GDPT-900A型(xing)變(bian)溫壓電(dian)d33測量(liang)系(xi)統主(zhu)要介紹

GDPT-900A型(xing)變(bian)溫壓電(dian)d33測量(liang)系(xi)統是(shi)我院研制的即可低(di)溫測試D33系(xi)數，又可以高溫(wen)測試D33系(xi)數。主(zhu)要是(shi)針(zhen)對(dui)高低(di)溫壓電(dian)陶(tao)瓷材(cai)料和薄膜材料(liao)的測試。

二、主(zhu)要應用領(ling)域：無損(sun)檢(jian)測超聲檢(jian)測，醫療超聲檢(jian)測，航空(kong)航天，石(shi)油天然器(qi)，汽車物聯(lian)網(wang)，，工(gong)業(ye)

GDPT-900A型(xing)變(bian)溫壓電(dian)d33測量(liang)系(xi)統主(zhu)要技術參(can)數

1、d33測量(liang)範圍(wei)：1PC/N-6000PC/N(1.5PC-30000PC)

2、力顯示(shi)：0.01-4N

3、電(dian)源(yuan)：電(dian)壓220V

4、溫(wen)度範圍(wei)：溫度-100℃至(zhi)+500℃

5、溫(wen)控(kong)精(jing)度：溫度顯示(shi)精(jing)度0.01℃，溫度控(kong)制精(jing)度±0.1℃，溫度漂移(yi)優於±0.1℃內，超調≤0.1℃。

6、升(sheng)溫(wen)斜(xie)率(lv)：0.00至(zhi)5.00℃/min，典(dian)型(xing)值(zhi)2.00℃/min。

7、間(jian)隔(ge)保溫(wen)：0.10至(zhi)50.00℃/點(dian)，保(bao)溫(wen)5分(fen)鐘(zhong)即(ji)可達(da)到(dao)溫(wen)度穩定(ding)狀(zhuang)態。  

8、樣(yang)品夾(jia)具：夾(jia)持(chi)雙面電(dian)極(ji)樣(yang)品，直徑(jing)小於30mm，厚度小於5mm。

9、測量(liang)環(huan)境：低(di)溫、高溫(wen)、空(kong)氣(qi)等。

10、電(dian)極(ji)材料：耐(nai)高溫(wen)電(dian)極(ji)。

11、制冷(leng)方式：液氮控(kong)制系(xi)統

12、顯示(shi)：液晶(jing)顯示(shi)

13、采(cai)集(ji)方(fang)式：USB2.0高速(su)數據

14、總(zong)重量(liang): 15kg左右。

15、軟(ruan)件：專用軟件自(zi)動(dong)測試溫度與壓電(dian)系(xi)數的關系(xi)變(bian)化(hua)

GWTF-300高溫(wen)鐵電(dian)材(cai)料測量(liang)系(xi)統

GWTF-300高溫(wen)鐵電(dian)材(cai)料測量(liang)系(xi)統是(shi)壹套(tao)建立(li)在高溫(wen)高壓下的鐵電(dian)測量(liang)系(xi)統，旨在針(zhen)對(dui)壹些特(te)殊的要求(qiu)材料(liao)需(xu)要在高溫(wen)下測量(liang)而(er)研發(fa)的壹套(tao)鐵電(dian)測量(liang)系(xi)統。該(gai)系(xi)統不僅(jin)僅(jin)在溫度上將(jiang)實(shi)現了(le)高溫(wen)測試，而且在電(dian)壓和頻率(lv)上(shang)進(jin)行了(le)提高，對(dui)我們的鐵電(dian)材(cai)料研究(jiu)和測試帶來(lai)更加重(zhong)要的幫(bang)助(zhu)，該(gai)系(xi)統可以測量(liang)鐵電(dian)材(cai)料的電(dian)滯(zhi)回線(xian)，飽(bao)和極化(hua)Ps、剩余(yu)極化(hua)Pr、矯(jiao)頑場(chang)Ec、漏電(dian)流、疲(pi)勞(lao)、保(bao)持(chi)、I-V和開關特(te)性(xing)等性(xing)能的測試。

