描(miao)述：FTTD-5000B型變(bian)溫鐵電測(ce)試(shi)儀是(shi)壹款(kuan)擴展靈活(huo)的(de)變(bian)溫鐵電測(ce)試(shi)系統(tong)，也是(shi)壹款(kuan)可替(ti)代德國(guo)aixACCT公司生產的TF Analyzer 2000鐵電分(fen)析(xi)儀的(de)國產鐵電材(cai)料性(xing)能測(ce)試設備(bei)，可(ke)廣(guang)泛(fan)地(di)應用(yong)於(yu)如各種(zhong)鐵電/壓電/熱(re)釋(shi)電薄(bo)膜、厚(hou)膜、體(ti)材(cai)料和(he)電子陶(tao)瓷、鐵電傳(chuan)感(gan)器(qi)/執行器(qi)/存(cun)儲(chu)器(qi)等(deng)領(ling)域的(de)研(yan)究(jiu)。

FTTD-5000B型(xing)變(bian)溫鐵電測(ce)試(shi)儀

關鍵詞(ci)：鐵電，電滯回(hui)線(xian)，脈(mai)沖，漏電，IV

FTTD-5000B型(xing)變(bian)溫鐵電測(ce)試(shi)儀是(shi)壹款(kuan)擴展靈活(huo)的(de)變(bian)溫鐵電測(ce)試(shi)系統(tong)，也是(shi)壹款(kuan)可替(ti)代德國(guo)aixACCT公司生產的TF Analyzer 2000鐵電分(fen)析(xi)儀的(de)國產鐵電材(cai)料性(xing)能測(ce)試設備(bei)，可(ke)廣(guang)泛(fan)地(di)應用(yong)於(yu)如各種(zhong)鐵電/壓電/熱(re)釋(shi)電薄(bo)膜、厚(hou)膜、體(ti)材(cai)料和(he)電子陶(tao)瓷、鐵電傳(chuan)感(gan)器(qi)/執行器(qi)/存(cun)儲(chu)器(qi)等(deng)領(ling)域的(de)研(yan)究(jiu)。

壹(yi)、產品(pin)主(zhu)要性(xing)能：

1、本(ben)測試(shi)系統(tong)由主(zhu)控器(qi)、高(gao)壓放(fang)大器(qi)、變(bian)溫綜(zong)合測(ce)試平臺(tai)（配鐵電測(ce)試(shi)盒）或(huo)高(gao)低(di)溫探針臺(tai)（配高(gao)壓探針）、計(ji)算(suan)機及系統(tong)軟(ruan)件部分組成。

2、主(zhu)控器(qi)集成(cheng)了可編程(cheng)波形發生器(qi)、內置(zhi)驅(qu)動(dong)電壓、電荷(he)積分器(qi)、可編程(cheng)放大器(qi)、模數轉換(huan)器(qi)、通訊總(zong)線(xian)等(deng)功(gong)能，

3、主(zhu)控器(qi)提供(gong)擴展外置(zhi)高(gao)壓放(fang)大器(qi)接(jie)口(kou)，可(ke)擴展±5 kV或±10 kV的(de)高(gao)壓放(fang)大器(qi)。

4、系統(tong)軟(ruan)件包括可(ke)視化(hua)數據采集(ji)和(he)管(guan)理功(gong)能，測(ce)試時，無(wu)需改(gai)變(bian)測(ce)試樣(yang)品(pin)的(de)連接(jie)，即可實(shi)現(xian)滯回(hui)，脈沖(chong)，漏電，IV等(deng)性(xing)能測(ce)試。

5、本(ben)測試(shi)系統(tong)鐵電性(xing)能測(ce)試采用(yong)基(ji)於(yu)虛地(di)模式(shi)的測(ce)量(liang)方(fang)法，與傳統(tong)的(de)Sawyer- Tower模式(shi)相比(bi)，此(ci)電路(lu)取(qu)消(xiao)了外接(jie)電容(rong)，可(ke)減小(xiao)寄(ji)生(sheng)元(yuan)件的影響(xiang)。

