)分(fen)子(zi)中的(de)帶(dai)電(dian)粒(li)子不能發(fa)生宏(hong)觀(guan)的(de)位移。然(ran)而在外(wai)電場的(de)作(zuo)用(yong)下，這些(xie)帶電(dian)粒(li)子仍然可(ke)以(yi)有(you)微(wei)觀(guan)的(de)位移，即電(dian)介(jie)質(zhi)可(ke)以(yi)被(bei)極化，χe就(jiu)表示(shi)電介(jie)質(zhi)的(de)極化率，它(ta)反映了電介質(zhi)的(de)性(xing)質(zhi)。對(dui)電(dian)介質(zhi)中(zhong)各點的(de)χe都(dou)相(xiang)同(tong)，真(zhen)空(kong)中(zhong)χe=0，而除此(ci)之(zhi)外(wai)任何(he)介質(zhi)的(de)χe0。
　　在電容(rong)器的(de)兩(liang)個(ge)極板之間(jian)充入(ru)電(dian)介質(zhi)，可(ke)以(yi)使(shi)電容(rong)器增(zeng)大(da)，實(shi)用(yong)中常利用(yong)這種(zhong)方法(fa)增(zeng)大(da)電(dian)容(rong)器的(de)電(dian)容(rong)。兩極板間(jian)充滿(man)某種(zhong)均勻(yun)介質(zhi)時(shi)的(de)電(dian)容(rong)C與極板間(jian)為(wei)真空(kong)時(shi)的(de)電(dian)容(rong)C0的(de)比值εr=C/C0，εr由(you)電介(jie)質(zhi)的(de)性(xing)質(zhi)決定(ding)，叫做(zuo)電介(jie)質(zhi)的(de)相(xiang)對(dui)介(jie)電常數(shu)（沒有單(dan)位）。
　　在有理化米(mi),千克(ke),秒,安培(pei)制（MKSA有理制）中，通常引(yin)入(ru)ε0代替k（k=8.9880×109N·m2·C-2），令(ling)k=1/4πε0，則(ze)ε0=1/4πk。ε0為(wei)真空(kong)中的(de)介(jie)電(dian)常數(shu)，數(shu)值為(wei)8.8538×10-12C2·N-1·m-2=8.8538×10-12F·m-1，約為(wei)8.85×10-12F·m-1。以(yi)平(ping)行板電容(rong)器為(wei)例，C0=ε0S/d，相(xiang)對(dui)介(jie)電常數(shu)εr=C/C0，所以(yi)C=εrC0=εrε0S/d。定(ding)義(yi)ε=εrε0，則(ze)ε叫做(zuo)電介(jie)質(zhi)的(de)介(jie)電(dian)常數(shu)。
　　介電(dian)測試(shi)儀的(de)測試(shi)註(zhu)意(yi)事項
　　a．介電(dian)常數(shu)測試(shi)儀應水(shui)平安放；
　　b．如(ru)果(guo)妳(ni)需(xu)要(yao)較地測量，請(qing)接通電源(yuan)後(hou)，預熱30分(fen)鐘(zhong)；
　　c．調節主(zhu)調電容(rong)或主(zhu)調電容(rong)數(shu)碼(ma)開關(guan)時(shi)，當(dang)接近(jin)諧(xie)振(zhen)點時(shi)請(qing)緩調；
　　d．被測件(jian)和(he)測試(shi)電(dian)路(lu)接線(xian)柱(zhu)間(jian)的(de)接線(xian)應盡(jin)量(liang)短，足夠(gou)粗，並應接觸(chu)良好、可(ke)靠(kao)，以(yi)減(jian)少因(yin)接線(xian)的(de)電(dian)阻(zu)和(he)分(fen)布(bu)參數(shu)所帶(dai)來的(de)測量誤差；
　　e．被(bei)測件(jian)不要直(zhi)接擱(ge)在面板頂部(bu)，離(li)頂部壹(yi)公分(fen)以(yi)上(shang)，必要(yao)時(shi)可(ke)用(yong)低損耗(hao)的(de)絕(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao)如聚苯(ben)乙烯(xi)等做(zuo)成(cheng)的(de)襯(chen)墊(dian)物襯(chen)墊(dian)；
　　f．手不得(de)靠近(jin)試(shi)件(jian)，以(yi)免(mian)人(ren)體(ti)感(gan)應影響造成(cheng)測量誤差，有(you)屏蔽(bi)的(de)試(shi)件(jian)，屏蔽(bi)罩應連接在低電位端的(de)接線(xian)柱(zhu)。
　　介(jie)電(dian)測試(shi)儀可(ke)以(yi)用(yong)於(yu)科研(yan)機關，學校(xiao)，例(li)如(ru)壹(yi)些科(ke)研(yan)院所(suo)，大(da)專(zhuan)院校或計(ji)量測試(shi)部(bu)門的(de)實(shi)驗(yan)室(shi)需(xu)要(yao)用(yong)介電常數(shu)測試(shi)儀對(dui)絕(jue)緣材(cai)料的(de)介(jie)電(dian)常數(shu)進(jin)行測試(shi)；同(tong)時(shi)也適用(yong)於(yu)工廠或單(dan)位，例如(ru)壹(yi)些工廠對(dui)無機非金(jin)屬(shu)新材(cai)料性能的(de)應用(yong)進(jin)行研(yan)究，另外(wai)在電力、電工、化工等領域，如：電廠、電業(ye)局(ju)實(shi)驗(yan)所(suo)、變壓(ya)器廠、電容(rong)器廠、絕緣材料(liao)廠、煉油(you)廠等單(dan)位對(dui)固(gu)體及(ji)液(ye)體(ti)絕(jue)緣(yuan)材料的(de)介(jie)質(zhi)損耗(hao)和(he)相對(dui)介(jie)電常數(shu)ε的(de)質(zhi)量(liang)檢(jian)測等等。