GWTF-300高溫(wen)鐵電(dian)材(cai)料測量(liang)系(xi)統技術指標

1.輸(shu)出(chu)信號電(dian)壓：：0-4000/5000/6000/10000多種可定(ding)制

2.輸(shu)出(chu)信號頻率(lv)：0.2到(dao)100Hz（陶(tao)瓷、單晶(jing)），1到1kHz(薄(bo)膜）

3.電(dian)容(rong)範圍(wei)：電(dian)流0到±6mA（陶(tao)瓷、單晶(jing)），±50mA(薄膜）連(lian)續可調,精(jing)度: ≤1%。

4.電(dian)流範圍(wei): 1nA～10A ,精(jing)度: ≤1%。

5、溫(wen)度測量(liang)範圍(wei):0-200℃

6. 匹(pi)配(pei)高溫(wen)電(dian)致(zhi)應變(bian)測試模塊、夾(jia)具及(ji)自(zi)動(dong)采(cai)集(ji)軟(ruan)件(jian)。

7.測試速度：測量(liang)時(shi)間《5秒(miao)/樣(yang)品•溫(wen)度點(dian)

8. 樣(yang)品規(gui)格：塊體(ti)材(cai)料尺(chi)寸(cun)：直徑(jing)2-100mm，厚度0.1-10mm，薄膜：直徑(jing)：1-60mm

9. 數(shu)據采集(ji)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)： 能畫出鐵電(dian)薄(bo)膜的電(dian)滯(zhi)回線(xian)，定(ding)量(liang)得(de)到(dao)鐵電(dian)薄(bo)膜材料(liao)的飽(bao)和極化(hua)Ps、剩余(yu)極化(hua)Pr、矯(jiao)頑場(chang)Ec、漏電(dian)流等參(can)數;可以進(jin)行鐵電(dian)薄(bo)膜材料(liao)的鐵電(dian)疲(pi)勞(lao)性(xing)能、鐵電(dian)保(bao)持性(xing)能的測試，電(dian)阻測量(liang)，漏電(dian)流測量(liang)。

10、控(kong)制方式：計算機(ji)實(shi)時控(kong)制、實(shi)時顯示(shi)、實(shi)時數據(ju)計算、分(fen)析(xi)與(yu)存(cun)儲

11、軟件采(cai)集(ji)：自動(dong)采(cai)集(ji)軟(ruan)件(jian)，分(fen)析(xi)可以兼容(rong)其他(ta)相關主(zhu)流軟件(jian)。

GWJDN-1000型(xing)寬(kuan)頻高溫(wen)介電(dian)測量(liang)系(xi)統主(zhu)要技術參(can)數

         GWJDN-1000型(xing)寬(kuan)頻高溫(wen)介電(dian)測量(liang)系(xi)統

關鍵詞(ci)：高溫(wen)介電(dian)，精(jing)密，-190℃-1000℃

GWJDN-1000型(xing)高溫(wen)介電(dian)測量(liang)系(xi)統（2019款）高溫(wen)介電(dian)測量(liang)系(xi)統應用於高溫(wen)環(huan)境下(xia)材料、器(qi)件的導電(dian)、介(jie)電(dian)特(te)性(xing)測量(liang)與(yu)分(fen)析(xi)，通(tong)過(guo)配置不(bu)同的測試設(she)備，完(wan)成不(bu)同參(can)數的測試。是(shi)高溫(wen)介電(dian)測試系(xi)統，性(xing)能科(ke)研(yan)級別的精(jing)密測試裝置，是(shi)國(guo)家(jia)科研(yan)院所(suo)和高等學(xue)府(fu)的設(she)備。

壹(yi)、主(zhu)要用途：

1、測量(liang)以下(xia)參(can)數隨溫度（T）、頻率(lv)（f）、電(dian)平(ping)（V）、偏壓（Vi）的變(bian)化(hua)規(gui)律：

2、測量(liang)電(dian)容(rong)（C）、電(dian)感(gan)（L）、電(dian)阻（R）、電(dian)抗(kang)（X）、阻抗(kang)（Z）、相位角(jiao)（￠）、電(dian)導(dao)（G）、電(dian)納(na)（B）、導(dao)納（Y）、損(sun)耗(hao)因子（D）、品質(zhi)因素(su)（Q）等參(can)數，