6、此(ci)電路(lu)的(de)測試(shi)精(jing)度僅取(qu)決於(yu)積分(fen)器(qi)積分(fen)電容(rong)的(de)精(jing)度，減少(shao)了對測試(shi)的(de)影響(xiang)環節，容易定標和(he)校(xiao)準(zhun)，並且(qie)能實(shi)現(xian)較(jiao)高(gao)的測量準(zhun)確度。

二(er)、鐵電參(can)數測試(shi)主(zhu)要性(xing)能指(zhi)標：

1、 外(wai)接(jie)5 kV高(gao)壓放(fang)大器(qi)（可擴展至10 kV）（國(guo)產、進口(kou)均(jun)適(shi)用(yong)）；

2、. 動(dong)態(tai)電滯回(hui)線(xian)測(ce)試頻率範圍0.01 Hz ～ 5 kHz；

3、 最大電荷(he)解析(xi)度：10 mC（可擴展）；

4、 疲(pi)勞測試頻率300 kHz（振幅(fu)10 Vpp，負(fu)載(zai)電容(rong)1 nF）；

5、 漏(lou)電流(liu)測(ce)量範圍 1 pA ～ 20 mA（可(ke)擴展），分辨(bian)率0.1 pA；

6、 配有(you)高(gao)壓擊(ji)穿保(bao)護模(mo)塊(kuai)；

7、溫度範圍：-160℃～260℃。

本(ben)測試(shi)系統(tong)鐵電性(xing)能測(ce)試采用(yong)基(ji)於(yu)虛地(di)模式(shi)的測(ce)量(liang)方(fang)法，與傳統(tong)的(de)Sawyer- Tower模式(shi)相比(bi)，此(ci)電路(lu)取(qu)消(xiao)了外接(jie)電容(rong)，可(ke)減小(xiao)寄(ji)生(sheng)元(yuan)件的影響(xiang)。此(ci)電路(lu)的(de)測試(shi)精(jing)度僅取(qu)決於(yu)積分(fen)器(qi)積分(fen)電容(rong)的(de)精(jing)度，減少(shao)了對測試(shi)的(de)影響(xiang)環節，容易定標和(he)校(xiao)準(zhun)，並且(qie)能實(shi)現(xian)較(jiao)高(gao)的測量準(zhun)確度。

變(bian)溫鐵電測(ce)試(shi)系統(tong)采用(yong)模(mo)塊(kuai)化(hua)設計(ji)，不(bu)同(tong)的(de)模塊(kuai)對應不(bu)同(tong)的(de)電特(te)性(xing)測(ce)量。測量(liang)功(gong)能如下，可(ke)按需選(xuan)擇：

動(dong)態(tai)電滯回(hui)線(xian)DHM

靜(jing)態(tai)電滯回(hui)線(xian)SHM

I-V特(te)性(xing)

脈(mai)沖PUND

疲(pi)勞Fatigue

電擊(ji)穿強(qiang)度BDM    

漏(lou)電流(liu)LM

電流(liu)-偏壓

保(bao)持力(li)RM

印(yin)跡(ji)印痕IM

變(bian)溫測試(shi)THM

可(ke)選的(de)模塊(kuai)：

POM 模(mo)塊(kuai)實(shi)現(xian)極(ji)化(hua)測量(liang)功能

CVM模(mo)塊(kuai)實(shi)現(xian)小(xiao)信號電容(rong)測(ce)試，獲(huo)得C-V曲線(xian)

PZM模(mo)塊(kuai)實(shi)現(xian)壓電特(te)性(xing)測(ce)試

DPM模(mo)塊(kuai)測試(shi)介(jie)電性(xing)能

RTM模(mo)塊(kuai)測試(shi)電阻(zu)/電阻(zu)率性(xing)能

CCDM模(mo)塊(kuai)實(shi)現(xian)電容(rong)充放電測(ce)試(shi)。