3、同時計算獲(huo)得反(fan)應材料(liao)導電(dian)、介(jie)電(dian)性(xing)能的復(fu)介(jie)電(dian)常(chang)數（εr）和介質(zhi)損(sun)耗(hao)（D）參(can)數。

4、可測試低溫環(huan)境下(xia)材料、器(qi)件的介電(dian)性(xing)能

5、可以根(gen)據(ju)用戶需(xu)求(qiu)，定(ding)制開發居裏溫(wen)度點(dian)Tc、機(ji)電(dian)耦(ou)合系(xi)數Kp、機(ji)械(xie)品質(zhi)因素(su)Qm及(ji)磁(ci)導率(lv)μ等參(can)數的測量(liang)與(yu)分(fen)析(xi)。系(xi)統集低溫環(huan)境、溫(wen)度控(kong)制、樣(yang)品安(an)裝(zhuang)於壹體；具有(you)體積小(xiao)、操(cao)作簡單控(kong)溫(wen)精(jing)度高等特(te)點(dian)。

二、主(zhu)要技術參(can)數：

主(zhu)要技術參(can)數：

1、溫度範圍(wei)： 室溫(wen)-1000℃

2、測溫(wen)精(jing)度：   0.1℃

3．升(sheng)溫(wen)速(su)度：   1—20℃/min

4、控(kong)溫(wen)模式： 程(cheng)序(xu)控(kong)制，提供(gong)常溫、變(bian)溫、恒溫、升(sheng)溫(wen)、降(jiang)溫等多種組(zu)合方(fang)式

5、通(tong)訊接口：   RS-485

8、電(dian)極(ji)材質(zhi)： 鉑(bo)銥合金(jin)

9、上電(dian)極(ji)： 直徑(jing)1.6mm球頭(tou)電(dian)極(ji)，引(yin)線(xian)帶同(tong)軸(zhou)屏(ping)蔽(bi)層(ceng)

10、下(xia)電(dian)極(ji)：直徑(jing)26.8mm平面電(dian)極(ji)，引(yin)線(xian)帶同(tong)軸(zhou)屏(ping)蔽(bi)層(ceng)

11、保(bao)護電(dian)極(ji)：  帶保(bao)護(hu)電(dian)極(ji)，消(xiao)除(chu)寄(ji)生電(dian)容(rong)、邊界(jie)電(dian)容(rong)對測試的影響

12、電(dian)極(ji)幹擾(rao)屏(ping)蔽(bi):電(dian)極(ji)引(yin)線(xian)帶同(tong)軸(zhou)屏(ping)蔽(bi)，樣(yang)品平(ping)臺(tai)帶屏(ping)蔽(bi)罩(zhao)

13、夾(jia)具升(sheng)降(jiang)控(kong)制： 帶程(cheng)序(xu)和手動(dong)控(kong)制，可更換(huan)夾(jia)具的電(dian)動(dong)升(sheng)降(jiang)裝置(zhi)

14、熱(re)電(dian)偶 ：熱(re)電(dian)偶探頭與(yu)樣(yang)品平(ping)臺(tai)為同(tong)壹(yi)熱(re)沈(chen)，測控(kong)溫(wen)度與樣(yang)品溫(wen)度保持壹致(zhi)

15、無電(dian)極(ji)樣(yang)品尺(chi)寸(cun)：直徑(jing)小於40mm，厚度小於8mm

16、帶電(dian)極(ji)樣(yang)品尺(chi)寸(cun)： 直徑(jing)小於26mm，厚度小於8mm

17、軟件功(gong)能：自(zi)動(dong)分(fen)析(xi)數(shu)據(ju)，可以分(fen)類保存(cun)，樣(yang)品和測量(liang)方(fang)案結合在壹起(qi)，生成系(xi)統所(suo)需(xu)的實(shi)驗(yan)方案，輸(shu)出(chu)TXT、XLS、BMP等格(ge)式文件(jian)

18、測量(liang)方(fang)案：    提供(gong)靈(ling)活(huo)、豐富的測試設(she)置功(gong)能，包括頻率(lv)譜(pu)、阻抗(kang)譜(pu)、介電(dian)譜(pu)及其組(zu)合

19、標準(zhun)極(ji)化(hua)樣(yang)品：8片(pian)（10mm*1.5mm）

20、配套(tao)設(she)備裝(zhuang)置：能夠(gou)配(pei)合ZJ-3和ZJ-6壓電(dian)測試儀進(jin)行測量(liang)

21、配(pei)套(tao)設(she)備裝(zhuang)置：可以配(pei)置(zhi)10MM，20MM，30MM，40MM壓片夾(jia)具

23、測試頻率(lv)：20HZ-10MHZ

24、測試電(dian)平(ping):100mV—2V

25、分(fen)辨(bian)率(lv)：1MHZ

26、輸(shu)出(chu)阻抗(kang):  100Ω

27、測試參(can)數：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc

28、基本(ben)準(zhun)確度:   0.05%

29、顯示(shi):液晶(jing)顯示(shi)

30、參(can)數測量(liang)：多功(gong)能圖形和參(can)數測量(liang)

31、接(jie)口方式:   RS232C或(huo)HANDLER

HTIM-600C型(xing)材(cai)料高溫(wen)電(dian)阻率(lv)測試儀主(zhu)要技術參(can)數

HTIM-600C型(xing)材(cai)料高溫(wen)電(dian)阻率(lv)測試儀

關(guan)鍵詞(ci)：電(dian)阻率(lv)，體(ti)電(dian)阻，表面電(dian)阻，CNAS

HTIM-600高溫(wen)電(dian)阻率(lv)測試儀是(shi)壹款(kuan)針(zhen)對(dui)於材料的測量(liang)設(she)備，可以出(chu)具CNAS整(zheng)體(ti)認證(zheng)的專業(ye)材(cai)料高溫(wen)測量(liang)設(she)備，該(gai)儀(yi)器(qi)采用使(shi)用方法多樣(yang)化(hua)，2000V，6.4ms的采集(ji)系(xi)統，實(shi)現了(le)是(shi)以往(wang)產(chan)品300倍的抗(kang)幹(gan)擾(rao)功(gong)能6.4ms的高速(su)測量(liang)，作(zuo)為皮(pi)安表使(shi)用進(jin)行低(di)電(dian)容(rong)檢查(zha)，2×10^19 Ω顯示(shi)，0.1fA分(fen)辨(bian)率(lv)標配(pei)EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自(zi)行設(she)計的懸(xuan)浮式電(dian)路(lu)，能不(bu)受測量(liang)環(huan)境影(ying)響進(jin)行穩(wen)定(ding)測量(liang)，並且(qie)運(yun)用在產線(xian)中實(shi)現高速(su)測量(liang)。可實(shi)現絕緣(yuan)材(cai)料在高溫(wen)下電(dian)阻和電(dian)阻率(lv)試驗(yan)方法標準(zhun)設(she)計開發，可以直接(jie)測量(liang)高溫(wen)、真空(kong)、氣(qi)氛(fen)條(tiao)件(jian)下(xia)樣(yang)品的電(dian)阻和體電(dian)阻率(lv)、漏電(dian)流等隨溫度、時間變(bian)化(hua)的曲線(xian)，高溫(wen)絕緣(yuan)材(cai)料電(dian)阻率(lv)測試儀系(xi)統已(yi)經(jing)在航天航空(kong)傳(chuan)感(gan)器(qi)領(ling)域得(de)到(dao)很好的應用。

壹(yi)、主(zhu)要用途：適用於新材(cai)料評(ping)估(gu)的特(te)性(xing):

1、用於陶(tao)瓷元(yuan)件的絶縁(縁)劣化(hua)試驗(yan)

2、貼片電(dian)容(rong)的IR測量(liang)

3、MLCC（多層(ceng)陶(tao)瓷電(dian)容(rong)器(qi)）的絕緣(yuan)測量(liang)

4、光(guang)伏(fu)電(dian)池薄(bo)膜的絕緣(yuan)測量(liang)

5、噪音濾(lv)波(bo)器(qi)的絕緣(yuan)（高阻）測量(liang)

6、液晶(jing)設(she)備的絕緣(yuan)測量(liang)

7、塗層（塗料(liao)）的表面電(dian)阻率(lv)測量(liang)

8、外殼的帶電(dian)度的測量(liang)

9、二極管的微(wei)笑泄(xie)漏電(dian)流測量(liang)

10、光(guang)電(dian)耦(ou)合器(qi)的初級/次級絕(jue)緣(yuan)（高電(dian)阻）測量(liang)

11、打印(yin)機(ji)墨粉輥(gun)軸(zhou)的絕緣(yuan)測量(liang)

12、用於針(zhen)對(dui)半導體廠(chang)家(jia)的絕緣(yuan)密(mi)封件的評估(gu)試驗(yan)

13、用於組裝在貼片(pian)機(ji)、分(fen)選(xuan)機(ji)、自(zi)動(dong)化(hua)設(she)備中(zhong)

壹、產品特(te)點(dian)：

1、多種使(shi)用方法的超絕緣(yuan)計(ji),提供(gong)CNAS計量合格(ge)證(zheng)書

2、能夠(gou)作(zuo)為IR表、靜電(dian)計(ji)等高電(dian)阻計，以及(ji)作(zuo)為皮(pi)安表這種微(wei)小(xiao)電(dian)流計來(lai)使(shi)用，使(shi)用方法非(fei)常(chang)豐富的測量(liang)儀(yi)器(qi)。

2、能不(bu)受測量(liang)環(huan)境影(ying)響進(jin)行穩(wen)定(ding)測量(liang)，並且(qie)運(yun)用在產線(xian)中實(shi)現高速(su)測量(liang)2000V輸(shu)出(chu)

3、偏差1/60，抗(kang)噪音性(xing)能300倍, 通(tong)過(guo)全新的SM懸(xuan)浮式電(dian)路(lu)和三(san)軸(zhou)連(lian)接器(qi)的組合，大(da)幅(fu)提高抗(kang)噪音性(xing)能。

4、輸(shu)出(chu)電(dian)壓從0.1V到(dao)1000V，能夠(gou)以0.1V為單位(wei)任(ren)意(yi)設(she)置

5、6.4ms的高速(su)檢查, 高速(su)檢查和50mA的預充(chong)電(dian)功(gong)能的組合可以實(shi)現高產(chan)量的MLCC檢查(zha)。

5、高溫(wen)爐膛(tang)，耐(nai)高溫(wen)、抗(kang)氧(yang)化(hua)的測試夾(jia)具,提供(gong)CNAS計量合格(ge)證(zheng)書

二、主(zhu)要技術參(can)數：

1、體積電(dian)阻率(lv)和表面電(dian)阻率(lv)測試範圍(wei)10的4次方(fang)Ω.cm~10的15次方(fang)Ω.cm；

2、測試電(dian)壓：10V、50V、100V、250V、500V、1000V

3、電(dian)極(ji)材質(zhi)：600℃不(bu)氧(yang)化(hua)，三(san)電(dian)極(ji)尺寸(cun)為25mm（被保(bao)護(hu)電(dian)極(ji)直徑(jing)）、38mm（保護電(dian)極(ji)內徑）、50mm（保(bao)護電(dian)極(ji)外徑），樣(yang)品厚(hou)度在3mm以內(nei)；

3、測量(liang)精(jing)度：①電(dian)阻≤1010Ω時，精(jing)度±5％；電(dian)阻>1010Ω時，精(jing)度±10%；②電(dian)壓＜100V時，精(jing)度±5%，電(dian)壓≥100V時，精(jing)度±2％；

2、溫(wen)度範圍(wei);室溫(wen)~600℃；

3、控(kong)溫(wen)精(jing)度：溫度≤300℃，精(jing)度±1℃，溫度＞300℃，精(jing)度±2℃；控(kong)溫(wen)設(she)備需(xu)有(you)測溫(wen)口；（能夠(gou)通(tong)過(guo)計量CNAS認(ren)證(zheng)）

4、測試軟件：①可設(she)置連(lian)續升(sheng)溫(wen)測試，得到不同(tong)溫度下體積電(dian)阻率(lv)、表面電(dian)阻率(lv)具體(ti)值(zhi)，直接(jie)得到體積電(dian)阻率(lv)-溫(wen)度曲線(xian)、表面電(dian)阻率(lv)-溫(wen)度曲線(xian)；

5、溫度精(jing)度：可設(she)置在某壹(yi)具體(ti)溫(wen)度點(dian)測試，得到體積電(dian)阻率(lv)、表面電(dian)阻率(lv)在不同(tong)時間(jian)點(dian)的具體(ti)值(zhi)，直接(jie)得到體積電(dian)阻率(lv)-時(shi)間(jian)曲線(xian)、表面電(dian)阻率(lv)-時(shi)間(jian)曲線(xian)；

5、電(dian)腦要求(qiu)：windows10 系(xi)統，內存(cun)16G以上(shang)，CPU四(si)核；

6、升(sheng)溫(wen)速(su)率(lv)0℃/min~ 10℃/min（不(bu)做(zuo)計量要求(qiu)）；

7、能通(tong)氮氣，測試時在高溫(wen)和氮氣環(huan)境下(xia)測試；

9、符合GB/T31838、GB/T10581、GB/T1410標準(zhun)；

10、排氣口有(you)過(guo)濾(lv)裝(zhuang)置(zhi)；

HTRT-1000型(xing)導(dao)電(dian)材(cai)料高溫(wen)電(dian)阻率(lv)測試儀技術參(can)數

HTRT-1000型(xing)導(dao)電(dian)材(cai)料高溫(wen)電(dian)阻率(lv)測試儀

關鍵詞(ci)：電(dian)阻率(lv)，導(dao)電(dian)，合金(jin)高溫(wen)

電(dian)阻率(lv)表征技(ji)術是(shi)典(dian)型(xing)的金屬(shu)、合金(jin)相(xiang)變(bian)行為研(yan)究(jiu)手段，比如在先進(jin)鋼中的碳運動(dong)行(xing)為分(fen)析(xi)、或(huo)是(shi)合金(jin)析(xi)出(chu)動(dong)力學(xue)研究(jiu)、以及(ji)形(xing)狀(zhuang)記(ji)憶(yi)合金(jin)的預相(xiang)變(bian)行為表征的方面。電(dian)阻率(lv)對(dui)這些(xie)相(xiang)變(bian)行為則(ze)非(fei)常(chang)敏(min)感(gan)，應用電(dian)阻率(lv)手段研究(jiu)合金(jin)析(xi)出(chu)動(dong)力學(xue)行為也(ye)是(shi)非(fei)常(chang)重要的手段，是(shi)壹種可以對(dui)合金(jin)時(shi)效(xiao)析(xi)出過(guo)程全時(shi)段實(shi)現監(jian)控(kong)的手段。同時(shi)，通(tong)過(guo)電(dian)阻率(lv)的演(yan)化(hua)規(gui)律，可以清晰(xi)的判斷(duan)GP區(qu)、析(xi)出孕育時(shi)間(jian)、析出結束(shu)（析出(chu)量大）和熟化(hua)過(guo)程等不(bu)同(tong)的階(jie)段。對於所(suo)有(you)析出(chu)強(qiang)化(hua)合金(jin)，電(dian)阻率(lv)數(shu)據(ju)都(dou)可以提供(gong)重要的工藝(yi)指導(dao)。此(ci)外(wai)，預相變(bian)過(guo)程中出(chu)現納米疇並導(dao)致(zhi)模量(liang)軟(ruan)化(hua)和弛豫內(nei)耗(hao)行(xing)為，特(te)別是(shi)在相變(bian)初期，用電(dian)鏡觀(guan)察(cha)很難實(shi)現，而納(na)米疇的出現(xian)卻(que)表現為電(dian)阻率(lv)的升(sheng)高，因此(ci)通(tong)過(guo)電(dian)阻率(lv)演(yan)化(hua)可以清晰(xi)的表征納(na)米疇出現的溫度和疇面積的演(yan)化(hua)過(guo)程。

HTRT-1000本系(xi)統主(zhu)要由高精(jing)度高穩(wen)定(ding)度的小電(dian)流源、高精(jing)度AD采樣(yang)芯片(pian)以及(ji)嵌(qian)入式芯片(pian)，上(shang)位(wei)機(ji)智(zhi)能管(guan)理(li)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)、真空(kong)多段溫控(kong)加(jia)熱(re)設(she)備組(zu)成的金屬(shu)電(dian)阻率(lv)智(zhi)能存(cun)儲分(fen)析(xi)儀(yi)器(qi)。測試金屬樣(yang)品根(gen)據(ju)測試工藝要求(qiu)任意(yi)設(she)定(ding)加(jia)熱(re)、降(jiang)溫曲線(xian)，通(tong)過(guo)過(guo)程中電(dian)阻率(lv)的精(jing)密測量(liang)，完(wan)成對(dui)金屬內部(bu)結構(gou)變(bian)化(hua)如相變(bian)、碳化(hua)物、固(gu)溶度等特(te)性(xing)的分(fen)析(xi)。

壹(yi)、用途：

1、棒(bang)材(cai)、管材(cai)、異(yi)型(xing)材(cai)金屬導電(dian)性(xing)能測量(liang)

2、金(jin)屬材(cai)料研究

3、碳系(xi)導電(dian)材(cai)料的電(dian)阻率(lv)和電(dian)導(dao)率(lv)測量(liang)

4、金(jin)屬氧(yang)化(hua)物系(xi)導電(dian)材(cai)料的電(dian)阻率(lv)和電(dian)導(dao)率(lv)測量(liang)

5、石(shi)墨烯金屬材(cai)料(liao)的導電(dian)性(xing)能測試

二、器(qi)成套(tao)組成(cheng)： 

1.溫度控(kong)制箱：任(ren)意設(she)定(ding)多段加熱(re)、保(bao)溫(wen)曲線(xian)，加熱(re)範圍(wei):室溫(wen)至(zhi)1000℃。控(kong)溫(wen)精(jing)度±1oC。

2.真空(kong)加(jia)熱(re)爐(lu)管(guan)：采用石(shi)英(ying)真空(kong)管(guan)實(shi)現真空(kong)密(mi)閉狀(zhuang)態，達(da)到(dao)6*10-2Pa。

3.控(kong)制信號(hao)盒(he)：高精(jing)度的恒流源200uA-10mA,通(tong)過(guo)計算機(ji)通(tong)信控(kong)制實(shi)現連(lian)續可調（或(huo)定(ding)制），測量(liang)到(dao)1uΩ。

4.計算機(ji)：通(tong)信控(kong)制溫控(kong)儀(yi)加熱(re)曲線(xian)，實(shi)時接收當前溫(wen)度值並存(cun)儲顯示(shi)。結合溫(wen)度值顯示(shi)電(dian)阻率(lv)-溫度曲線(xian)。同時存(cun)儲過(guo)程的測試條(tiao)件(jian)信(xin)息(xi)，測試過(guo)程的數據(ju)。完(wan)成(cheng)數(shu)據(ju)庫的基本(ben)管(guan)理、查(zha)詢(xun)、打印(yin)等功(gong)能。

5.   低溫(wen)裝(zhuang)置(zhi)：低(di)溫(wen)實(shi)驗(yan)可延(yan)伸-150℃，完成高低(di)溫實(shi)驗(yan)功(gong)能。

6.   app遠程(cheng)監(jian)控(kong)：手機(ji)app完成(cheng)對(dui)實(shi)驗(yan)設(she)備主(zhu)要參(can)數的監(jian)控(kong)，不(bu)必守(shou)在爐子旁邊也能了(le)解(jie)實(shi)驗(yan)目前的狀(zhuang)態。 

7.適(shi)用於科研單位(wei)、高等院(yuan)校對金屬(shu)材(cai)料的導電(dian)性(xing)能、微(wei)結構(gou)變(bian)化(hua)、相變(bian)信息等測試。

三(san)、基本(ben)技(ji)術參(can)數

1、控(kong)溫(wen)範圍(wei)；-150 ℃-1000 ℃，精(jing)度：-150 ℃-1000 ℃，精(jing)度±1 ℃

2、測量(liang)範圍(wei)：電(dian)  阻：1×10-6～1×10-1 Ω   ， 分(fen)辨(bian)率(lv)：1×10-7Ω

電(dian)阻率(lv)：1×10-7～1×10-2 Ω-mm， 分(fen)辨(bian)率(lv)：1×10-8

3、 材料尺寸(cun)：200mm*5mm*1mm,500mm*5mm*1mm,1000mm*5mm*1mm

4、 四線(xian)探針(zhen)；0.5 mm-0.7mm   

5、夾(jia)具：針(zhen)對(dui)不同的樣(yang)品可以設(she)計不(bu)同的夾(jia)具

6、外形(xing)尺寸(cun)：主(zhu)   機(ji)  1300mm（長）×800 mm（寬(kuan)）×500mm（高）

7、凈   重：≤60kg